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测试电路的制作方法

  • 国知局
  • 2024-06-21 13:42:57

本技术涉及显示,尤其涉及一种测试电路。

背景技术:

1、薄膜晶体管(thin film transistor,tft)液晶显示模组被广泛应用于各行各业,tft液晶显示模组包括tft显示面板和玻璃载芯片(chip on glass,cog)。其中,针对tft液晶显示模组的检测通常包括tft液晶显示模组成型前的检测和tft液晶显示模组成型后的检测。

2、tft液晶显示模组成型前包括tft显示面板,还未将cog与tft显示面板进行绑定。常用的成型前的检测方法为:向测试公司或方案公司购买专门的测试盒,利用测试盒对tft显示面板进行功能性检测。

3、由于购买该测试盒的费用偏高,对测试者来说成本太高,因此亟需一种成本较低的测试电路。

技术实现思路

1、有鉴于此,本实用新型提供一种测试电路,能用于tft液晶显示模组成型前的检测,且可以降低成本。

2、第一方面,本实用新型实施例提供一种测试电路,包括:控制电路、栅极基础电压产生电路、源极基础电压产生电路和测试电压产生电路;

3、所述控制电路分别连接所述栅极基础电压产生电路、所述源极基础电压产生电路和所述测试电压产生电路,所述控制电路用于输出多个电压信号和多个控制信号;

4、所述栅极基础电压产生电路分别连接所述源极基础电压产生电路和所述测试电压产生电路;所述栅极基础电压产生电路用于在所述控制电路的作用下产生第一基础电压和第一测试电压,并向所述源极基础电压产生电路和所述测试电压产生电路输出所述第一基础电压;

5、所述源极基础电压产生电路连接所述测试电压产生电路,所述源极基础电压产生电路用于在所述控制电路和所述栅极基础电压产生电路的作用下产生第二基础电压,并向所述测试电压产生电路输出所述第二基础电压;

6、所述测试电压产生电路用于在所述控制电路、所述栅极基础电压产生电路和所述源极基础电压产生电路的作用下产生第二测试电压。

7、本实用新型实施例提供的一种测试电路,该测试电路包括控制电路、栅极基础电压产生电路、源极基础电压产生电路和测试电压产生电路;通过控制电路,产生多个的控制信号和多个电压信号,使得栅极基础电压产生电路可以在控制电路的作用下,产生第一基础电压和第一测试电压,并向源极基础电压产生电路和测试电压产生电路输出第一基础电压;使得源极基础电压产生电路可以在控制电路和栅极基础电压产生电路的作用下,产生源极基础电压,并向测试电压产生电路输出源极基础电压;测试电压产生电路在控制电路、栅极基础电压产生电路和源极基础电压产生电路的作用下产生第二测试电压。根据第一测试电压和第二测试电压可以实现对tft显示面板的检测。本实用新型实施例提供的测试电路结构简单,可以有效降低成本。

技术特征:

1.一种测试电路,其特征在于,包括:控制电路、栅极基础电压产生电路、源极基础电压产生电路和测试电压产生电路;

2.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述控制电路包括连接的电压控制电路和信号控制电路;

3.根据权利要求2所述的测试电路,其特征在于,所述栅极基础电压产生电路包括连接的第二电源电压产生电路和第一测试电压产生电路;

4.根据权利要求3所述的测试电路,其特征在于,所述栅极基础电压产生电路还包括栅极高电压产生电路和栅极低电压产生电路;

5.根据权利要求4所述的测试电路,其特征在于,所述源极基础电压产生电路包括源极打开电压产生电路、源极关闭电压产生电路和源极灰度电压产生电路;

6.根据权利要求5所述的测试电路,其特征在于,所述测试电压产生电路包括源极测试电压产生电路和栅极测试电压产生电路;

7.根据权利要求4或6所述的测试电路,其特征在于,所述多个电压信号包括:第一子电源电压、第二子电源电压、第三子电源电压;

8.根据权利要求7所述的测试电路,其特征在于,所述多个电压信号还包括:第四子电源电压;

9.根据权利要求8所述的测试电路,其特征在于,多个所述控制信号还包括:初始源极方波信号;

10.根据权利要求8或9所述的测试电路,其特征在于,多个所述控制信号还包括:第一源极控制信号、第二源极控制信号、第三源极控制信号、第一栅极控制信号、第二栅极控制信号和灰度控制信号;

技术总结本技术提供一种测试电路,包括:控制电路、栅极基础电压产生电路、源极基础电压产生电路和测试电压产生电路;控制电路分别连接栅极基础电压产生电路、源极基础电压产生电路和测试电压产生电路;栅极基础电压产生电路分别连接源极基础电压产生电路和测试电压产生电路;源极基础电压产生电路连接测试电压产生电路。栅极基础电压产生电路在控制电路的作用下产生第一基础电压和第一测试电压;源极基础电压产生电路在控制电路和栅极基础电压产生电路的作用下产生第二基础电压;测试电压产生电路在控制电路、栅极基础电压产生和源极基础电压产生电路的作用下产生第二测试电压。本技术实施例提供的测试电路结构简单,可以有效降低成本。技术研发人员:谢辉,唐浯受保护的技术使用者:麒麟电子(深圳)有限公司技术研发日:20230905技术公布日:2024/5/12

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