NAND闪存SPI控制器的测试方法及系统与流程

本发明涉及存储器，特别涉及一种nand闪存spi控制器的测试方法及系统。

背景技术：

1、spi(serialperipheralinterface)nand闪存是一种基于工业标准nand闪存内核的闪存，为嵌入式系统提供性价比、高密度的非易失性存储器存储解决方案。它是spi-nor和标准并行nand闪存的一个有吸引力的替代品。

2、spi-nand闪存的串口通讯一般带有spi控制器，该spi控制器与nand闪存晶圆合封为一颗芯片。由于spi-nand闪存的性能，稳定性，兼容性都非常依赖于spi控制器，因此对于存储厂商来说，选择稳定可靠的spi控制器极为重要。

技术实现思路

1、本发明的主要目的是提出一种nand闪存spi控制器的测试方法及系统，以便于选择较高稳定性和可靠性的spi控制器。

2、为实现上述目的，本发明的一方面提出一种nand闪存spi控制器的测试方法，该方法包括：在nand闪存的块-页地址的页中写入数据；根据预置的断电时刻，断开nand闪存的电源并重新连接nand闪存的电源；校验已写页的数据是否被损坏。

3、在一些实施例中，断电时刻包括：在当前页写入完数据的时刻，或者在当前页写入数据途中的某一时刻。

4、在一些实施例中，根据预置的断电时刻，断开nand闪存的电源并重新连接nand闪存的电源包括：当在当前页写入完数据的时刻断开nand闪存的电源时，间隔15毫秒～25毫秒重新连接nand闪存的电源。

5、在一些实施例中，根据预置的断电时刻，断开nand闪存的电源并重新连接nand闪存的电源包括：当在当前页写入数据途中的某一时刻断开nand闪存的电源时，间隔450毫秒～550毫秒重新连接nand闪存的电源。

6、在一些实施例中，校验已写页的数据是否被损坏包括：读取已写页的数据；对比已写页的数据和数据校验目录。

7、在一些实施例中，在nand闪存的块-页地址的页中写入数据之前包括：指定块-页地址和块-页地址的数量。

8、本发明的另一方面提出一种nand闪存spi控制器的测试系统，该系统包括：多个测试位，用于连接nand闪存；单片机，通过spi通道分别与多个测试位连接；上位机，与单片机连接，用于提供单片机的运行环境；开关，用于开闭多个测试位的电源；其中，单片机用于执行如上述的nand闪存spi控制器的测试方法。

9、在一些实施例中，单片机还用于设定测试循环数，默认1循环为块-页地址的所有块，且每个块的至少页。

10、在一些实施例中，测试位包括电平转换器，用于转换支持1.8v和3.3v的nand闪存。

11、在一些实施例中，单片机包括至少8个从机选择端，测试位与从机选择端一一对应，从机选择端的从机选择信号经测试位传输至nand闪存的spi控制器。

12、与相关技术相比，本发明的nand闪存spi控制器的测试方法涉及了，在nand闪存中写入数据的过程中掉电的情况，从而能够检验spi控制器是否能在极端情况下保护已写入的数据，以此有利于筛选出较高稳定性和可靠性的spi控制器，改善spi-nand闪存的品质。

技术特征：

1.一种nand闪存spi控制器的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据预置的断电时刻，断开所述nand闪存的电源并重新连接所述nand闪存的电源包括：

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据预置的断电时刻，断开所述nand闪存的电源并重新连接所述nand闪存的电源包括：

4.根据权利要求2或3所述的测试方法，其特征在于，所述校验已写页的数据是否被损坏包括：

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述在nand闪存的块-页地址的页中写入数据之前包括：指定所述块-页地址和所述块-页地址的数量。

6.一种nand闪存spi控制器的测试系统，其特征在于，包括：

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述单片机还用于设定测试循环数，默认1循环为所述块-页地址的所有块，且每个所述块的至少页。

8.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述测试位包括电平转换器，用于转换支持1.8v和3.3v的nand闪存。

9.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述单片机包括至少8个从机选择端，所述测试位与所述从机选择端一一对应，所述从机选择端的从机选择信号经所述测试位传输至所述nand闪存的spi控制器。

技术总结本发明公开一种NAND闪存SPI控制器的测试方法及系统，该测试方法包括：在NAND闪存的块‑页地址的页中写入数据；根据预置的断电时刻，断开NAND闪存的电源并重新连接NAND闪存的电源；校验已写页的数据是否被损坏。该测试系统包括：多个测试位，用于连接NAND闪存；单片机，通过SPI通道分别与多个测试位连接；上位机，与单片机连接，用于提供单片机的运行环境；开关，用于开闭多个测试位的电源；单片机用于执行如上述的测试方法。本发明的测试因素涉及了在NAND闪存中写入数据的过程中掉电的情况，从而能够检验SPI控制器是否能在极端情况下保护已写入的数据，以此有利于筛选出较高稳定性和可靠性的SPI控制器，改善SPI‑NAND闪存的品质。技术研发人员：孙文琪,高伟受保护的技术使用者：联和存储科技（江苏）有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/16