荧光检查装置的制作方法

本发明涉及向led元件照射激励光，基于从该led元件放射的荧光所发出的光进行检查的荧光检查装置。例如，涉及进行在基板上沿纵横方向以规定间距配置的发光色不同的led元件的好坏与否检查的荧光检查装置。

背景技术：

1、荧光灯、等离子显示器的背面板、led芯片等具有荧光(luminescence)特性的材料(即，荧光发光体)、led照明或有机el等发光体等(即，狭义的发光体)、与白色背光源组合配置的液晶用滤色器等(即，广义的发光体)的发光波长与这些产品的品质、性能相关，使用分光型的二维亮度计等进行波长测量(例如，专利文献1)。

2、另外，关于发光色不同的多个led(例如，红色led和绿色led)，作为检测各个发光色的led的异常的方法，进行如下检查：使用两个系统的滤波器和传感器，首先计算检测出的亮度值的比率，之后将该比率与判定用阈值进行比较(例如，专利文献2)。

3、现有技术文献

4、专利文献

5、专利文献1：日本特开2006-177812号公报

6、专利文献2：日本特开2002-195882号公报

技术实现思路

1、发明所要解决的课题

2、但是，在专利文献1、专利文献2那样的方法中，需要逐个对发光体进行测量、检查。因此，在一张基板上排列有多个发光体的情况下，测量、检查所花费的时间多，吞吐率降低。

3、因此，本发明的目的在于提供一种即使在一张基板上排列有多个发光色不同的led元件，也能够以高吞吐率进行检查的装置。

4、用于解决课题的手段

5、为了解决以上的课题，本发明所涉及的一个方式为，

6、一种荧光检查装置，其使配置于基板上的led元件进行荧光发光而进行检查，荧光检查装置包括：

7、基板保持部，其保持基板；

8、激励光照射部，其向led元件照射激励光；

9、摄像部，其拍摄检查图像，该检查图像包含从被照射了激励光的led元件放射的荧光波长的光；

10、相对移动部，其使基板保持部相对于激励光照射部和摄像部相对地移动；

11、检查部，其基于检查图像进行led元件的检查；以及

12、控制部，其控制激励光照射部、摄像部及相对移动部，

13、激励光照射部具备：

14、第一光源，其发出第一波长的光作为激励光；以及

15、第二光源，其发出波长比第一波长长的第二波长的光作为激励光，

16、摄像部包括：

17、第一摄像机，其拍摄包含从被照射了第一波长的光的led元件放射的荧光波长的光的检查图像；以及

18、第二摄像机，其拍摄包含从被照射了第二波长的光的led元件放射的荧光波长的光的检查图像，

19、控制部使第一摄像机的拍摄与第一光源的发光同步，并且使第二摄像机的拍摄与第二光源的发光同步，并且一边使相对移动部在一个方向上相对移动，一边将第一摄像机与第二摄像机的拍摄定时错开而交替地进行拍摄。

20、根据这样的方式，在进行1列的相对移动的期间，交替地照射不同波长的激励光而使led元件进行荧光发光，并且能够交替地拍摄波段不同的两种检查图像。

21、发明效果

22、即使在一张基板上排列有多个发光色不同的led元件，也能够以高吞吐率进行检查。

技术特征：

1.一种荧光检查装置，其使配置于基板上的led元件进行荧光发光而进行检查，其特征在于，所述荧光检查装置包括：

2.根据权利要求1所述的荧光检查装置，其特征在于，

3.根据权利要求1或2所述的荧光检查装置，其特征在于，

技术总结即使在一张基板上排列有多个发光色不同的LED元件，也能够以高吞吐率进行检查。具体而言，一种荧光检查装置，其使配置于基板上的LED元件进行荧光发光而进行检查，荧光检查装置具备基板保持部、激励光照射部、摄像部、相对移动部、检查部、控制部，激励光照射部具备第一光源及第二光源，摄像部包括：第一摄像机，其拍摄包含从被照射了第一波长的光的LED元件放射的荧光波长的光的检查图像；以及第二摄像机，其拍摄包含从被照射了第二波长的光的LED元件放射的荧光波长的光的检查图像，控制部使第一摄像机的拍摄与第一光源的发光同步，并且使第二摄像机的拍摄与第二光源的发光同步，并且一边使相对移动部在一个方向上相对移动，一边将第一摄像机与第二摄像机的拍摄定时错开而交替地进行拍摄。技术研发人员：村田浩之受保护的技术使用者：东丽工程株式会社技术研发日：技术公布日：2024/10/17