存储器装置与存储器测试方法与流程

本申请涉及存储领域，具体涉及一种存储器装置与存储器测试方法。

背景技术：

1、现有的存储器测试方案中，若要对存储器进行测试来找出存在错误的存储器单元，需要额外使用多个逻辑电路与解码电路来处理存储器的测试信息。因此，将引入明显的电路延迟以及使整体电路面积变大，从而导致电路堵塞以及存储器测试成本明显增加。

技术实现思路

1、本申请的目的之一在于提供一种可定位出失效存储器单元与其故障类型的存储器装置与存储器测试方法，以改善现有技术的不足。

2、在一些实施例中，存储器装置包括图样产生电路、多个存储器模块以及逻辑电路。图样产生电路产生一测试图样数据、一测试地址以及一参考数据。多个存储器模块根据所述测试图样数据、所述测试地址以及所述参考数据对执行一内建自测试，以产生多个测试结果。逻辑电路根据所述多个测试结果产生一指示信号。当所述多个测试结果中的一第一测试结果指示为失效时，所述图样产生电路响应所述指示信号保持所述测试地址，并根据所述测试地址与多个预定图样数据测试所述多个存储器模块中对应于所述第一测试结果的一第一存储器模块，以根据所述第一存储器模块基于所述多个预定图样数据产生的一定位测试结果确认所述第一存储器模块中的一失效存储器单元。

3、在一些实施例中，存储器测试方法包括下列操作：通过一图样产生电路产生一测试图样数据、一测试地址以及一参考数据；通过多个存储器模块根据所述测试图样数据、所述测试地址以及所述参考数据执行一内建自测试，以产生多个测试结果；根据所述多个测试结果产生一指示信号；当所述多个内建自测试结果中的一第一测试结果指示为失效时，通过所述图样产生电路响应所述指示信号保持所述测试地址，并根据所述测试地址与多个预定图样数据测试所述多个存储器模块中对应于所述第一测试结果的一第一存储器模块，以产生一定位测试结果；以及根据所述定位测试结果确认所述第一存储器模块中的一失效存储器单元。

4、有关本申请的特征、实作与功效，现配合附图作较佳实施例详细说明如下。

技术特征：

1.一种存储器装置，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的存储器装置，其特征在于，当所述第一测试结果指示为失效时，所述图样产生电路响应所述指示信号停止更新所述测试地址，以保持所述测试地址。

3.如权利要求1所述的存储器装置，其特征在于，所述定位测试结果为多个数值中的其中一个，且所述多个数值均是基于所述失效存储器单元的一固定型故障以及所述多个预定图样数据产生的一加权总和。

4.如权利要求1所述的存储器装置，其特征在于，所述图样产生电路还能够产生一第一翻转信号与一第二翻转信号给所述第一存储器模块，所述第一存储器模块根据所述第一翻转信号与所述第二翻转信号组合所述多个预定图样数据为一测试数据，并根据所述测试数据进行测试以产生所述定位测试结果。

5.如权利要求4所述的存储器装置，其特征在于，所述第一存储器模块将所述多个预定图样数据组合为一测试向量，并复制所述测试向量以产生所述测试数据的一第一字节与一第二字节，根据所述第一翻转信号选择性地将所述第一字节进行逻辑反相，并根据所述第二翻转信号选择性地将第一字节以及所述第二字节中每一个的一半位进行逻辑反相。

6.如权利要求1所述的存储器装置，其特征在于，所述图样产生电路包括：

7.如权利要求6所述的存储器装置，其特征在于，所述图样产生电路还包括：

8.如权利要求1所述的存储器装置，其特征在于，所述第一存储器模块包括：

9.如权利要求8所述的存储器装置，其特征在于，所述内建自测试电路还能够根据基于所述多个预定图样数据测试所述存储器电路，以产生所述定位测试结果。

10.如权利要求8所述的存储器装置，其特征在于，所述内建自测试电路包括：

11.一种存储器测试方法，其特征在于，包括：

12.如权利要求11所述的存储器测试方法，其特征在于，当所述多个测试结果中的所述第一测试结果指示为失效时，通过所述图样产生电路响应所述指示信号保持所述测试地址，并根据所述测试地址与多个预定图样数据测试所述第一存储器模块，以产生所述定位测试结果包括：

13.如权利要求11所述的存储器测试方法，其特征在于，当所述多个测试结果中的所述第一测试结果指示为失效时，通过所述图样产生电路响应所述指示信号保持所述测试地址，并根据所述测试地址与多个预定图样数据测试所述第一存储器模块，以产生所述定位测试结果包括：

14.如权利要求11所述的存储器测试方法，其特征在于，还包括：

15.如权利要求14所述的存储器测试方法，其特征在于，还包括：

技术总结本申请公开了一种存储器装置与存储器测试方法，其中，存储器测试方法包括下列操作：通过图样产生电路产生测试图样数据、测试地址以及参考数据；通过多个存储器模块根据测试图样数据、测试地址以及参考数据执行内建自测试，以产生多个测试结果；根据多个测试结果产生指示信号；当多个测试结果中的第一结果指示为失效时，通过图样产生电路响应指示信号保持测试地址，并根据测试地址与多个预定图样数据测试多存储器模块中对应于所述第一结果的第一存储器模块，以产生定位测试结果；以及根据定位测试结果确认第一存储器模块中的失效存储器单元。技术研发人员：诸程杰,蔡政宏,郑贵鸿,潘佳河,沈剑楠受保护的技术使用者：星宸科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/2/1