具有电阻器-电容器充电电路的源测量单元的制作方法

本申请案大体上涉及自动测试设备(ate)，且更具体来说，涉及改进源测量单元(smu)的强制电压模式的稳定时间。

背景技术：

1、ate用于对诸如集成电路(ic)或片上系统(soc)的一或多个受测试装置(dut)执行自动排序测试。在一些实例中，ate用于执行晶片测试，或用于测试包装零件。在一些实例中，ate用于测试航空电子设备，或用于测试汽车或工业系统的电子模块。安全或其它准则可能要求在零件部署之前进行ate测试。因此，在零件安装之前期望或需要ate测试的情况下，可针对零件完成的ate测试的速率限制了零件的制造产出量。在一些实例中，响应于dut设计，将待施加的测试信号的序列以及待测量的对应dut内部和输出信号编程到ate中。

技术实现思路

1、在所描述实例中，一种系统包含电阻器、耦合到电阻器以形成rc电路的电容器，和充电电路。充电电路耦合到电阻器和电容器。充电电路配置成确定电阻器两端的电压，且将电流提供到电容器以增加电容器的充电或放电速率。电流的量值和极性响应于电阻器两端的电压。在一些实例中，rc电路配置成补偿作为ate的部分的参数测量单元、源测量单元或装置电源的负载电容。

技术特征：

1.一种集成电路ic，其包括：

2.根据权利要求1所述的ic，

3.根据权利要求1所述的ic，

4.根据权利要求1所述的ic，

5.根据权利要求1所述的ic，

6.根据权利要求1所述的ic，其进一步包括：

7.根据权利要求1所述的ic，其中所述充电电路配置成在所述ic的稳态操作期间不将电流提供到所述电阻器的所述第一端子。

8.一种集成电路ic，其包括：

9.根据权利要求8所述的ic，

10.根据权利要求9所述的ic，其进一步包括跨导放大器，所述跨导放大器包含第一输入端、第二输入端、第一输出端和第二输出端，所述跨导放大器的所述第一输入端耦合到所述电阻器的所述第一端子，且所述跨导放大器的所述第二输入端耦合到所述电阻器的所述第二端子；

11.根据权利要求8所述的ic，其进一步包括印刷电路板pcb，所述电容器和所述ic耦合到所述pcb，且所述电容器耦合到所述电阻器。

12.一种操作rc电路的方法，其包括：

13.根据权利要求12所述的方法，其进一步包括响应于所述所测量电压和负一乘以所述所测量电压均不大于所述阈值电压而将零附加电流提供到所述电容器的所述第一端子。

14.根据权利要求12所述的方法，其中所述rc电路的至少一部分为作为参数测量单元、供应测量单元或装置电源的自动测试设备ate的部分；

15.一种系统，其包括：

16.根据权利要求15所述的系统，其进一步包含运算放大器；

17.根据权利要求16所述的系统，其中所述运算放大器配置成调节所述负载两端的电压。

18.根据权利要求16所述的系统，其中所述运算放大器为测试电路的部分，所述测试电路配置成将信号提供到所述负载且测量所述负载的响应信号，且其中所述负载为受测试设计。

19.根据权利要求15所述的系统，其进一步包括：

20.根据权利要求19所述的系统，

技术总结本申请涉及一种具有电阻器‑电容器充电电路的源测量单元。在所描述实例中，系统包含电阻器(312)、耦合到所述电阻器(312)以形成RC电路的电容器(308)，和充电电路(318)。所述充电电路(318)耦合到所述电阻器(312)和所述电容器(308)。所述充电电路(318)配置成确定所述电阻器(312)两端的电压，且将电流提供到所述电容器(308)以增加所述电容器(308)的充电或放电速率。所述电流的量值和极性响应于所述电阻器(312)两端的所述电压。在一些实例中，所述RC电路配置成补偿作为自动测试设备的部分的参数测量单元、源测量单元或装置电源的负载电容。技术研发人员：拉贾韦吕·西纳卡兰受保护的技术使用者：德州仪器公司技术研发日：技术公布日：2024/10/17