存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备与流程

本发明涉及存储设备测试，特别是涉及一种存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备。

背景技术：

1、latency（延迟）是存储器设备常见的性能测试指标之一，指存储器完成一个io(输入输出，input/output)请求所需要的时间。

2、目前，在现有的存储器latency置信级测试方案中，通常是在安卓系统内通过下发纯读、纯写或读写混合命令测试存储器在某一特定读写场景下的latency置信级。由于测试过程未贴合用户的实际使用场景，因而测试出的latency置信级数据可靠性较低，无法精确的评估存储器的性能。

技术实现思路

1、本发明所要解决的技术问题是：提供一种存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，能够精确测量出存储器的性能。

2、为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

3、一种存储器性能测试方法，包括：

4、在引导加载阶段启动待测试的存储器，并设置所述存储器的运行模式；

5、对所述存储器进行预设次数的全盘顺序写；

6、以预设数据对所述存储器进行全盘随机写；

7、获取预设数量的io，对所述存储器进行读写延迟测试；

8、获取每一所述io对应的测试结果，生成所述存储器对应的测试结果。

9、为了解决上述技术问题，本发明采用的另一技术方案为：

10、一种存储器性能测试装置，包括：

11、引导模块，用于在引导加载阶段启动待测试的存储器，并设置所述存储器的运行模式；

12、顺序写模块，用于对所述存储器进行预设次数的全盘顺序写；

13、随机写模块，用于以预设数据对所述存储器进行全盘随机写；

14、测试模块，用于获取预设数量的io，对所述存储器进行读写延迟测试；

15、输出模块，用于获取每一所述io对应的测试结果，生成所述存储器对应的测试结果。

16、为了解决上述技术问题，本发明采用的另一技术方案为：

17、一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的一种存储器性能测试方法中的各个步骤。

18、为了解决上述技术问题，本发明采用的另一技术方案为：

19、一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述的一种存储器性能测试方法中的各个步骤。

20、本发明的有益效果在于：通过在测试过程的引导加载阶段启动存储器，并设置存储器的运行模式，能够通过切换存储器的运行模式使得存储器处于最佳的测试条件下，再通过对存储器进行全盘顺序写以确保存储器进入稳态后，对存储器再进行全盘随机写，使得存储器内数据碎片化，保证存储器在最佳的运行模式下同时考虑存储器实际使用过程中的稳态和碎片化数据进行测试，从而能够反映存储器在实际工作中的最佳状态，更能够体现出存储器的真实性能。

技术特征：

1.一种存储器性能测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，以little kernel作为引导加载程序；

3.根据权利要求2所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，所述在引导加载阶段启动待测试的存储器，并设置所述存储器的运行模式包括：

4.根据权利要求1所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，所述对所述存储器进行预设次数的全盘顺序写包括：

5.根据权利要求1所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，所述预设数据为4k数据；

6.根据权利要求5所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，所述4k数据为随机数据或固定数据。

7.根据权利要求1所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，所述获取预设数量的io，对所述存储器进行读写延迟测试包括：

8.根据权利要求1所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，所述获取每一所述io对应的测试结果，生成所述存储器对应的测试结果包括：

9.根据权利要求8所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，所述统计每一所述io对应的延迟值，得到所述测试结果包括：

10.根据权利要求9所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，所述抽取所述延迟数列中前预设个数的所述io对应的延迟值生成置信图包括：

11.根据权利要求10所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，所述io的数量不少于一百万个；

12.根据权利要求1所述的一种存储器性能测试方法，其特征在于，所述对所述存储器进行读写延迟测试包括：

13.一种存储器性能测试装置，其特征在于，包括：

14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-12任一项所述的一种存储器性能测试方法中的各个步骤。

15.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-12任一项所述的一种存储器性能测试方法中的各个步骤。

技术总结本发明提供了一种存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，通过在测试过程的引导加载阶段启动存储器，并设置存储器的运行模式，能够通过切换存储器的运行模式使得存储器处于最高速率模式，再通过对存储器进行全盘顺序写以确保存储器进入稳态后，对存储器再进行全盘随机写，使得存储器内数据碎片化，保证存储器在最佳的运行模式下同时考虑存储器实际使用过程中的稳态和碎片化数据进行测试，从而能够反映存储器在实际工作中的最佳状态，更能够体现出存储器的真实性能。技术研发人员：孙成思,何瀚,王灿,赵颖受保护的技术使用者：成都佰维存储科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/2/1