一种测试电路板和测试装置的制作方法

本申请涉及存储芯片测试领域，尤其涉及一种测试电路板和测试装置。

背景技术：

1、随着智能技术的高速发展，存储芯片在其中有着十分重要的作用。在存储芯片的开发过程中，需要对存储芯片进行测试，在测试通过之后才能进行实际的投产，对存储芯片进行模拟测试，达到测试结果接近存储芯片的真实性能结果。

2、随着半导体行业的快速发展，存储芯片种类繁多，涉及的主控搭配方案各不同，同时存储芯片需要进行高温老化分选等级，导致需要大批量进行高温稳定性测试，测试前后都需要进行开卡测试,进行测试前需要获取产品id，常规设计采用的一个主控只支持一个flash，现需要设计一个可以兼容各种主控方案需求，以提高测试效率，实现多平台测试。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种能够适配所有主控方案和存储芯片的测试，提高测试效率的测试电路板和测试装置。

2、本申请公开了一种测试电路板，所述测试电路板包括测试公板、桥接芯片和拨码开关模块，所述桥接芯片和所述拨码开关模块集成设置在所述测试公板上；所述测试电路板还包括外部信号接口，所述外部信号接口一端与所述桥接芯片连接，另一端与外部设备连接，所述测试公板上还设有信号连接器和电源连接器，所述信号连接器的第一输入端与所述电源连接器连接，所述信号连接器的第二输入端与所述桥接芯片连接，所述信号连接器的第三输入端与所述拨码开关模块连接；其中，所述拨码开关模块用于调节输入输出接口配置，以输入不同的信号至所述信号连接器实现不同存储芯片的信号测试。

3、可选的，所述外部信号接口为usb接口。

4、可选的，所述信号连接器设有两个，分别为第一信号连接器和第二信号连接器，所述拨码开关的第一输出端与所述第一信号连接器的第一输入端连接，所述拨码开关的第二输出端与所述第二信号连接器的第一输入端连接；所述桥接芯片的输出端分别与所述第一信号连接器的第二输入端以及所述第二信号连接器的第二输入端连接；所述第一信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第一输入端，所述第二信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第二输入端。

5、可选的，所述电源连接器设有两个，分别为第一电源连接器和第二电源连接器，所述第一信号连接器的输出端连接所述第一电源连接器，所述第二信号连接器的输出端连接所述第二电源连接器，所述第一信号连接器与所述第一电源连接器平行且相对设置，所述第二信号连接器与所述第二电源连接器平行且相对设置。

6、可选的，所述第一信号连接器与所述拨码开关模块的距离小于所述第一电源连接器与所述拨码开关模块的距离；所述第二信号连接器与所述拨码开关模块的距离小于所述第二电源连接器与所述拨码开关模块的距离。

7、可选的，所述第一信号连接器包括第一连接座子，所述第二信号连接器包括第二连接座子，所述第一电源连接器包括第三连接座子，所述第二电源连接器包括第四连接座子，所述第一连接座子与所述第二连接座子为同一型号的连接座子，所述第三连接座子与所述第四连接座子为同一型号的连接座子，所述第一连接座子和所述第三连接座子为不同类型的连接座子。

8、可选的，所述第一信号连接器的第一输入端连接所述第二电源连接器，所述第二信号连接器的第一输入端连接所述第一电源连接器。

9、可选的，所述信号连接器设有两个，分别为第一信号连接器和第二信号连接器，所述拨码开关的第一输出端与所述第一信号连接器的第一输入端连接，所述拨码开关的第二输出端与所述第二信号连接器的第一输入端连接；所述桥接芯片的输出端分别与所述第一信号连接器的第二输入端以及所述第二信号连接器的第二输入端连接；所述第一信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第一输入端，所述第二信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第二输入端。

10、可选的，所述第一信号连接器与所述第二信号连接器在所述测试公板上垂直分布，所述第一电源连接器与所述第一信号连接器，以及所述第二信号连接器呈门字型分布。

11、可选的，所述信号连接器设置在所述电源连接器与所述拨码开关模块之间，所述桥接芯片与所述拨码开关模块平行设置，所述桥接芯片设置在所述测试公板的第一面，所述拨码开关模块设置在所述测试公板与所述第一面相对的第二面，所述拨码开关模块与所述桥接芯片设置在所述usb接口与所述信号连接器之间。

12、本申请还公开了一种测试装置，所述测试装置包括上位机以及如上任一所述的测试电路板，所述上位机与所述测试电路板的外部信号接口连接。

13、相对于现有的测试电路板来说，本申请的测试电路板采用一个测试公板设置，信号连接器和电源连接器连接到待测试的存储芯片，通过拨码开关模块可以调节不同的输入输出接口(io)配置，达到支持多种主控方案和存储芯片；提升产品兼容性，减少备板库存，因为使用该测试公板，测试数据可以达到更好的对比效果，同时提高测试效率，节约成本，达到生产测试需求，待测试的存储芯片的主控有很多id，拨码开关模块根据需求进行灵活配置，任意组合以实现不同产品对应的不同主控的测试，以提高测试效率。

技术特征：

1.一种测试电路板，其特征在于，所述测试电路板包括测试公板、桥接芯片和拨码开关模块，所述桥接芯片和所述拨码开关模块集成设置在所述测试公板上；

2.如权利要求1所述的测试电路板，其特征在于，所述外部信号接口为usb接口。

3.如权利要求1所述的测试电路板，其特征在于，所述信号连接器设有两个，分别为第一信号连接器和第二信号连接器，所述拨码开关的第一输出端与所述第一信号连接器的第一输入端连接，所述拨码开关的第二输出端与所述第二信号连接器的第一输入端连接；所述桥接芯片的输出端分别与所述第一信号连接器的第二输入端以及所述第二信号连接器的第二输入端连接；所述第一信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第一输入端，所述第二信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第二输入端。

4.如权利要求3所述的测试电路板，其特征在于，所述电源连接器设有两个，分别为第一电源连接器和第二电源连接器，所述第一信号连接器的输出端连接所述第一电源连接器，所述第二信号连接器的输出端连接所述第二电源连接器，所述第一信号连接器与所述第一电源连接器平行且相对设置，所述第二信号连接器与所述第二电源连接器平行且相对设置。

5.如权利要求4所述的测试电路板，其特征在于，所述第一信号连接器与所述拨码开关模块的距离小于所述第一电源连接器与所述拨码开关模块的距离；所述第二信号连接器与所述拨码开关模块的距离小于所述第二电源连接器与所述拨码开关模块的距离。

6.如权利要求4所述的测试电路板，其特征在于，所述第一信号连接器包括第一连接座子，所述第二信号连接器包括第二连接座子，所述第一电源连接器包括第三连接座子，所述第二电源连接器包括第四连接座子，所述第一连接座子与所述第二连接座子为同一型号的连接座子，所述第三连接座子与所述第四连接座子为同一型号的连接座子，所述第一连接座子和所述第三连接座子为不同类型的连接座子。

7.如权利要求5所述的测试电路板，其特征在于，所述第一信号连接器的第一输入端连接所述第二电源连接器，所述第二信号连接器的第一输入端连接所述第一电源连接器。

8.如权利要求4所述的测试电路板，其特征在于，所述第一信号连接器与所述第二信号连接器在所述测试公板上垂直分布，所述第一电源连接器与所述第一信号连接器，以及所述第二信号连接器呈门字型分布。

9.如权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，所述信号连接器设置在所述电源连接器与所述拨码开关模块之间，所述桥接芯片与所述拨码开关模块平行设置，所述桥接芯片设置在所述测试公板的第一面，所述拨码开关模块设置在所述测试公板与所述第一面相对的第二面，所述拨码开关模块与所述桥接芯片设置在所述usb接口与所述信号连接器之间。

10.一种测试装置，其特征在于，包括上位机以及如权利要求1-9任意一项所述的测试电路板，所述上位机与所述测试电路板的外部信号接口连接。

技术总结本申请公开了一种测试电路板和测试装置，测试电路板包括测试公板、桥接芯片和拨码开关模块，桥接芯片和拨码开关模块集成设置在测试公板上；测试电路板还包括外部信号接口，外部信号接口一端与桥接芯片连接，另一端与外部设备连接，测试公板上还设有信号连接器和电源连接器信号连接器的第一输入端与电源连接器连接，信号连接器的第二输入端与桥接芯片连接，信号连接器的第三输入端与拨码开关模块连接；拨码开关模块用于调节输入输出接口配置，以输入不同的信号至信号连接器实现不同存储芯片的信号测试。本申请通过测试电路板的拨码开关模块调节不同的输入输出接口配置，从而达到一个测试公板适配所有的主控和存储芯片的测试，以提高测试效率。技术研发人员：贺杨鑫,俞文全,李华星受保护的技术使用者：深圳市时创意电子有限公司技术研发日：20230810技术公布日：2024/2/29