用于RFID芯片的CP测试的系统、方法及装置与流程

本申请涉及集成电路测试，例如涉及一种用于rfid芯片的cp测试的系统、方法及装置。

背景技术：

1、集成电路的测试依然是半导体行业关注的重点，而cp（chip probing，芯片探针测试）测试则是芯片测试的第一道关卡，cp测试的可靠性与效率直接关乎芯片的整个生命周期。作为一种仅能依靠rf（radio frequency，射频）通信的rfid（radio frequencyidentification chip，射频识别芯片）芯片，rfid芯片的cp测试与大部分智能卡芯片的测试不同，由于rfid芯片不具备数字接口，因而其与测试机台的通信变得复杂繁琐。

2、相关技术中，对于rfid芯片的测试主要通过搭建rf的调制解调电路实现与测试机台的通信。

3、在实现本公开实施例的过程中，发现相关技术中至少存在如下问题：

4、相关技术中，通过测试机台实现rf电路的调制解调以及编解码，对于测试机台的资源提出了更高的要求，会影响cp测试的稳定性。

5、需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

1、为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键／重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。

2、本公开实施例提供了一种用于rfid芯片的cp测试的系统、方法及装置，以提高rfid芯片的cp测试的稳定性。

3、在一些实施例中，用于rfid芯片的cp测试的系统包括：cp测试机台；nfc（nearfield communication，近场通信）芯片，与cp测试机台连接，用于实现cp测试机台与待测rfid芯片的rf通信；cp测试电路模块，分别与cp测试机台、nfc芯片和待测rfid芯片连接，用于对待测rfid芯片进行cp测试。

4、可选地，cp测试电路模块包括：rf接收与发送电路，与nfc芯片连接，用于接收和发送rf信号；电容测试电路，与cp测试机台连接，用于进行电容测试；选通电路，分别与rf接收与发送电路、电容测试电路和待测rfid芯片连接，用于控制待测rfid芯片与rf接收与发送电路或电容测试电路连接；电压跟随电路，分别与cp测试机台和rfid待测芯片连接，用于进行电压测试。

5、可选地，rf接收与发送电路，包括：选频网络电路，与nfc芯片连接；变压器，分别与选频网络电路和选通电路连接。

6、可选地，cp测试机台安装有cp测试pattern程序；cp测试机台能够按照cp测试pattern程序执行cp测试流程。

7、可选地，用于rfid芯片的cp测试的系统还包括：cp测试探卡，与cp测试机台连接；其中，cp测试探卡上支持安装多个nfc芯片和多个cp测试电路模块，并与多个待测rfid芯片连接；每个nfc芯片、cp测试电路模块和待测rfid芯片一一对应连接，实现多个待测rfid芯片的dut（device under test，待测试设备）并测。

8、在一些实施例中，用于rfid芯片的cp测试的方法应用于如上述的用于rfid芯片的cp测试的系统，方法包括：根据cp测试pattern程序，通过nfc芯片向待测rfid芯片发送cp测试指令；根据cp测试指令，通过cp测试电路模块对待测rfid芯片进行cp测试；获取cp测试电路模块返回的cp测试结果。

9、可选地，通过cp测试电路模块对待测rfid芯片进行cp测试，包括：通过电源通道为电压跟随电路供电；通过电压跟随电路采集待测rfid芯片输出的电压信号值；通过cp测试pattern程序对采集到的电压信号值进行验证处理。

10、可选地，通过cp测试电路模块对待测rfid芯片进行cp测试，包括：在cp测试pattern程序执行电容测试的情况下，向cp测试电路模块下发选通电路使能信号，使选通电路控制电容测试电路与待测rfid芯片连接；获取cp测试电路模块返回的应答信号；在正确应答的情况下，通过电容测试电路对待测rfid芯片进行cp测试。

11、可选地，通过电容测试电路对待测rfid芯片进行cp测试，包括：向电容测试电路发送方波信号；采集电容测试电路返回的电容测试数据；通过cp测试pattern程序对电容测试数据进行验证处理。

12、在一些实施例中，用于rfid芯片的cp测试的装置包括处理器和存储有程序指令的存储器，处理器被配置为在运行所述程序指令时，执行如上述的用于rfid芯片的cp测试的方法。

13、本公开实施例提供的用于rfid芯片的cp测试的系统、方法及装置，可以实现以下技术效果：

14、本公开实施例提供的用于rfid芯片的cp测试的系统包括：cp测试机台、nfc芯片和cp测试电路模块。nfc芯片与cp测试机台连接，用于实现cp测试机台与待测rfid芯片的rf通信；cp测试电路模块分别与cp测试机台、nfc芯片和待测rfid芯片连接，用于对待测rfid芯片进行cp测试。在cp测试环境中增加了用于处理rf通信的nfc芯片，将nfc芯片作为主控芯片，cp测试机台作为数字通信的控制中心，不仅降低了对于cp测试机台的资源要求，还简化了cp测试电路，进而提高了rfid芯片的cp测试的稳定性。此外，用于cp测试电路设计的简化和优化，减少了待测设备支架的射频信号串扰，提高了测试的准确性和可靠性。

15、以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。

技术特征：

1.一种用于rfid芯片的cp测试的系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，cp测试电路模块包括：

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，rf接收与发送电路包括：

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，cp测试机台安装有cp测试pattern程序；cp测试机台能够按照cp测试pattern程序执行cp测试流程。

5.根据权利要求1至4任一项所述的系统，其特征在于，还包括：

6.一种用于rfid芯片的cp测试的方法，其特征在于，应用于如权利要求1至5任一项所述的用于rfid芯片的cp测试的系统，方法包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，cp测试电路模块包括电压跟随电路，电压跟随电路分别与cp测试机台和rfid待测芯片连接；通过cp测试电路模块对待测rfid芯片进行cp测试，包括：

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，cp测试电路模块包括电容测试电路和选通电路，电容测试电路与cp测试机台连接，选通电路分别与电容测试电路和待测rfid芯片连接；通过cp测试电路模块对待测rfid芯片进行cp测试，包括：

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，通过电容测试电路对待测rfid芯片进行cp测试，包括：

10.一种用于rfid芯片的cp测试的装置，包括处理器和存储有程序指令的存储器，其特征在于，所述处理器被配置为在运行所述程序指令时，执行如权利要求6至9任一项所述的用于rfid芯片的cp测试的方法。

技术总结本申请涉及集成电路测试技术领域，公开一种用于RFID芯片的CP测试的系统、方法及装置，其中，系统包括：CP测试机台、NFC芯片和CP测试电路模块。NFC芯片与CP测试机台连接，用于实现CP测试机台与待测RFID芯片的RF通信。CP测试电路模块分别与CP测试机台、NFC芯片和待测RFID芯片连接，用于对待测RFID芯片进行CP测试。在CP测试环境中增加了用于处理RF通信的NFC芯片，将NFC芯片作为主控芯片，CP测试机台作为数字通信的控制中心，不仅降低了对于CP测试机台的资源要求，还简化了CP测试电路，进而提高了RFID芯片的CP测试的稳定性。技术研发人员：蒲占文受保护的技术使用者：紫光同芯微电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/10/10