大尺寸外径千分尺测微头专用检具的制作方法

本发明涉及到测量，具体涉及到一种大尺寸外径千分尺测微头专用检具。

背景技术：

1、大尺寸外径千分尺是利用螺旋副原理，对尺架上两测量面间分隔的距离进行测量的外尺寸测量器具。测微头的示值误差是大尺寸外径千分尺的一项重要计量特性，大尺寸外径千分尺测微头有示值范围（0~25）mm和示值范围（0~50）mm两种，在校准大尺寸外径千分尺测微头的示值误差时，需将专用检具安装在大尺寸外径千分尺接近测微螺杆端的尺架上，用一组量块进行测量。

2、校准大尺寸外径千分尺测微头的示值误差时，专用检具应紧固地安装在大尺寸外径千分尺的尺架上，专用检具不能有晃动，专用检具的球形测头应与大尺寸外径千分尺的测微螺杆同轴，否则会带来较大的测量误差。目前通常采用的专用检具是采用三个螺钉将专用检具固定在大尺寸外径千分尺的尺架上，受结构影响，专用检具装夹不够稳固，测微头专用检具的球形测头与大尺寸外径千分尺的测微螺杆容易发生歪斜，很难将测微头专用检具的球形测头与大尺寸外径千分尺的测微螺杆调整至同轴，无法保证装夹稳固和测微头专用检具的球形测头与大尺寸外径千分尺的测微螺杆同轴度，测量时很容易产生误差。

3、公告号为cn 114353632 b的专利文献中公开了一种外径千分尺测微头示值误差检具，这种检具虽然可以测量千分尺的测微头示值误差，但仅仅限于示值范围为（0~25）mm的千分尺测微头，无法测量更大示值范围的千分尺测微头。

4、因此，亟需一种能够准确测量大尺寸外径千分尺测微头示值误差的检具。

技术实现思路

1、本发明的目的是针对现有技术对应的不足，提供一种大尺寸外径千分尺测微头专用检具。解决校准大尺寸千分尺测微头示值误差时，专用检具装夹不稳固而且很难调整测微头专用检具的球形测头与大尺寸外径千分尺的测微螺杆同轴的问题。

2、本发明的目的是采用下述方案实现的：一种大尺寸外径千分尺测微头专用检具，包括主体，所述主体为阶梯状，主体的左侧大径端为套筒 ，主体的中段设置有放置量块的空间，主体右侧的轴心设置一阶梯通孔，阶梯通孔中安装一测量杆，所述测量杆的前段通过设置在主体后端大径段上的定位螺栓进行定位，测量杆的后段位于主体的小径段中，测量杆的后段外表面与阶梯通孔之间设置测量杆调节弹簧，测量杆调节弹簧通过设置在阶梯通孔中的限位螺圈进行限位，所述套筒的内壁中设置压圈，套筒的下端筒壁上设置一用于放置千分尺弓架的开口槽，套筒的筒壁上设置多个通孔，所述通孔的侧面设置一与通孔轴向排列的固定螺纹孔，通孔的上方固定连接导套，导套的过孔与通孔同轴，一定位销穿过导套和通孔与压圈紧密配合，所述定位销下端外表面与套筒之间设置压圈调节弹簧。

3、所述测量杆的前端为球形。

4、测量杆与阶梯通孔间隙配合。

5、所述阶梯通孔安装限位螺圈的部分为螺纹孔。

6、所述套筒上设置三组通孔，每组通孔在套筒的筒壁上呈120°等分排列，每组通孔中包含两个轴向排列的通孔，轴向排列的两通孔之间设置固定螺纹孔。

7、所述开口槽的宽度w大于被测外径千分尺尺架的弓架的厚度。

8、所述压圈调节弹簧一端接触导套内孔的上端面，另一端接触压圈的外圆面。

9、所述压圈为套筒内壁上均匀分布的三个，压圈的内径d小于大尺寸外径千分尺尺架的外径。

10、所述主体为一体成型。

11、所述套筒与阶梯通孔同轴。

12、本发明的优点在于，这种大尺寸外径千分尺测微头专用检具结构简单，操作简便，易于实现。提高了大尺寸外径千分尺测微头示值误差的校准效率，增强了专用检具的装夹稳固性，降低了专用检具带来的测量误差。

技术特征：

1.一种大尺寸外径千分尺测微头专用检具，其特征在于：包括主体（1），所述主体（1）为阶梯状，主体（1）的左侧大径端为套筒（11） ，主体（1）的中段设置有放置量块（24）的空间，主体（1）右侧的轴心设置一阶梯通孔（10），阶梯通孔（10）中安装一测量杆（6），所述测量杆（6）的前段通过设置在主体（1）后端大径段上的定位螺栓（7）进行定位，测量杆（6）的后段位于主体（1）的小径段中，测量杆（6）的后段外表面与阶梯通孔（10）之间设置测量杆调节弹簧（8），测量杆调节弹簧（8）通过设置在阶梯通孔（10）中的限位螺圈（9）进行限位，所述套筒（11）的内壁中设置压圈（2），套筒（11）的下端筒壁上设置一用于放置千分尺弓架的开口槽（12），套筒（11）的筒壁上设置多个通孔（13），所述通孔（13）的侧面设置一与通孔（13）轴向排列的固定螺纹孔（15），通孔（13）的上方固定连接导套（4），导套（4）的过孔与通孔（13）同轴，一定位销（3）穿过导套（4）和通孔（13）与压圈（2）紧密配合，所述定位销（3）下端外表面与套筒（11）之间设置压圈调节弹簧（5）。

2.根据权利要求1所述的大尺寸外径千分尺测微头专用检具，其特征在于：所述测量杆（6）的前端为球形。

3.根据权利要求1所述的大尺寸外径千分尺测微头专用检具，其特征在于：测量杆（6）与阶梯通孔（10）间隙配合。

4.根据权利要求1所述的大尺寸外径千分尺测微头专用检具，其特征在于：所述阶梯通孔（10）安装限位螺圈（9）的部分为螺纹孔。

5.根据权利要求1所述的大尺寸外径千分尺测微头专用检具，其特征在于：所述套筒（11）上设置三组通孔（13），每组通孔（13）在套筒（11）的筒壁上呈120°等分排列，每组通孔（13）中包含两个轴向排列的通孔（13），轴向排列的两通孔（13）之间设置固定螺纹孔（15）。

6.根据权利要求1所述的大尺寸外径千分尺测微头专用检具，其特征在于：所述开口槽（12）的宽度w大于被测外径千分尺尺架的弓架的厚度。

7.根据权利要求1所述的大尺寸外径千分尺测微头专用检具，其特征在于：所述压圈调节弹簧（5）一端接触导套（4）内孔的上端面，另一端接触压圈（2）的外圆面。

8.根据权利要求1所述的大尺寸外径千分尺测微头专用检具，其特征在于：所述压圈（2）为套筒（11）内壁上均匀分布的三个，压圈（2）的内径d小于大尺寸外径千分尺尺架的外径。

9.根据权利要求1所述的大尺寸外径千分尺测微头专用检具，其特征在于：所述主体（1）为一体成型。

10.根据权利要求1所述的大尺寸外径千分尺测微头专用检具，其特征在于：所述套筒（11）与阶梯通孔（10）同轴。

技术总结一种大尺寸外径千分尺测微头专用检具，包括主体，所述主体为阶梯状，主体的左侧大径端为套筒，主体的中段为放置量块的空间，主体右侧的轴心设置一阶梯通孔，阶梯通孔中安装一测量杆，所述测量杆的前段通过定位螺栓进行定位，测量杆的后段外表面与阶梯通孔之间设置测量杆调节弹簧，测量杆调节弹簧通过设置在阶梯通孔中的限位螺圈进行限位，所述套筒的内壁中设置压圈，套筒的下端筒壁上设置一用于放置千分尺弓架的开口槽，套筒的筒壁上设置多个通孔，所述通孔的侧面设置一与通孔轴向排列的固定螺纹孔，通孔的上方固定连接导套，导套的过孔与通孔同轴，一定位销穿过导套和通孔与压圈紧密配合，定位销下端外表面与套筒之间设置压圈调节弹簧。技术研发人员：林小芬,滕志勤,黎智,杨曦荻,余锦,冯丽华,文继君,陆忠海受保护的技术使用者：重庆长安工业（集团）有限责任公司技术研发日：技术公布日：2024/11/14