存储器的测试方法及测试装置、电子设备和可读存储介质与流程

本公开涉及存储器测试，尤其涉及一种存储器的测试方法及测试装置、电子设备和可读存储介质。

背景技术：

1、存储器测试领域中，为了尽可能的使得测试的结果更加准确，需要尽可能的插入不同的cas指令。但是，cas指令的使用场景要求和时序均必须满足存储器中的协议规范。并且各个cas指令之间是存在相关性的，因此各个cas指令之间也必须满足协议规范，不能够出现错误的情况，以影响后续的操作。

2、但是，目前在本领域中所采用的存储器测试方法为了满足协议规范，不能够实现尽可能插入不同cas指令的要求，这也就使得现有的存储器测试方法无法模拟存储器在实际使用过程中可能遇到的所有情况，并且操作较为复杂。

3、需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

1、本公开的目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种存储器的测试方法及测试装置、电子设备和可读存储介质。该存储器的测试方法能够尽可能全面的模拟存储器在实际使用过程中可能遇到的所有情况。

2、本公开一方面提供了一种存储器的测试方法，包括：

3、向存储器发送指令信号，所述指令信号包括随机产生的写入指令或读出指令；

4、检测所述指令信号的具体类型，以在所述指令信号之前随机插入保证所述指令信号运行的有效cas指令，且随机产生并插入与所述指令信号无关的冗余cas指令和/或无效命令；

5、使所述存储器运行所述指令信号、插入的所述有效cas指令、所述冗余cas指令和/或所述无效命令，并测试所述存储器的运行情况。

6、在本公开的一种示例性实施例中，所述在所述指令信号之前随机插入保证所述指令信号运行的有效cas指令，且随机产生并插入与所述指令信号无关的冗余cas指令和/或无效命令，包括：

7、检测前一所述有效cas指令的类型并判断是否可以保证当前所述指令信号的执行；

8、若是，则检测当前所述指令信号与前一所述有效cas指令之间的时间间隔；

9、判断所述时间间隔和将要插入的无效命令的时间总和是否大于前一所述有效cas指令的维持时间，在所述维持时间内，所述写入指令或所述读出指令能够被执行；

10、若所述时间总和大于所述维持时间，则判断所述时间间隔是否大于所述维持时间，若是，则在当前所述指令信号之前插入保证所述指令信号运行的所述有效cas指令，且在插入的所述有效cas指令和当前所述指令信号之间随机插入所述冗余cas指令和/或所述无效命令。

11、在本公开的一种示例性实施例中，还包括：若所述时间间隔等于所述维持时间，则在剩余所述维持时间内，执行当前所述指令信号，或者，则插入保证当前所述指令信号运行的所述有效cas指令，并在插入的所述有效cas指令的维持时间内先插入所述冗余cas指令和/或所述无效命令再执行当前所述指令信号。

12、在本公开的一种示例性实施例中，还包括：若所述时间间隔小于所述维持时间，则在剩余所述维持时间内直接执行当前所述指令信号，或者，则在剩余所述维持时间内，先插入所述冗余cas指令和/或所述无效命令，再执行当前所述指令信号，或者，则插入保证当前所述指令信号运行的所述有效cas指令，并在插入的所述有效cas指令的维持时间内先插入所述冗余cas指令和/或所述无效命令再执行当前所述指令信号。

13、在本公开的一种示例性实施例中，还包括：若所述时间总和等于所述维持时间，则插入所述无效命令，且在剩余所述维持时间内执行当前所述指令信号，或者，在插入所述无效命令后插入保证当前所述指令信号运行的所述有效cas指令，并在插入的所述有效cas指令的维持时间内插入所述冗余cas指令后执行当前所述指令信号。

14、在本公开的一种示例性实施例中，还包括：若所述时间总和小于所述维持时间，则插入所述无效命令，且在剩余所述维持时间内先插入所述冗余cas指令，再执行当前所述指令信号，或者，在插入所述无效命令后插入保证当前所述指令信号运行的所述有效cas指令，并在插入的所述有效cas指令的维持时间内插入所述冗余cas指令并执行当前所述指令信号。

15、在本公开的一种示例性实施例中，所述维持时间为前一所述有效cas指令的最大维持时间，或者，前一所述有效cas指令的最小维持时间，或者，所有所述有效cas指令的平均维持时间。

16、在本公开的一种示例性实施例中，在前一所述有效cas指令的维持时间内插入的所述有效cas指令之后，在当前所述指令信号之前，插入的所述冗余cas指令和/或无效命令总共不超过7个。

17、在本公开的一种示例性实施例中，所述测试方法还包括：

18、在所述指令信号之前随机插入保证所述指令信号运行的有效cas指令，且随机产生并插入与所述指令信号无关的冗余cas指令和/或无效命令时，对随机插入的所述有效cas指令、随机产生并插入的所述无关的冗余cas指令和无效命令的数量进行统计；

19、在所述存储器运行完当前时钟周期内的所述指令信号、插入的所述有效cas指令、所述冗余cas指令和/或所述无效命令之后，将在当前时钟周期内统计的所述有效cas指令、所述冗余cas指令和所述无效命令的数量清零。

20、在本公开的一种示例性实施例中，检测前一所述有效cas指令的类型包括：

21、当检测到的前一所述有效cas指令的类型为cas_fs指令时，保留所述cas_fs指令；

22、当检测到的前一所述有效cas指令的类型为除cas_fs指令之外的其余cas指令时，忽略所述其余cas指令。

23、在本公开的一种示例性实施例中，随机产生并插入的所述冗余cas指令的数量为多个，所述冗余cas指定具有多种类型。

24、在本公开的一种示例性实施例中，所述冗余cas指令信号包括：cas_wrx指令、cas_wrsb指令和cas_dc指令中的一种或多种；

25、其中，所述cas_wrx指令用于随机写入数据，所述cas_wrsb指令用于重复写入高字节数据，所述cas_dc指令用于拷贝第一次突发的数据并存储。

26、在本公开的一种示例性实施例中，所述写入指令包括：存储器写入指令和寄存器写入指令；

27、所述读出指令包括：存储器读出指令和寄存器读出指令。

28、本公开另一方面提供了一种存储器的测试装置，包括：

29、指令信号发生器，与所述存储器连接，且所述指令信号发生器用于向所述存储器发送指令信号；

30、检测器，与所述指令信号发生器连接，用于检测所述指令信号的具体类型；

31、随机信号发生器，与所述检测器连接，且所述随机信号发生器用于在所述指令信号之前随机插入保证所述指令信号运行的有效cas指令，且随机产生并插入与所述指令信号无关的冗余cas指令和/或无效命令；

32、测试器，与所述存储器连接，用于测试存储器的运行情况；

33、其中，所述指令信号包括随机产生的写入指令或读出指令。

34、在本公开的一种示例性实施例中，所述随机信号发生器包括：

35、检测组件，用于检测前一所述有效cas指令的类型，并用于检测当前所述指令信号与前一所述有效cas指令之间的时间间隔；

36、判断组件，用于判断前一所述有效cas指令是否可以保证当前所述指令信号的执行，并用于判断所述时间间隔和将要插入的无效命令的时间总和是否大于前一所述有效cas指令的维持时间，以及用于在所述时间总和大于所述维持时间时，判断所述时间间隔是否大于所述维持时间；

37、信号发生组件，用于在所述时间间隔大于所述维持时间时，在当前所述指令信号之前随机插入保证所述指令信号运行的有效cas指令，且用于在插入的所述有效cas指令和当前所述指令信号之间随机插入所述冗余cas指令和/或所述无效命令。

38、在本公开的一种示例性实施例中，所述测试装置还包括：

39、计数器，用于对随机插入的所述有效cas指令、随机产生并插入的所述无关的冗余cas指令和所述无效命令的数量进行统计。

40、本公开的再一方面提供了一种电子设备，包括：

41、处理器；以及

42、存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；

43、其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行上述任意一项所述的存储器的测试方法。

44、本公开的又一方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项所述的存储器的测试方法。

45、本公开提供的技术方案可以达到以下有益效果：

46、本公开提供了一种存储器的测试方法，该存储器的测试方法能够随机产生写入指令或者读出指令，以此增加了该测试方法的随机性，也就能够扩大测试的场景覆盖率，以检测存储器在各个场景下的运行情况。

47、并且，该存储器的测试方法还能够检测指令信号的具体类型，以在指令信号之前随机插入保证指令信号运行的有效cas指令，且能够随机产生并插入与指令信号无关的冗余cas指令和/或无效命令。

48、也就因该，测试方法能够保证所插入的cas指令均符合协议规范的要求，使得测试过程中不会出现错误的情况而影响后续的测试和操作。

49、并且，随机产生和插入cas指令和无效命令还能够进一步地提高该测试方法的随机性，使得其在测试的过程中能够尽可能全面的模拟存储器在实际使用过程中可能遇到的所有情况。

50、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。