用于轨廓缺陷识别的方法及系统

本申请涉及轨道维护，尤其涉及用于轨廓缺陷识别的方法及系统。

背景技术：

1、轨道是支撑列车行驶的支撑基础设施，轨道的安全性直接关系到列车、运输货物和人员的安全。通过定期的轨道检查与维护，可以发现和修复轨道上的缺陷、损坏和变形等问题，保障轨道的稳定性和承载能力，减少事故和故障发生的风险。此外通过定期轨道维护，还能够延长轨道的使用寿命，提高列车运行效率。

2、在进行轨道维护时，通常会使用轨廓检测仪进行测量，获得轨道廓形(以下简称为轨廓)的数据。如图3所示，轨廓检测仪会将轨廓的数据以图像的形式展示，并选取轨顶面最高点a0为基准点，该点也是轨廓中心线最高点，将实际轨廓检测结果与标准轨廓进行对比分析，从而判断识别轨廓是否存在缺陷。

3、在轨道出厂或刚开始投入应用时，因磨损较小，轨廓的形状较为标准，上述这样的方法较为简单实用。但是，随着轨道在实际应用中轨廓的非均匀性磨损，轨顶面最高点会偏离轨廓中心线，这导致基准点难于界定，难以找到。目前，在进行现场轨廓及其缺陷分析时，多依靠人工经验进行基准点判定，存在诸多盲目性，分析结果存在较大差异。这种轨廓缺陷程度分析结果的差异性，也造成轨廓缺陷修复方案制定和修复量确定的困难。

技术实现思路

1、为解决或部分解决相关技术中存在的问题，本申请提供用于轨廓缺陷识别的方法，能够精准确定轨廓缺陷识别的基准点，实现对轨廓缺陷准确识别。

2、第一方面，本申请提供用于轨廓缺陷识别的方法，包括：

3、以基准点为原点，建立轨廓缺陷识别坐标系，其中，该基准点根据轨廓内侧轨距测量点的位置确定；

4、根据轨廓缺陷识别坐标系，得到标准轨廓坐标值和实际轨廓坐标值；

5、将实际轨廓坐标值与标准轨廓坐标值进行比较，得到轨廓在不同位置的缺陷程度。

6、可选的，在第一方面的一些实施方式中，

7、上述轨廓内侧轨距测量点位于轨廓内侧表面，且与轨廓最高点位置具有一定垂直距离。

8、可选的，在第一方面的一些实施方式中，

9、上述标准轨廓坐标值根据标准轨廓坐标方程组计算得到，其中，该标准轨廓坐标方程组，依据标准钢轨的尺寸值对应到轨廓缺陷识别坐标系中的坐标值构建得到。

10、可选的，在第一方面的一些实施方式中，

11、通过对比轨廓测量结果坐标值中坐标原点与轨廓缺陷识别坐标系中坐标原点在横纵方向上的差值，根据该横纵方向上的差值，将轨廓测量结果坐标值中的各个坐标整体进行平移，得到实际轨廓坐标值；

12、其中，该轨廓测量结果坐标值由轨廓检测仪检测得到。

13、可选的，在第一方面的一些实施方式中，

14、该将该实际轨廓坐标值与标准轨廓坐标值进行比较，其具体过程为：在同一横坐标位置处，对比得到实际轨廓的纵坐标值与标准轨廓的纵坐标值之间的差值，该差值即可表示实际轨廓的缺陷程度；

15、若该差值为正值，则认为该处轨廓凸起，凸起值表征该处轨廓的缺陷程度，若该差值为负值，则认为此处轨廓凹陷，凹陷值表征此处轨廓的缺陷程度。

16、可选的，在第一方面的一些实施方式中，

17、该标准钢轨为60钢轨；

18、该轨廓内侧轨距测量点与轨廓最高点位置之间的垂直距离为：16mm；

19、该标准轨廓坐标方程组如下所示：

20、

21、其中，x为轨廓缺陷识别坐标系中横坐标，y为轨廓缺陷识别坐标系中的纵坐标。

22、第二方面，本申请提供了一种用于轨廓缺陷识别的系统，其特征是，包括：

23、处理器和存储器；

24、其中存储器上存储有计算机程序代码指令；

25、当计算机程序代码指令被所述处理器所调用时，使得所述处理器执行如第一方面中用于轨廓缺陷识别的方法。

26、本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：

27、本申请根据轨廓内侧轨距测量点位置确定轨廓缺陷识别的基准点，该基准点是轨距测量点，较为准确易识别。通过依据基准点来建立轨廓缺陷识别坐标系，用实际轨廓坐标值与标准轨廓坐标值的差值来衡量轨廓缺陷程度，能够精准识别出的轨廓缺陷，便于更好地确定修复量和制定轨廓缺陷修复方案。

28、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

技术特征：

1.用于轨廓缺陷识别的方法，其特征在于：包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于：

7.用于轨廓缺陷识别的系统，其特征是，包括：

技术总结本申请是关于用于轨廓缺陷识别的方法及系统，涉及轨道维护技术领域。该方法包括：以基准点为原点，建立轨廓缺陷识别坐标系，其中，该基准点根据轨廓内侧轨距测量点的位置确定；根据轨廓缺陷识别坐标系，得到标准轨廓坐标值和实际轨廓坐标值；将实际轨廓坐标值与标准轨廓坐标值进行比较，得到轨廓在不同位置的缺陷程度。本申请根据轨廓内侧轨距测量点位置确定轨廓缺陷识别的基准点，该基准点是轨距测量点，较为准确易识别。通过依据基准点来建立轨廓缺陷识别坐标系，用实际轨廓坐标值与标准轨廓坐标值的差值来衡量轨廓缺陷程度，能够精准识别出的轨廓缺陷，便于更好地确定修复量和制定轨廓缺陷修复方案。技术研发人员：罗亚南,郭关柱受保护的技术使用者：云南农业大学技术研发日：技术公布日：2024/4/17