一种薄膜在线厚度测量机构的制作方法

本技术涉及高分子薄膜生产设备，尤其涉及一种薄膜在线厚度测量机构。

背景技术：

1、专利文献cn117109455a公开一种薄膜厚度测量装置，其包括样品台、发射端、接收端及处理组件，发射端用于向样品台上的样品发射入射光，入射光由四个波长不同的激光汇合形成，发射端可以将入射光调节为线偏振光，接收端用于接收样品反射形成的出射光，接收端包括检偏组件和探测组件，通过调节检偏组件，实现对不同方位角下出射光强的探测，在每一方位角下，获得一组四个激光的波长对应的光强值，处理组件根据方位角和光强值，分别采用椭偏测量和光谱测量的计算方法，获得样品的薄膜厚度和光学参数，并将两者方法计算得的薄膜厚度进行对比，以确定样品的薄膜厚度取值。然而，这种测量装置采用固定结构，无法在薄膜生产过程中及时获取厚度数据，需要在薄膜生产完成后再进行测量，薄膜生产设备无法根据测量数据进行实时调整。因此，有必要对其进行结构优化，以克服上述缺陷。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是提供一种薄膜在线厚度测量机构，以提升薄膜厚度测量效率。

2、本实用新型为解决其技术问题所采用的技术方案是：

3、一种薄膜在线厚度测量机构，包括：

4、支撑装配组件，该支撑装配组件与薄膜挤出机构位置对应，其内部具有装配空间；

5、薄膜输入组件，该薄膜输入组件安装于支撑装配组件中，并与薄膜挤出机构衔接，由薄膜挤出机构向薄膜输入组件输送薄膜；

6、薄膜输出组件，该薄膜输出组件安装于支撑装配组件中，其与薄膜输入组件衔接，并与薄膜收卷机构衔接，由薄膜输入组件向薄膜输出组件输送薄膜，并由薄膜输出组件向薄膜收卷机构输送薄膜；

7、上部测量组件，该上部测量组件通过活动连接结构安装于支撑装配组件中，并位于薄膜输入组件与薄膜输出组件之间；

8、下部测量组件，该下部测量组件通过活动连接结构安装于支撑装配组件中，并位于薄膜输入组件与薄膜输出组件支架，其与上部测量组件位置对应，在上部测量组件与下部测量组件之间形成薄膜输送通道，由下部测量组件及上部测量组件一同对薄膜进行厚度测量处理。

9、具体地，支撑装配组件包括：

10、支撑立柱，该支撑立柱设有一组，各支撑立柱分别沿竖向布置；

11、转接顶梁，该转接顶梁设有一组，各转接横梁分别沿横向布置，并连接于相邻支撑立柱顶部；

12、转接底梁，该转接底梁设有一组，各转接底梁分别沿横向布置，并连接于相邻支承立柱底部。

13、薄膜输入组件包括：

14、输入底辊，该输入底辊沿横向布置，其两端分别通过输入支座安装于相邻支撑立柱底部，并与薄膜挤出机构位置对应，薄膜挤出机构输出的薄膜可从输入底辊下方绕过；

15、输入顶辊，该输入顶辊沿横向布置，并位于输入底辊上方，其两端分别安装于相邻支撑立柱中部，从输入底辊下方绕过的薄膜可从输入顶辊上方绕过，在输入顶辊与输入底辊之间形成竖向输入通道。

16、薄膜输出组件包括：

17、输出底辊，该输出底辊沿横向布置，其两端分别通过输出支座安装于相邻支撑立柱中部，并与输入顶辊位置对应，从输入顶辊上方绕过的薄膜可从输出底辊下方绕过，在输入顶辊与输出底辊之间形成横向输送通道；

18、输出顶辊，该输出顶辊沿横向布置，并位于输出底辊上方，其两端分别安装于相邻支撑立柱顶部，从输出底辊下方绕过的薄膜可动输出顶辊上方绕过，在输出顶辊与输出底辊之间形成竖向输出通道。

19、上部测量组件包括：

20、上部支座，该上部支座设有一对，各上部支座分别安装于转接顶梁上，并向转接顶梁下方延伸；

21、上部导轨，该上部导轨安装于上部支座之间；

22、上部端体，该上部端体通过上部丝杆传动结构安装于上部支座之间，并与上部导轨适配，可沿上部导轨移动，其末端指向沿横向输送通道移动的薄膜上方。

23、下部测量组件包括：

24、下部支座，该下部支座设有一对，各下部支座分别安装于转接底梁上，并向转接底梁上方延伸；

25、下部导轨，该下部导轨安装于下部支座之间；

26、下部端体，该下部端体通过下部丝杆传动结构安装于下部支座之间，并与下部导轨适配，可沿下部导轨移动，其末端指向沿横向输送通道移动的薄膜下方，由下部端体及上部端体对薄膜进行厚度测量处理。

27、输出支座与支撑立柱之间通过竖向调节结构配合，可在支撑立柱上调节安装位置，以对输出底辊与输入顶辊之间的间距进行调节。

28、本实用新型的优点在于：

29、该薄膜在线厚度测量机构设置了由上部支座、上部导轨及上部端体组成的上部测量组件，上部导轨安装于上部支座之间，上部端体通过上部丝杆传动结构安装于上部支座之间，并与上部导轨适配，可沿上部导轨移动，还设置了由下部支座、下部导轨及下部端体组成的下部测量组件，下部导轨安装于下部支座之间，下部端体通过下部丝杆传动结构安装于下部支座之间，并与下部导轨适配，可沿下部导轨移动，其末端指向沿横向输送通道移动的薄膜下方，由下部端体及上部端体对薄膜进行厚度测量处理，测量范围和速度均可根据需要进行调节，有利于提升薄膜质量，提高生产效率。

技术特征：

1.一种薄膜在线厚度测量机构，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种薄膜在线厚度测量机构，其特征在于，支撑装配组件包括：

3.根据权利要求2所述的一种薄膜在线厚度测量机构，其特征在于，薄膜输入组件包括：

4.根据权利要求3所述的一种薄膜在线厚度测量机构，其特征在于，薄膜输出组件包括：

5.根据权利要求4所述的一种薄膜在线厚度测量机构，其特征在于，上部测量组件包括：

6.根据权利要求5所述的一种薄膜在线厚度测量机构，其特征在于，下部测量组件包括：

7.根据权利要求4所述的一种薄膜在线厚度测量机构，其特征在于：

技术总结本技术提出一种薄膜在线厚度测量机构，其包括支撑装配组件、薄膜输入组件、薄膜输出组件、上部测量组件及下部测量组件，该薄膜在线厚度测量机构设置了由上部支座、上部导轨及上部端体组成的上部测量组件，上部端体通过上部丝杆传动结构安装于上部支座之间，并与上部导轨适配，可沿上部导轨移动，还设置了由下部支座、下部导轨及下部端体组成的下部测量组件，下部端体通过下部丝杆传动结构安装于下部支座之间，并与下部导轨适配，可沿下部导轨移动，其末端指向沿横向输送通道移动的薄膜下方，由下部端体及上部端体对薄膜进行厚度测量处理，测量范围和速度均可根据需要进行调节，有利于提升薄膜质量，提高生产效率。技术研发人员：陈启祥受保护的技术使用者：浙江皓智新材料科技有限公司技术研发日：20231218技术公布日：2024/7/18