一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测设备的制作方法

本申请涉及塑料制品检测，尤其涉及一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测设备。

背景技术：

1、超分辨率成像是一种通过突破光学衍射极限来实现超分辨率成像的技术，能够从低分辨率的图像中恢复出高质量的图像，从而得到清晰、细致的图像。因此，基于超分辨率成像对塑料制品进行微观缺陷检测，相比于传统缺陷检测方法，能够显著提高图像的分辨率和清晰度，使得塑料制品表面的微观缺陷能够被更准确地捕捉和识别，从而更有效地检测出微小的缺陷。

2、目前，现有基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测设备，存在设备检测参数与塑料制品表面缺陷特征的适配度较低，导致表面缺陷特征的超分辨率成像质量较差，造成表面微观缺陷特征识别的精度和准确性较差的技术问题。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测设备，用以解决现有基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测设备，存在设备检测参数与塑料制品表面缺陷特征的适配度较低，导致表面缺陷特征的超分辨率成像质量较差，造成表面微观缺陷特征识别的精度和准确性较差的技术问题。

2、鉴于上述问题，本申请提供了一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测设备。

3、第一方面，本申请还提供了一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测设备，用于执行如第一方面所述的一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测方法，其中，所述设备包括结构光照明单元、显微成像单元、自注意调控单元，包括：特征获取模块，用于获取塑料制品的待检测面特征，基于所述待检测面特征生成初始检测配置参数；响应模块，用于当塑料制品定位完成后，以初始检测配置参数控制结构光照明单元进行待检测面的光源照射；成像模块，用于通过显微成像单元进行光源接收，建立初始成像；调控模块，用于调用所述自注意调控单元，执行初始成像的成像检测，生成自注意调控结果，其中，所述自注意调控单元在进行检测前基于所述待检测面特征初始化；自适应重构模块，用于基于自注意调控结果重构检测配置参数，根据重构的检测配置参数控制结构光照明单元、显微成像单元重新进行超分辨率成像，生成成像结果；缺陷检出模块，用于接收成像结果，执行缺陷检测，根据缺陷检测结果报出缺陷异常。

4、第二方面，本申请提供了一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测方法，所述方法通过一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测设备实现，所述设备包括结构光照明单元、显微成像单元、自注意调控单元，其中，所述方法包括：获取塑料制品的待检测面特征，基于所述待检测面特征生成初始检测配置参数；当塑料制品定位完成后，以初始检测配置参数控制结构光照明单元进行待检测面的光源照射；通过显微成像单元进行光源接收，建立初始成像；调用所述自注意调控单元，执行初始成像的成像检测，生成自注意调控结果，其中，所述自注意调控单元在进行检测前基于所述待检测面特征初始化；基于自注意调控结果重构检测配置参数，根据重构的检测配置参数控制结构光照明单元、显微成像单元重新进行超分辨率成像，生成成像结果；接收成像结果，执行缺陷检测，根据缺陷检测结果报出缺陷异常。

5、本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

6、通过获取塑料制品的待检测面特征，基于所述待检测面特征生成初始检测配置参数；当塑料制品定位完成后，以初始检测配置参数控制结构光照明单元进行待检测面的光源照射；通过显微成像单元进行光源接收，建立初始成像；调用所述自注意调控单元，执行初始成像的成像检测，生成自注意调控结果，其中，所述自注意调控单元在进行检测前基于所述待检测面特征初始化；基于自注意调控结果重构检测配置参数，根据重构的检测配置参数控制结构光照明单元、显微成像单元重新进行超分辨率成像，生成成像结果；接收成像结果，执行缺陷检测，根据缺陷检测结果报出缺陷异常。也就是说，通过采集塑料制品的待检测面特征，基于待检测面特征配置初始检测参数；接着根据初始检测参数调用结构光照明单元和显微成像单元进行成像，得到初始成像结果；然后通过自注意调控单元对初始成像结果进行成像质量检测，得到自注意调控结果；进一步基于自注意调控结果对检测参数进行优化调整，重构检测配置参数，可以提高设备检测参数与塑料制品表面缺陷特征的适配度，并基于重构检测配置参数对待检测面重新进行超分辨率成像，生成成像结果；最后对成像结果进行缺陷检测，确定缺陷异常结果。可以提高设备检测参数设置的准确性，从而提高塑料制品表面缺陷特征的超分辨率成像质量，实现准确识别表面缺陷特征的技术目标，达到提高塑料制品微观缺陷检测精度和检测质量的技术效果。

7、上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本申请的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本申请的范围。本申请的其他特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

技术特征：

1.一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测设备，所述设备包括结构光照明单元、显微成像单元、自注意调控单元，其特征在于，所述设备包括：

2.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述调控模块还用于：

3.如权利要求2所述的设备，其特征在于，所述调控模块还用于：

4.如权利要求3所述的设备，其特征在于，所述自适应重构模块还用于：

5.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述缺陷检出模块还用于：

6.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备还包括优化模块，所述优化模块用于：

7.如权利要求6所述的设备，其特征在于，所述优化模块还用于：

8.一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测方法，其特征在于，用于实施权利要求1至7中任意一项所述设备的步骤，所述设备包括结构光照明单元、显微成像单元、自注意调控单元，所述方法包括：

技术总结本申请提供了一种基于超分辨率成像的塑料制品微观缺陷检测设备，涉及塑料制品检测技术领域，该设备包括：特征获取模块，用于生成初始检测配置参数；成像模块，用于通过显微成像单元建立初始成像；调控模块，用于调用自注意调控单元执行初始成像检测；自适应重构模块，用于基于自注意调控结果重构检测配置参数，重新进行超分辨率成像，生成成像结果；缺陷检出模块，用于执行缺陷检测。通过本申请可以解决由于设备检测参数与塑料制品表面缺陷特征的适配度较低，导致表面缺陷特征的超分辨率成像质量较差，造成微观缺陷特征识别的精度和准确性较差的技术问题，可以提高缺陷特征的超分辨率成像质量，达到提高微观缺陷检测精度和检测质量的效果。技术研发人员：季平受保护的技术使用者：南通思泽塑业有限公司技术研发日：技术公布日：2024/11/4