一种闪存的测试方法及测试设备与流程

本发明涉及储存设备测试领域，具体涉及一种闪存的测试方法及测试设备。

背景技术：

1、闪存具有容量大、数据不易丢失等特性，已经被广泛用于诸如手机，电脑等计算机设备，在闪存的测试中需要对大量的闪存进行多种功能的验证，例如：寿命测试、可靠性测试、一致性测试等。目前对闪存的测试工具相对固化，灵活度不高，不能适应变化多样，测试数据量很大的测试验证。

2、通过在硬件方面一拖多设备，可以一次性测试多个闪存，以解决样品数量多的问题，在软件方面一拖一，可以使得每个样品单独进行测试，还可以进行批量测试，通过测试脚本输入测试用例，可以不用更改闪存主控就达到多功能测试的效果。

技术实现思路

1、本发明主要解决的技术问题是提供一种闪存的测试方法及测试设备，以满足闪存测试中样品量大，测试功能多样的需求。

2、为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是提供一种闪存的测试方法，所述测试方法用于通过一个控制系统测试多个闪存，所述测试方法包括：

3、通过所述控制系统与多个单片机通信，并将所述单片机模拟成一一对应的磁盘，获取每个所述单片机所连接的主控芯片的状态；

4、通过所述控制系统将测试文件发送给指定的所述单片机；

5、通过所述单片机发送所述测试文件至主控芯片；

6、所述主控芯片解析所述测试文件，获取测试需求，进行测试，并反馈测试结果。

7、其中，所述主控芯片解析所述测试文件，获取测试需求，进行测试，并反馈测试结果的步骤包括：

8、所述主控芯片解析所述测试文件，获取测试需求；

9、判断测试需求是否需要反馈；

10、若判断测试需求需要反馈，则将所述测试需求反馈至所述单片机；

11、所述单片机将所述测试需求反馈至所述控制系统；

12、所述控制系统解析所述测试需求，获取测试信息，并将所述测试信息发送至测试工具；

13、所述控制系统接收所述测试工具的工作信息，并通过所述单片机接收所述主控芯片反馈的所述闪存的状态信息；

14、若判断测试需求不需要反馈，则所述主控芯片根据所述测试需求进行相应操作，并将所述闪存的状态信息通过所述单片机反馈至所述控制系统。

15、其中，在通过所述控制系统与多个单片机通信，并将所述单片机模拟成一一对应的磁盘，获取每个所述单片机所连接的主控芯片的状态的步骤前，所述测试方法还包括：

16、对所述单片机和/或所述主控芯片进行更新。

17、其中，对所述单片机进行更新的步骤包括：

18、通过所述控制系统发送更新命令以及更新数据至所述单片机；

19、所述单片机进行更新并重启；

20、所述控制系统连接所述单片机，并查询所述单片机的更新结果；

21、所述控制系统记录所述单片机的更新结果，并反馈；

22、对所述主控芯片或所述主控芯片和所述单片机进行更新的步骤包括：

23、通过所述控制系统发送更新命令以及更新数据至所述单片机以及所述主控芯片；

24、所述主控芯片或所述主控芯片和所述单片机进行更新并重启；

25、所述控制系统连接所述单片机，并查询所述主控芯片或所述主控芯片和所述单片机的更新结果；

26、所述控制系统记录所述主控芯片或所述主控芯片和所述单片机的更新结果，并反馈。

27、其中，通过所述控制系统与多个单片机通信，并将所述单片机模拟成一一对应的磁盘，获取每个所述单片机所连接的主控芯片的状态的步骤包括：

28、通过所述控制系统与多个单片机通信，并将所述单片机模拟成一一对应的磁盘；

29、通过所述控制系统中侧磁盘模拟工具下发查询指令至每个模拟成所述磁盘的所述单片机；

30、所述单片机下发所述查询指令至所述主控芯片；

31、所述主控芯片查看自身是否连接有所述闪存，并通过所述单片机将结果反馈至所述磁盘模拟工具；

32、所述磁盘模拟工具将各个所述主控芯片反馈的结果对应的写入带有磁盘列表的文件中。

33、其中，所述测试方法还包括：

34、所述磁盘模拟工具定期查询各个所述主控芯片是否连接有所述闪存。

35、其中，通过所述控制系统将测试文件发送给指定的所述单片机的步骤包括：

36、所述控制系统通过usb总线与所述单片机建立通信；

37、所述控制系统将所述测试文件转为二进制文件下发给所述单片机。

38、其中，所述控制系统解析所述测试需求，获取测试信息，并将所述测试信息发送至测试工具的步骤包括：

39、所述控制系统解析所述测试需求，获取测试信息；

40、判断控温标志是否改变；

41、若所述控制标志改变，则连接测试工具；

42、根据所述测试信息，获取温度信息；

43、根据所述温度信息，设置所述测试工具的温度；

44、获取所述测试工具的温度信息，判断是否到达预定温度；

45、若未到达预定温度，则等待预设时间后，继续进行判断；

46、若已到达预定温度，则将温度控制结果发送至所述单片机，并由所述单片机发送至所述主控芯片。

47、其中，所述测试方法还包括：所述单片机给所述主控芯片下载固件。

48、为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是提供一种闪存测试设备，所述闪存测试设备包括：控制系统；多个单片机，连接所述控制系统；多个主控芯片，每个单片机连接至少一个所述主控芯片；

49、所述闪存测试设备执行如本发明第一个技术方案中中任意一项所述的测试方法。

50、本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明可以进行大量闪存的多种功能的测试，包括但不限于寿命测试、可靠性测试、一致性测试等，测试脚本能够通用并且能够快速完整的验证一款闪存的质量好坏。

技术特征：

1.一种闪存的测试方法，其特征在于，所述测试方法用于通过一个控制系统测试多个闪存，所述测试方法包括：

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述主控芯片解析所述测试文件，获取测试需求，进行测试，并反馈测试结果的步骤包括：

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，在通过所述控制系统与多个单片机通信，并将所述单片机模拟成一一对应的磁盘，获取每个所述单片机所连接的主控芯片的状态的步骤前，所述测试方法还包括：

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，对所述单片机进行更新的步骤包括：

5.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，通过所述控制系统与多个单片机通信，并将所述单片机模拟成一一对应的磁盘，获取每个所述单片机所连接的主控芯片的状态的步骤包括：

6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

7.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，通过所述控制系统将测试文件发送给指定的所述单片机的步骤包括：

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述控制系统解析所述测试需求，获取测试信息，并将所述测试信息发送至测试工具的步骤包括：

9.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

10.一种闪存测试设备，其特征在于，所述闪存测试设备包括：

技术总结本发明公开了一种闪存的测试方法及测试设备，所述测试方法包括：通过所述控制系统与多个单片机通信，并将所述单片机模拟成一一对应的磁盘，获取每个所述单片机所连接的主控芯片的状态；通过所述控制系统将测试文件发送给指定的所述单片机；通过所述单片机发送所述测试文件至主控芯片；所述主控芯片解析所述测试文件，获取测试需求，进行测试，并反馈测试结果。通过硬件一拖多设备可以一次性测试多个闪存样品，通过软件一拖一可以单独进行测试和批量测试。技术研发人员：卞瑶,刘星,柳耿受保护的技术使用者：中山市江波龙电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/2/1