面向一次性可编程自动化芯片系统验证方法、装置及终端与流程

本发明涉及集成电路设计，特别是涉及一种面向一次性可编程自动化芯片系统验证方法、装置及终端。

背景技术：

1、数字芯片中有一种存储器存放芯片秘钥和关闭使能项等重要信息，用于芯片的生产和测试。这些重要信息要求只能烧写一次。这类信息叫做otp(one time program，面向一次性可编程)存储器。现有芯片的系统验证，otp验证都是随着发布的设计版本的不同，每个版本都有不同的otp内容项。有些内容项经常删减，甚至从原来的位置变更到新的位置，有96项甚至更多。每次发布版本都需要一个一个的检查更改内容，然后在手动更改测试用例和测试平台。这样每个设计版本发布，都要做相同的工作，费时费力，而且在诸多程序更改过程中很容易出错，造成芯片验证不充分。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种面向一次性可编程自动化芯片系统验证方法、装置及终端，用于解决以上现有技术问题。

2、为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种面向一次性可编程自动化芯片系统验证方法，所述方法包括：基于发布的当前版本的otp存储器设计文档生成对应的关闭位信息输入文件；其中，所述关闭位信息输入文件包括：当前版本的otp存储器设计文档中所有模块关闭位的关闭位信息；若当前版本为初始版本，则基于对应的关闭位信息输入文件生成当前版本对应的所有模块关闭位的测试数据，以供进行otp的芯片系统验证；其中，所述测试数据包括：测试用例和测试平台代码；若当前版本为非初始版本，则基于上一版本以及当前版本的所分别对应的关闭位信息输入文件确定发生变更的模块关闭位，并基于发生变更的各模块关闭位的关闭位信息获得当前版本对应的所有模块关闭位的测试数据，以供进行otp的芯片系统验证。

3、于本发明的一实施例中，所述基于发布的当前版本的otp存储器设计文档生成对应的关闭位信息输入文件包括：提取当前版本的otp存储器设计文档中所有模块关闭位的关闭位名称、偏移地址和位信息；将每个模块关闭位的关闭位名称、偏移地址和位信息分别作为各模块关闭位的关闭位信息保存，生成关闭位信息输入文件；其中，各模块关闭位的关闭位信息保存至关闭位信息输入文件不同行，且每个模块关闭位的关闭位信息中关闭位名称、偏移地址和位信息之间间隔两个空格位保存。

4、于本发明的一实施例中，所述提取当前版本的otp存储器设计文档中所有模块关闭位的关闭位名称、偏移地址和位信息包括：将当前版本的otp存储器设计文档中所有非空元素分别作为模块关闭位，将每个非空元素的名称作为对应模块关闭位的关闭位名称进行提取，且将每个非空元素对应的列信息以及行信息分别作为对应模块关闭位的偏移地址以及位信息进行提取。

5、于本发明的一实施例中，将当前版本对应的关闭位信息输入文件中所有模块关闭位的关闭位信息与上一版本对应的关闭位信息输入文件中所有模块关闭位的关闭位信息进行比对，获得发生变更的各模块关闭位的关闭位信息包括：将当前版本对应的关闭位信息输入文件中每一行分别对比上一版本对应的关闭位信息输入文件中所有行；若当前版本以及上一版本对应的关闭位信息输入文件存在具有相同关闭位名称且偏移地址和位信息相同的行，则在当前版本的关闭位信息输入文件的对应行标记为未更改行；若当前版本以及上一版本对应的关闭位信息输入文件存在具有相同关闭位名称且偏移地址和/或位信息不同的行，则在当前版本的关闭位信息输入文件的对应行标记为变动行；若当前版本对应的关闭位信息输入文件中存在与上一版本对应的关闭位信息输入文件中各行内容完全不同的行，则在当前版本对应的关闭位信息输入文件对应内容完全不同的行标记为新增行；遍历经过标记的当前版本的关闭位信息输入文件所有行，将标记为变动行的各行作为改动的各模块关闭位的关闭位信息获取以及将标记为新增行的各行作为新增的各模块关闭位的关闭位信息获取。

6、于本发明的一实施例中，所述基于发生变更的模块关闭位的关闭位信息生成对应发生变更的各模块关闭位的测试数据包括：基于发生变更的模块关闭位的关闭位信息中新增的模块关闭位的关闭位信息生成新增的模块关闭位的测试用例和测试平台代码；基于发生变更的模块关闭位的关闭位信息中改动的模块关闭位的关闭位信息生成改动的模块关闭位的测试用例。

7、于本发明的一实施例中，所述基于发生变更的各模块关闭位的测试数据对上一版本对应的所有模块关闭位的测试数据进行更新，获得当前版本对应的所有模块关闭位的测试数据包括：将新增的模块关闭位的测试用例和测试平台代码添加至上一版本对应的测试数据中，并将改动的模块关闭位的测试用例替换上一版本的对应模块关闭位的测试用例，以获得当前版本对应的所有模块关闭位的测试数据。

8、于本发明的一实施例中，生成测试数据的方式包括：通过利用对应模块关闭位的关闭位信息替换固定代码模板的代码关键位置的方式生成对应的测试数据。

9、于本发明的一实施例中，利用python中的scikit-learn模块构建亲缘关系鉴定模型。

10、为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种面向一次性可编程自动化芯片系统验证系统，所述系统包括：关闭位信息提取模块，用于基于发布的当前版本的otp存储器设计文档生成对应的关闭位信息输入文件；其中，所述关闭位信息输入文件包括：当前版本的otp存储器设计文档中所有模块关闭位的关闭位信息；初始版本测试数据生成模块，连接所述关闭位信息提取模块，用于在当前版本为初始版本的情况下，基于对应的关闭位信息输入文件生成当前版本对应的所有模块关闭位的测试数据，以供进行otp的芯片系统验证；其中，所述测试数据包括：测试用例和测试平台代码；非初始版本测试数据生成模块，连接所述关闭位信息提取模块，用于在当前版本为非初始版本的情况下，基于上一版本以及当前版本的所分别对应的关闭位信息输入文件确定发生变更的模块关闭位，并基于发生变更的各模块关闭位的关闭位信息获得当前版本对应的所有模块关闭位的测试数据，以供进行otp的芯片系统验证。

11、为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种面向一次性可编程自动化芯片系统验证终端，包括：一或多个存储器及一或多个处理器；所述一或多个存储器，用于存储计算机程序；所述一或多个处理器，连接所述存储器，用于运行所述计算机程序以执行所述面向一次性可编程自动化芯片系统验证方法。

12、如上所述，本发明是一种面向一次性可编程自动化芯片系统验证方法、装置及终端，具有以下有益效果：本发明通过当前版本的otp存储器设计文档生成关闭位信息输入文件，且在当前版本为初始版本时基于关闭位信息输入文件生成当前版本所有模块关闭位的测试数据进行otp的芯片系统验证，在当前版本为非初始版本时基于上一版本以及当前版本的关闭位信息输入文件确定发生变更的各模块关闭位的关闭位信息，获得当前版本所有模块关闭位的测试数据进行otp的芯片系统验证。本发明可以从繁杂的设计文档中提取有效的信息，根据提取信息生成大量重复性的测试用例和测试平台代码。并且针对中间的设计版本，提取设计文档中otp的改动项生成测试用例和生成测试平台代码片段，这样无论是设计初版还是中间改动版，都可以实现自动化地生成测试用例和测试平台，进而缩短了项目中otp的系统验证时间以及大大提高了验证的准确率。