Nandflash测试设备的制作方法

本技术涉及存储器，特别涉及一种nand flash测试设备。

背景技术：

1、nand-flash存储器是flash存储器的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。nand-flash存储器具有容量较大、改写速度快等优点，适用于大量数据的存储，因而在业界得到了越来越广泛的应用，如嵌入式产品中包括数码相机、体积小巧的u盘等。

2、其中，为提高nand-flash存储器的出厂质量，nand-flash存储器在出厂之间均需进行产品测试。目前，通常是通过单片机发送测试指令至测试座，测试座根据测试指令对其上的nand-flash存储器进行测试，即每次执行单个nand-flash存储器的测试，测试效率低。

技术实现思路

1、本实用新型的主要目的是提出一种nand flash测试设备，旨在解决目前nandflash测试效率低的技术问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提出一种nand flash测试设备，该nand flash测试设备包括：

3、usb拓展器，所述usb拓展器设有多个usb接口并具有连接上位机的数据线；

4、多个单片机，每一个单片机分别与所述usb拓展器的一个所述usb接口通过连接线连接；

5、多个测试座，每一个所述测试座分别与一个所述单片机通信连接，所述测试座用于搭载nand flash以对nand flash进行测试。

6、在一些实施例中，所述测试座为可更换设置，所述测试座为spi测试座、ppi测试座和sd测试座中的一种。

7、在一些实施例中，所述nand flash测试设备还包括：

8、电源模块，用于向多个所述单片机以及多个所述测试座供电。

9、在一些实施例中，所述nand flash测试设备还包括：

10、第一电压转换模块，分别与所述电源模块和多个所述单片机电性连接，所述第一电压转换模块转换所述电源模块向所述单片机输出的工作电压。

11、在一些实施例中，所述nand flash测试设备还包括：

12、第二电压转换模块，分别与所述电源模块和多个所述测试座电性连接，所述第二电压转换模块转换所述电源模块向所述测试座输出的工作电压。

13、在一些实施例中，所述nand flash测试设备还包括：

14、上位机，所述上位机插接所述usb拓展器的数据线以与多个所述单片机通信连接。

15、本实用新型所提供的nand flash测试设备测试时，usb拓展器传输上位机下发的测试指令至单片机，各单片机对应将测试指令发送至其所对应的测试座，测试座根据测试指令以对其上所搭载的nand flash进行测试。本nand flash测试设备通过所设usb拓展器一拖多个单片机及测试座，每次可实现批量nand flash的测试，提高了测试效率。

技术特征：

1.一种nand flash测试设备，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的nand flash测试设备，其特征在于，所述测试座为可更换设置，所述测试座为spi测试座、ppi测试座和sd测试座中的一种。

3.根据权利要求1所述的nand flash测试设备，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求3所述的nand flash测试设备，其特征在于，还包括：

5.根据权利要求3所述的nand flash测试设备，其特征在于，还包括：

6.根据权利要求1-5任一项所述的nand flash测试设备，其特征在于，还包括：

技术总结本技术公开一种Nand flash测试设备，该Nand flash测试设备包括：USB拓展器，所述USB拓展器设有多个USB接口并具有连接上位机的数据线；多个单片机，每一个单片机分别与所述USB拓展器的一个所述USB接口通过连接线连接；多个测试座，每一个所述测试座分别与一个所述单片机通信连接，所述测试座用于搭载Nand flash以对Nand flash进行测试。本技术Nand flash测试设备通过所设USB拓展器一拖多个单片机及测试座，每次可实现批量Nand flash的测试，提高了测试效率。技术研发人员：孙文琪受保护的技术使用者：联和存储科技（江苏）有限公司技术研发日：20230628技术公布日：2024/1/5