调节电路测试方法及设备与流程

本公开实施例涉及半导体，尤其涉及一种调节电路测试方法及设备。

背景技术：

1、在半导体行业中，存储芯片如动态随机存取存储器(dynamic random accessmemory，dram)的读写时钟信号一般是由外部的控制芯片提供，该读写时钟信号在产生、传输、进入dram内部处理过程中都有可能发生占空比偏差。

2、为了纠正上述读写时钟信号的占空比偏差，相关技术中提出了占空比调节电路，利用该占空比调节电路可以对上述读写时钟信号的占空比偏差进行纠偏。

3、然而，由于上述占空比调节电路的纠偏幅度比较小，一般只有十几皮秒，而数据总线上一个数据的保持时间最小也有几百皮秒，因此在绝大多数情况下占空比调节电路是否处于有效状态很难被直接观测到。

技术实现思路

1、本公开实施例提供了一种调节电路测试方法及设备，可以准确检测出占空比调节电路是否处于有效状态。

2、第一方面，本公开实施例提供了一种调节电路测试方法，应用于测试平台，所述调节电路包括占空比调节电路，所述测试平台与所述调节电路电连接，该方法包括：

3、根据第一读写时钟信号在指定存储地址接收写入数据；

4、根据第二读写时钟信号从所述指定存储地址接收读取数据，并根据所述写入数据与所述读取数据，生成所述占空比调节电路的测试结果；

5、其中，所述占空比调节电路用于对第一初始读写时钟信号和/或第二初始读写时钟信号进行调节操作，对应生成所述第一读写时钟信号和所述第二读写时钟信号，所述第一初始读写时钟信号和/或所述第二初始读写时钟信号的占空比具有第一偏差值。

6、在一种可行的实施方式中，还包括：

7、根据预先设置的占空比偏差值与纠偏值之间的对应关系，以及所述第一偏差值，调节所述占空比调节电路的纠偏值为第一纠偏值。

8、在一种可行的实施方式中，所述第一偏差值为朝第一方向偏差n皮秒，其中，n不为0；

9、所述调节所述占空比调节电路的纠偏值为第一纠偏值，包括：

10、将所述占空比调节电路的纠偏值调节为朝第二方向偏差n皮秒，其中，所述第二方向与所述第一方向相反。

11、在一种可行的实施方式中，所述根据所述写入数据与所述读取数据，生成所述占空比调节电路的测试结果，包括：

12、对比所述写入数据与所述读取数据；

13、当所述写入数据与所述读取数据相同时，确定所述占空比调节电路处于有效状态；

14、当所述写入数据与所述读取数据不相同时，确定所述占空比调节电路处于无效状态。

15、在一种可行的实施方式中，还包括：

16、调节所述第一读写时钟信号的起始时刻，以使所述第一读写时钟信号的边沿出现的时刻与所述写入数据对应的写入命令的边沿出现的时刻之间的时间间隔等于预设时间间隔。

17、在一种可行的实施方式中，所述根据第一读写时钟信号在指定存储地址接收写入数据之前，还包括：

18、根据第三读写时钟信号在指定存储地址接收所述写入数据；

19、根据第四读写时钟信号从所述指定存储地址接收第一读取数据；

20、其中，所述第三读写时钟信号与所述第四读写时钟信号的占空比为标准占空比；所述占空比调节电路的纠偏值为零。

21、在一种可行的实施方式中，所述根据第一读写时钟信号在指定存储地址接收写入数据之前，还包括：

22、根据第五读写时钟信号在指定存储地址接收所述写入数据；

23、根据第六读写时钟信号从所述指定存储地址接收第二读取数据；

24、其中，所述第五读写时钟信号和/或所述第六读写时钟信号的占空比具有第一偏差值，所述占空比调节电路的纠偏值为零。

25、在一种可行的实施方式中，所述根据所述写入数据与所述读取数据，生成所述占空比调节电路的测试结果，包括：

26、当所述读取数据与所述第一读取数据相同时，确定所述占空比调节电路处于有效状态；

27、当所述读取数据与所述第二读取数据相同时，确定所述占空比调节电路处于无效状态。

28、第二方面，本公开实施例提供了一种调节电路测试装置，应用于测试平台，所述调节电路包括占空比调节电路，所述测试平台与所述调节电路电连接，所述装置包括：

29、写入模块，用于根据第一读写时钟信号在指定存储地址接收写入数据；

30、读取模块，用于根据第二读写时钟信号从所述指定存储地址接收读取数据；

31、处理模块，用于根据所述写入数据与所述读取数据，生成所述占空比调节电路的测试结果；

32、其中，所述占空比调节电路用于对第一初始读写时钟信号和/或第二初始读写时钟信号进行调节操作，对应生成所述第一读写时钟信号和所述第二读写时钟信号，所述第一初始读写时钟信号和/或所述第二初始读写时钟信号的占空比具有第一偏差值。

33、在一种可行的实施方式中，还包括：

34、调节模块，用于根据预先设置的占空比偏差值与纠偏值之间的对应关系，以及所述第一偏差值，调节所述占空比调节电路的纠偏值为第一纠偏值。

35、在一种可行的实施方式中，所述第一偏差值为朝第一方向偏差n皮秒，其中，n不为0；

36、所述调节模块具体用于：

37、将所述占空比调节电路的纠偏值调节为朝第二方向偏差n皮秒，其中，所述第二方向与所述第一方向相反。

38、在一种可行的实施方式中，所述处理模块用于：

39、对比所述写入数据与所述读取数据；

40、当所述写入数据与所述读取数据相同时，确定所述占空比调节电路处于有效状态；

41、当所述写入数据与所述读取数据不相同时，确定所述占空比调节电路处于无效状态。

42、在一种可行的实施方式中，所述调节模块还用于：

43、调节所述第一读写时钟信号的起始时刻，以使所述第一读写时钟信号的边沿出现的时刻与所述写入数据对应的写入命令的边沿出现的时刻之间的时间间隔等于预设时间间隔。

44、在一种可行的实施方式中，所述写入模块还用于：根据第三读写时钟信号在指定存储地址接收所述写入数据；

45、所述读取模块还用于：根据第四读写时钟信号从所述指定存储地址接收第一读取数据；

46、其中，所述第三读写时钟信号与所述第四读写时钟信号的占空比为标准占空比；所述占空比调节电路的纠偏值为零。

47、在一种可行的实施方式中，所述写入模块还用于：根据第五读写时钟信号在指定存储地址接收所述写入数据；

48、所述读取模块还用于：根据第六读写时钟信号从所述指定存储地址接收第二读取数据；

49、其中，所述第五读写时钟信号和/或所述第六读写时钟信号的占空比具有第一偏差值，所述占空比调节电路的纠偏值为零。

50、在一种可行的实施方式中，所述处理模块用于：

51、当所述读取数据与所述第一读取数据相同时，确定所述占空比调节电路处于有效状态；

52、当所述读取数据与所述第二读取数据相同时，确定所述占空比调节电路处于无效状态。

53、第三方面，本公开实施例提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器和存储器；

54、所述存储器存储计算机执行指令；

55、所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述至少一个处理器执行如第一方面提供的调节电路测试方法。

56、第四方面，本公开实施例提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当处理器执行所述计算机执行指令时，实现如第一方面提供的调节电路测试方法。

57、本公开实施例提供的调节电路测试方法及设备，测试平台通过提供带有占空比偏差的初始读写时钟信号，由占空比调节电路对该初始读写时钟信号进行调节后，根据调节后的读写时钟信号在指定存储地址进行写入操作与读取操作，然后基于写入数据与读取数据，即可准确判断出上述占空比调节电路是否有效。