综合控制单元测试装置的制作方法

本技术涉及电气装置测试领域，特别涉及一种综合控制单元测试装置。

背景技术：

1、综合控制单元测试是飞行器（船只、潜艇等）研制（生产、使用）过程中的重要环节，用于测试产品前后的各项功能和主要技术指标，在必要情况下对故障部分进行调整或更换，以保证产品的各项性能指标满足实际需求。现有技术中一般由工作人员使用万用表对被测综合控制单元中的各线路逐一进行检测，工作效率较低。

技术实现思路

1、本实用新型提供一种综合控制单元测试装置，解决了现有技术中使用万用表等仪器进行测试造成的工作效率较低的问题。

2、为了解决上述技术问题，本实施例采用的技术方案如下：

3、在一些实施例中，本实用新型提供一种综合控制单元测试装置，包括：

4、处理器模块；

5、电源模块，输入端与外部电源连接，输出端与所述处理器模块连接；

6、测试模块，所述测试模块的第一信号输入端与所述处理器模块的信号输出端连接，所述测试模块的第一信号输出端与被测综合控制单元的信号输入端连接；所述测试模块的第二信号输出端与所述处理器模块的信号输入端连接，所述测试模块的第二信号输入端与所述被测综合控制单元的信号输出端连接；所述测试模块的电源输入端与所述电源模块的输出端连接。

7、本实用新型通过设置处理器模块、电源模块和测试模块，处理器模块发送和接收测试信号，测试模块接收测试信号后进行处理并发送给被测综合控制单元或处理器模块，电源模块分别为处理器模块和测试模块提供所需的工作电压，本实用新型能够同时完成对被测综合控制单元接收信号线路及发送信号线路的测试，提高了工作效率，解决了现有技术中使用万用表进行测试造成的工作效率较低的问题。

8、在一些实施方式中，所述处理器模块采用型号为gd32f103vct6的微控制器。

9、在一些实施方式中，所述测试模块包括电源开出单元，所述电源开出单元包括第一开关组件，所述第一开关组件包括n沟道场效应管和p沟道场效应管；所述n沟道效应管的g端与所述处理器模块的mcu_ko_bk引脚连接，d端通过电阻r6与所述电源模块的输出端连接，s端接地；所述p沟道场效应管的g端与所述n沟道场效应管的d端连接，所述p沟道场效应管的s端与所述电源模块的输出端连接，所述p沟道场效应管的d端用于与被测综合控制单元的信号输入端连接。

10、在一些实施方式中，所述测试模块包括电源开入单元，所述电源开入单元包括第二开关组件，所述第二开关组件包括光耦开关u10，所述光耦开关u10的1号引脚和2号引脚分别用于与所述被测综合控制单元01中的电压电路的两端连接，所述光耦开关u10的3号引脚与所述处理器模块的mcu_ki_28v1引脚连接，所述光耦开关u10的4号引脚与所述电源模块20的输出端连接。

11、在一些实施方式中，所述测试模块包括开关量开出单元，所述开关量开出单元包括第三开关组件，所述第三开关组件包括光耦开关u4，所述光耦开关u4的1号引脚与所述处理器模块的mcu_ko_sw1引脚连接，所述光耦开关u4的2号引脚接地，所述光耦开关u4的3号和4号引脚分别用于与所述被测综合控制单元中的待测线路两端连接。

12、在一些实施方式中，所述测试模块包括开关量开入单元，所述开关量开入单元包括第四开关组件，所述第四开关组件包括光耦开关u22，所述光耦开关u22的1号引脚用于与所述被测综合控制单元中的待测线路连接，所述光耦开关u22的2号引脚接地，所述光耦开关u22的3号引脚与所述处理器模块的mcu_ki_sw1引脚连接，所述光耦开关u22的4号引脚与所述电源模块的输出端连接。

13、在一些实施方式中，所述测试模块包括舵反测试单元，所述舵反测试单元包括第五开关组件，所述第五开关组件包括光耦开关u26，所述光耦开关u26采用线性模式；所述光耦开关u26的1号引脚与所述处理器模块的mcu_pwm1引脚连接，所述光耦开关u26的2号引脚接地，所述光耦开关u26的3号引脚与负电源连接，所述光耦开关u26的4号引脚与正电源，被测综合控制单元的信号输入端与负电源并联。

14、在一些实施方式中，所述测试模块包括舵控测试单元，所述舵控测试单元包括第六开关组件，所述第六开关组件包括光耦开关u30与光耦开关u32，所述光耦开关u30的1号引脚用于与被测综合控制单元01的第一舵控信号输出端连接，所述光耦开关u30的2号引脚用于与被测综合控制单元01的第二舵控信号输出端连接，所述光耦开关u30的3号引脚用于与所述处理器模块的mcu_ki_dri_p1引脚连接，所述光耦开关u30的4号引脚与所述电源模块的输出端连接。

15、在一些实施方式中，所述电源模块包括稳压器单元，所述稳压器单元的输入端与所述外部电源连接，输出端分别与处理器模块和测试模块连接。

16、在一些实施方式中，所述综合控制单元测试装置还包括通讯模块，所述通讯模块包括多个通讯单元，多个所述通讯单元采用的通讯协议不同。

17、本实用新型的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实施方式的实践了解到。

技术特征：

1.综合控制单元测试装置，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的综合控制单元测试装置，其特征在于，所述处理器模块（10）采用型号为gd32f103vct6的微控制器。

3.如权利要求2所述的综合控制单元测试装置，其特征在于，所述测试模块（30）包括电源开出单元（31），所述电源开出单元（31）包括第一开关组件（311），所述第一开关组件（311）包括n沟道场效应管和p沟道场效应管；所述n沟道效应管的g端与所述处理器模块（10）的mcu_ko_bk引脚连接，d端通过电阻r6与所述电源模块（20）的输出端连接，s端接地；所述p沟道场效应管的g端与所述n沟道场效应管的d端连接，所述p沟道场效应管的s端与所述电源模块（20）的输出端连接，所述p沟道场效应管的d端用于与被测综合控制单元（01）的信号输入端连接。

4.如权利要求2所述的综合控制单元测试装置，其特征在于，所述测试模块（30）包括电源开入单元（32），所述电源开入单元（32）包括第二开关组件（321），所述第二开关组件（321）包括光耦开关u10，所述光耦开关u10的1号引脚和2号引脚分别用于与所述被测综合控制单元（01）中的电压电路的两端连接，所述光耦开关u10的3号引脚与所述处理器模块（10）的mcu_ki_28v1引脚连接，所述光耦开关u10的4号引脚与所述电源模块（20）的输出端连接。

5.如权利要求2所述的综合控制单元测试装置，其特征在于，所述测试模块（30）包括开关量开出单元（33），所述开关量开出单元（33）包括第三开关组件（331），所述第三开关组件（331）包括光耦开关u4，所述光耦开关u4的1号引脚与所述处理器模块（10）的mcu_ko_sw1引脚连接，所述光耦开关u4的2号引脚接地，所述光耦开关u4的3号和4号引脚分别用于与所述被测综合控制单元（01）中的待测线路两端连接。

6.如权利要求2所述的综合控制单元测试装置，其特征在于，所述测试模块（30）包括开关量开入单元（34），所述开关量开入单元（34）包括第四开关组件（341），所述第四开关组件（341）包括光耦开关u22，所述光耦开关u22的1号引脚用于与所述被测综合控制单元（01）中的待测线路连接，所述光耦开关u22的2号引脚接地，所述光耦开关u22的3号引脚与所述处理器模块（10）的mcu_ki_sw1引脚连接，所述光耦开关u22的4号引脚与所述电源模块（20）的输出端连接。

7.如权利要求2所述的综合控制单元测试装置，其特征在于，所述测试模块（30）包括舵反测试单元（35），所述舵反测试单元（35）包括第五开关组件（351），所述第五开关组件（351）包括光耦开关u26，所述光耦开关u26采用线性模式；所述光耦开关u26的1号引脚与所述处理器模块（10）的mcu_pwm1引脚连接，所述光耦开关u26的2号引脚接地，所述光耦开关u26的3号引脚与负电源连接，所述光耦开关u26的4号引脚与正电源，被测综合控制单元（01）的信号输入端与负电源并联。

8.如权利要求2所述的综合控制单元测试装置，其特征在于，所述测试模块（30）包括舵控测试单元（36），所述舵控测试单元（36）包括第六开关组件（361），所述第六开关组件（361）包括光耦开关u30与光耦开关u32，所述光耦开关u30的1号引脚用于与被测综合控制单元（01）的第一舵控信号输出端连接，所述光耦开关u30的2号引脚用于与被测综合控制单元（01）的第二舵控信号输出端连接，所述光耦开关u30的3号引脚用于与所述处理器模块（10）的mcu_ki_dri_p1引脚连接，所述光耦开关u30的4号引脚与所述电源模块（20）的输出端连接。

9.如权利要求1所述的综合控制单元测试装置，其特征在于，所述电源模块（20）包括稳压器单元，所述稳压器单元的输入端与所述外部电源（02）连接，输出端分别与处理器模块（10）和测试模块（30）连接。

10.如权利要求1所述的综合控制单元测试装置，其特征在于，所述综合控制单元测试装置还包括通讯模块（40），所述通讯模块（40）包括多个通讯单元，多个所述通讯单元采用的通讯协议不同。

技术总结本技术涉及电气装置测试领域，特别涉及一种综合控制单元测试装置。本技术通过设置处理器模块、电源模块和测试模块，处理器模块发送和接收测试信号，测试模块接收测试信号后进行处理并发送给被测综合控制单元或处理器模块，电源模块分别为处理器模块和测试模块提供所需的工作电压，本技术能够同时完成对被测综合控制单元接收信号线路及发送信号线路的测试，提高了工作效率，解决了现有技术中使用万用表进行测试造成的工作效率较低的问题。技术研发人员：李国兰,邓鹏,李正,刘威,黄慧怡受保护的技术使用者：武汉量宇智能科技有限公司技术研发日：20230919技术公布日：2024/6/18