一种兼容大小电流的同轴SLD老化监测系统的制作方法

本申请涉及超辐射发光二极管制造，尤其涉及一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统。

背景技术：

1、超辐射发光二极管(sld)是一种半导体光电器件，具有输出功率高，光谱宽度宽等特点，适合用于光学相干层析(oct)成像系统和光纤陀螺仪(fog)等，在工业、医疗和军工上得到广泛应用，小体积同轴尾纤封装的sld受到大家青睐。

2、同轴尾纤封装sld虽然优势明显，但是由于体积小，会导致散热效果差，部分sld器件在一定使用时间内会出现功率衰减，性能不稳定情况。为确保同轴sld的性能稳定，需要对同轴sld进行带电高温老化筛选，一个是剔除有潜在风险的器件，另一个是带电高温老化可以让器件加速度过不稳定期，使得出厂的器件均能工作在一个稳定状态下。

3、针对市场不同的应用场景，同轴sld的指标和驱动电流也会各不相同，小的驱动电流几十毫安，大的驱动电流几安，这就要求我们的老化驱动源能提供大小不同的驱动电流。小的驱动电流输出比较容易实现，大的驱动电流输出对驱动三极管要求高，同时需要辅助散热，防止高温损坏，这样导致驱动源体积较大，不便于多工位批量老化，同时大电流驱动源驱动如果兼容小电流器件老化，一个是驱动电流精度很难保证，另一个很容易在设置电流时过冲，导致器件损坏。一般都是大小不同的器件分开老化，各采用一套老化系统，这样占用空间大，利用率不高，成本昂贵。

技术实现思路

1、本申请提供了一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，解决了目前针对不同规格的同轴sld进行老化测试时，老化驱动源无法同时兼容大小驱动电流等问题。

2、本申请提供了一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，包括：

3、多工位驱动台，所述多工位驱动台上安装有若干个输出不同大小驱动电流的老化驱动源；

4、高温试验箱，所述高温试验箱内设置有若干个多工位老化测试装置，每个所述多工位老化测试装置分别与对应的老化驱动源通过老化线电连接；

5、所述老化驱动源包括若干个输出小驱动电流的恒流驱动模块，每个恒流驱动模块分别驱动一个多工位老化测试装置上的一个sld，或者多个恒流驱动模块合并后驱动一个多工位老化测试装置上的一个sld；

6、数据采集台，包括计算机、数据采集箱和若干个光电探测箱，每个所述光电探测箱分别与对应的多工位老化测试装置连接，所述数据采集箱分别与计算机和若干个光电探测箱电连接。

7、本申请提供的技术方案中，通过将老化驱动源设计为多个独立的恒流驱动模块，当需要较小的老化电流时，可直接通过每个单独的恒流驱动模块对单个sld进行供电；当需要较大的老化电流时，可以将多个恒流驱动模块的输出合并后对sld进行供电；只需根据不同的老化电流区间，设计不同的老化驱动源输出电路和对应的多工位老化测试装置即可，能同时兼容大小电流的同轴sld老化测试；且由于每个恒流驱动模块输出电流较小，无需额外散热，减小了老化驱动源的体积。

8、在某些实施方式中，所述恒流驱动模块输出电流在0～200ma范围内可调。

9、在某些实施方式中，所述多工位老化测试装置包括pcb板，所述pcb板上设有电流输入接口以及与电流输入接口电连接的多个同轴测试座，所述同轴测试座用于固定并驱动sld；电流输入接口将老化驱动源输出的多路驱动电流分别接入多个同轴测试座内对多个sld进行供电；测试时将sld的引脚插入同轴测试座内，即可通电对sld进行测试。

10、在某些实施方式中，所述pcb板上安装有散热块，所述散热块的底面设有用于避让同轴测试座的避让槽，所述散热块的顶面开设有若干个用于穿过sld的通孔，所述通孔贯穿避让槽的顶面；通过在散热块的底面开设避让槽，既可以方便同轴测试座的安装，还可以增加散热块的散热面积，可以避免热量堆积损坏sld。

11、在某些实施方式中，所述同轴测试座与光电探测箱通过能量光纤连接，sld发出的光通过能量光纤传递给光电探测箱；通过能量光纤将同轴sld输出的光引至高温试验箱外部进行采集，可以避免高温环境对监测结果的影响，从而提升sld老化监测结果的准确性。

12、在某些实施方式中，所述散热块的顶面安装有若干个光纤固定座，用于安装能量光纤的耦合接头，每个所述光纤固定座分别与一个对应的sld同轴设置；通过在散热块的顶面安装若干个光纤固定座，可以实现每个sld光功率的独立监测，避免多个sld之间出现干扰。

13、在某些实施方式中，所述光纤固定座包括光纤法兰，所述光纤法兰顶部的螺纹接头与能量光纤的耦合接头同轴连接，所述光纤法兰的通光孔底部设有限位卡槽，所述限位卡槽的内径与sld的管座外径相配，所述限位卡槽刚好可以卡住sld，从而进一步保证了sld与光纤固定座的同轴度，从而提高了监测精度。

14、在某些实施方式中，所述能量光纤采用大孔径的多模光纤，可以将sld发出的光有效地耦合进光纤，提高了光功率监测的准确性。

15、在某些实施方式中，每个所述光电探测箱内设有多路光电探测器，分别用于对一个多工位老化测试装置上的多个sld进行光功率监测，可实现多路光功率监测。

16、在某些实施方式中，所述数据采集箱内设有单片机以及与单片机连接的a/d转换模块、电平转换模块和模拟开关；所述模拟开关与多路光电探测器连接，用于快速扫描采集各路光电探测器光电转换后的模拟信号；所述a/d转换模块用于将采集的模拟信号转换为数字信号并传输给单片机；所述电平转换模块通过rs232接口与计算机通讯连接。

17、上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

技术特征：

1.一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，其特征在于，所述恒流驱动模块(6)输出电流在0～200ma范围内可调。

3.根据权利要求1所述的一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，其特征在于，所述多工位老化测试装置(4)包括pcb板(12)，所述pcb板(12)上设有电流输入接口(13)以及与电流输入接口(13)电连接的多个同轴测试座(14)，所述同轴测试座(14)用于固定并驱动sld(7)。

4.根据权利要求3所述的一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，其特征在于，所述pcb板(12)上安装有散热块(15)，所述散热块(15)的底面设有用于避让同轴测试座(14)的避让槽(16)，所述散热块(15)的顶面开设有若干个用于穿过sld(7)的通孔(17)，所述通孔(17)贯穿避让槽(16)的顶面。

5.根据权利要求4所述的一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，其特征在于，所述同轴测试座(14)与光电探测箱(11)通过能量光纤(18)连接，sld(7)发出的光通过能量光纤(18)传递给光电探测箱(11)。

6.根据权利要求5所述的一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，其特征在于，所述散热块(15)的顶面安装有若干个光纤固定座(19)，用于安装能量光纤(18)的耦合接头(20)，每个所述光纤固定座(19)分别与一个对应的sld(7)同轴设置。

7.根据权利要求6所述的一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，其特征在于，所述光纤固定座(19)包括光纤法兰(21)，所述光纤法兰(21)顶部的螺纹接头(22)与能量光纤(18)的耦合接头(20)同轴连接，所述光纤法兰(21)的通光孔(23)底部设有限位卡槽(24)，所述限位卡槽(24)的内径与sld(7)的管座外径相配。

8.根据权利要求5所述的一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，其特征在于，所述能量光纤(18)采用大孔径的多模光纤。

9.根据权利要求1所述的一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，其特征在于，每个所述光电探测箱(11)内设有多路光电探测器(25)，分别用于对一个多工位老化测试装置(4)上的多个sld(7)进行光功率监测。

10.根据权利要求9所述的一种兼容大小电流的同轴sld老化监测系统，其特征在于，所述数据采集箱(10)内设有单片机(26)以及与单片机(26)连接的a/d转换模块(27)、电平转换模块(28)和模拟开关(29)；所述模拟开关(29)与多路光电探测器(25)连接，用于快速扫描采集各路光电探测器(25)光电转换后的模拟信号；所述a/d转换模块(27)用于将采集的模拟信号转换为数字信号并传输给单片机(26)；所述电平转换模块(28)通过rs232接口与计算机(9)通讯连接。

技术总结本发明提供了一种兼容大小电流的同轴SLD老化监测系统，包括：多工位驱动台，其上安装有若干个输出不同大小驱动电流的老化驱动源；高温试验箱，其内设置有若干个多工位老化测试装置，每个多工位老化测试装置分别与对应的老化驱动源通过老化线电连接；数据采集台，包括计算机、数据采集箱和若干个光电探测箱，每个光电探测箱分别与对应的多工位老化测试装置连接，数据采集箱分别与计算机和若干个光电探测箱电连接。本发明通过将老化驱动源设计为多个独立的恒流驱动模块，可直接通过每个单独的恒流驱动模块对单个SLD进行小电流驱动，也可以将多个恒流驱动模块的输出合并后对SLD进行大电流驱动，能同时兼容大小电流的同轴SLD老化测试。技术研发人员：何威威,李同宁,游毓麒受保护的技术使用者：武汉英飞华科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/10/10