变温测试系统及其操作方法与流程

本发明涉及一种测试系统，且尤其涉及一种变温测试系统及其操作方法。背景技术：：：1、数码相机、移动电话与mp3播放器在这几年来的成长十分迅速，使得消费者对存储媒体的需求也急速增加。由于可复写式非易失性存储器模块(rewritable non-volatilememory module)(例如，闪存)具有数据非易失性、省电、体积小，以及无机械结构等特性，所以非常适合内建于上述所举例的各种可携式多媒体装置中。2、为了保障可复写式非易失性存储器模块的稳定性，测试人员需要除了对可复写式非易失性存储器模块进行可靠性验证之外，也需要进行模拟实际应用的带电测试。换言之，测试人员需要模拟不同环境下的测试温度，以判定可复写式非易失性存储器模块是否可承受实际环境的温度变化。已知技术中，测验人员在对受测元件(例如是：可复写式非易失性存储器模块)进行测试时，需要搭配具有不同的温度环境的多个测试设备进行插拔交换测试。然而，使用不同的测试设备会降低测试的准确性，并拉长测试时间，且耗费较多的测试成本。技术实现思路1、有鉴于此，本发明提供一种变温测试系统及其操作方法，可因应待验测试的测试需求提供不同的测试环境，使测试环境符合实际应用上的温度变化，以提升测试准确性。2、本发明的范例实施例提供一种变温测试系统，其包括主控装置、多个测试装置以及变温测试平台。所述变温测试平台耦接所述主控装置以及所述多个测试装置。所述主控装置根据至少一待验测试提供调整参数。所述变温测试平台包括：多个测试区、多个温度传感器以及温度控制模块。所述多个测试区分别耦接所述多个测试装置。所述多个温度传感器分别设置于所述多个测试区。所述温度控制模块耦接所述多个测试区。所述温度控制模块根据所述调整参数控制至少一测试区的温度。3、在本发明的一范例实施例中，所述调整参数用以指示所述至少一测试区、对应所述至少一测试区的至少一测试温度以及对应所述至少一测试区的至少一测试时间。4、在本发明的一范例实施例中，响应于所述至少一测试区的所述温度被调整，至少一温度传感器分别检测所述至少一测试区的至少一当前温度，并且所述变温测试平台将所述至少一当前温度分别传送至对应的至少一测试装置。5、在本发明的一范例实施例中，响应于接收到各所述当前温度，各所述测试装置判断各所述当前温度与各所述待验测试的预期温度是否匹配，响应于各所述当前温度与所述预期温度匹配，各所述测试装置对被放置于其对应的测试区的受测元件执行各所述待验测试。6、在本发明的一范例实施例中，响应于各所述当前温度与所述预期温度不匹配，各所述测试装置显示警示通知。7、在本发明的一范例实施例中，所述变温测试系统更包括移动装置。所述移动装置接收来自所述主控装置的控制信号，并根据所述控制信号移动受测元件。8、在本发明的一范例实施例中，所述变温测试平台更包括隔热区域。所述隔热区域设置于所述多个测试区之间，用以隔绝所述多个测试区之间的热能传导。9、本发明的范例实施例提供一种用于变温测试系统的操作方法。所述变温测试系统包括主控装置、多个测试装置以及变温测试平台。所述变温测试平台包括：多个测试区、多个温度传感器以及温度控制模块。所述操作方法包括：通过所述主控装置根据至少一待验测试提供调整参数；以及通过所述温度控制模块根据所述调整参数控制至少一测试区的温度。10、基于上述，本发明的变温测试系统及其操作方法可因应待验测试的测试需求提供不同的测试环境(意即，通过温度控制模块根据调整参数调整测试区的温度)，使测试环境符合实际应用上的温度变化，以提升测试准确性。另外，本发明的变温测试系统还可提供具有不同温度的多个测试环境，可避免已知技术中的插拔交换测试，以减少受测元件的损耗，并提升测试的准确度。11、为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。技术特征：1.一种变温测试系统，其特征在于，包括：2.根据权利要求1所述的变温测试系统，其中所述调整参数用以指示所述至少一测试区、对应所述至少一测试区的至少一测试温度以及对应所述至少一测试区的至少一测试时间。3.根据权利要求1所述的变温测试系统，其中响应于所述至少一测试区的所述温度被调整，至少一温度传感器分别检测所述至少一测试区的至少一当前温度，并且所述变温测试平台将所述至少一当前温度分别传送至对应的至少一测试装置。4.根据权利要求3所述的变温测试系统，其中响应于接收到各所述当前温度，各所述测试装置判断各所述当前温度与各所述待验测试的预期温度是否匹配，5.根据权利要求4所述的变温测试系统，其中响应于各所述当前温度与所述预期温度不匹配，各所述测试装置显示警示通知。6.根据权利要求1所述的变温测试系统，更包括：7.根据权利要求1所述的变温测试系统，其中所述变温测试平台更包括：8.一种用于变温测试系统的操作方法，其特征在于，所述变温测试系统包括主控装置、多个测试装置以及变温测试平台，其中所述变温测试平台包括多个测试区、多个温度传感器以及温度控制模块，所述操作方法包括：9.根据权利要求8所述的操作方法，其中所述调整参数用以指示所述至少一测试区、对应所述至少一测试区的至少一测试温度以及对应所述至少一测试区的至少一测试时间。10.根据权利要求8所述的操作方法，还包括：11.根据权利要求10所述的操作方法，还包括：12.根据权利要求11所述的操作方法，还包括：13.根据权利要求8所述的操作方法，其中所述变温测试系统还包括移动装置，且所述操作方法还包括：14.根据权利要求8所述的操作方法，其中所述变温测试平台还包括隔热区域，且所述操作方法还包括：技术总结本发明提供一种变温测试系统及其操作方法。所述变温测试系统包括：主控装置、多个测试装置以及变温测试平台。所述变温测试平台耦接所述主控装置以及所述多个测试装置。所述主控装置根据至少一待验测试提供调整参数。所述变温测试平台包括：多个测试区、多个温度传感器以及温度控制模块。所述多个测试区分别耦接所述多个测试装置。所述多个温度传感器分别设置于所述多个测试区。所述温度控制模块耦接所述多个测试区。所述温度控制模块根据所述调整参数调整至少一测试区的温度。技术研发人员：王智麟,朱启傲,饶东升受保护的技术使用者：合肥兆芯电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15