NANDFlash的扫描方法、设备及存储介质与流程

本发明涉及硬盘扫描领域，尤其涉及一种nand flash的扫描方法、设备及存储介质。

背景技术：

1、rdt全称为reliability demonstration testing，即可靠性演示测试，是一种用于评估产品或系统可靠性的测试方法。rdt用于扫描nand flash的相关特征数据，配合筛选使存储产品能够满足不同的产品需求。

2、对于当前的可靠性演示测试技术，并不能满足对消费级、工业级、车规级等不同产品稳定性的筛选需求，难以监控不同批次产品的稳定性，对于当前可靠性测试技术无法对不同的应用环境产品的稳定性进行有效筛选的问题，需要一种技术来解决当前的问题。

技术实现思路

1、本发明的主要目的在于解决当前可靠性测试技术无法对不同的应用环境产品的稳定性进行有效筛选的技术问题。

2、本发明第一方面提供了一种nand flash的扫描方法，包括步骤：

3、对目标nand flash进行全盘预扫描处理，得到预扫描数据；

4、根据预置特征值数据，对所述预扫描数据进行nand flash块查询处理，得到nandflash块地址；

5、根据所述nand flash块地址，对所述目标nand flash进行测试处理，得到所述nand flash块地址对应的特征测试数据，以及根据所述特征测试数据，建立特征模型；

6、根据预置历史标准数据库，对所述特征模型进行筛选处理，得到所述目标nandflash对应的产品分类。

7、可选的，在本发明第一方面的第一种实现方式中，所述根据所述nand flash块地址，对所述目标nand flash进行测试处理，得到所述nand flash块地址对应的特征测试数据包括：

8、对所述目标nand flash进行磨损测试处理，得到第一测试数据；

9、基于所述nand flash块地址，对所述第一测试数据进行数值抓取处理，得到抓取数据；

10、对所述目标nand flash进行读取干扰测试处理，得到第二测试数据；

11、对所述目标nand flash进行稳定性测试处理，得到第三测试数据；

12、基于所述抓取数据、所述第二测试数据、所述第三测试数据，构建出所述nandflash块地址对应的特征测试数据。

13、可选的，在本发明第一方面的第二种实现方式中，所述对所述目标nand flash进行磨损测试处理，得到第一测试数据包括：

14、基于预置温度设置，在不同温度下对所述目标nand flash进行磨损测试处理，得到第一测试数据。

15、可选的，在本发明第一方面的第三种实现方式中，所述根据预置历史标准数据库，对所述特征模型进行筛选处理，得到所述目标nand flash对应的产品分类包括：

16、将所述特征模型与预置历史标准数据库进行产品使用评估分析，得到使用评估结果；

17、当所述使用评估结果为符合产品使用时，则根据预置产品分级规范，对所述目标nand flash进行分类处理，得到所述目标nand flash对应的产品分类。

18、可选的，在本发明第一方面的第四种实现方式中，在所述将所述特征模型与预置历史标准数据库进行产品使用评估分析，得到使用评估结果之后，还包括：

19、当所述使用评估结果为不符合产品使用时，则将所述目标nand flash的异常数据发送至预置管理端口。

20、可选的，在本发明第一方面的第五种实现方式中，所述对目标nand flash进行全盘预扫描处理，得到预扫描数据包括：

21、对所述目标nand flash进行全盘ecc校验统计处理，得到预扫描数据。

22、可选的，在本发明第一方面的第六种实现方式中，在所根据所述nand flash块地址，对所述目标nand flash进行测试处理，得到所述nand flash块地址对应的特征测试数据，以及根据所述特征测试数据，建立特征模型之后，还包括：

23、将所述特征模型上传至预置备份数据库中。

24、可选的，在本发明第一方面的第七种实现方式中，在所述根据预置历史标准数据库，对所述特征模型进行筛选处理，得到所述目标nand flash对应的产品分类之后，还包括：

25、基于预置raid备份算法和所述目标nand flash对应的产品分类，对所述目标nandflash进行优化处理，得到优化后的目标nand flash。

26、本发明第二方面提供了一种nand flash的扫描设备，包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述nand flash的扫描设备执行上述的nand flash的扫描方法。

27、本发明的第三方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述的nand flash的扫描方法。

28、在本发明实施例中，通过对目标nand flash进行全盘预扫描后利用预先设置好的特征值，从nand flash中找到设置的特征值对应的nand flash的块地址，然后监控nandflash块地址在测试过程中的数据，生成特征模型与历史数据进行比较，得到nand flash的产品可用性以及是否符合相关产品的标准。根据不同批次的特征进行产品使用环境适配，用以保证最终产品的一致性，通过对产品不同环境的精确扫描准确评估产品的使用情况，解决了当前可靠性测试技术无法对不同的应用环境产品的稳定性进行有效筛选的技术问题。

技术特征：

1.一种nand flash的扫描方法，其特征在于，包括步骤：

2.根据权利要求1所述的nand flash的扫描方法，其特征在于，所述根据所述nandflash块地址，对所述目标nand flash进行测试处理，得到所述nand flash块地址对应的特征测试数据包括：

3.根据权利要求2所述的nand flash的扫描方法，其特征在于，所述对所述目标nandflash进行磨损测试处理，得到第一测试数据包括：

4.根据权利要求1所述的nand flash的扫描方法，其特征在于，所述根据预置历史标准数据库，对所述特征模型进行筛选处理，得到所述目标nand flash对应的产品分类包括：

5.根据权利要求4所述的nand flash的扫描方法，其特征在于，在所述将所述特征模型与预置历史标准数据库进行产品使用评估分析，得到使用评估结果之后，还包括：

6.根据权利要求1所述的nand flash的扫描方法，其特征在于，所述对目标nand flash进行全盘预扫描处理，得到预扫描数据包括：

7.根据权利要求1所述的nand flash的扫描方法，其特征在于，在所根据所述nandflash块地址，对所述目标nand flash进行测试处理，得到所述nand flash块地址对应的特征测试数据，以及根据所述特征测试数据，建立特征模型之后，还包括：

8.根据权利要求1所述的nand flash的扫描方法，其特征在于，在所述根据预置历史标准数据库，对所述特征模型进行筛选处理，得到所述目标nand flash对应的产品分类之后，还包括：

9.一种nand flash的扫描设备，其特征在于，所述nand flash的扫描设备包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的nand flash的扫描方法。

技术总结本发明涉及硬盘扫描领域，公开了一种NAND Flash的扫描方法、设备及存储介质。该方法包括：对目标NAND Flash进行全盘预扫描处理，得到预扫描数据；根据预置特征值数据，对所述预扫描数据进行NAND Flash块查询处理，得到NAND Flash块地址；根据所述NAND Flash块地址，对所述目标NAND Flash进行测试处理，得到所述NAND Flash块地址对应的特征测试数据，以及根据所述特征测试数据，建立特征模型；根据预置历史标准数据库，对所述特征模型进行筛选处理，得到所述目标NAND Flash对应的产品分类。在本发明实施例中，解决了当前可靠性测试技术无法对不同的应用环境产品的稳定性进行有效筛选的技术问题。技术研发人员：陈斌,陈寄福,聂蒙,吴大畏,李晓强受保护的技术使用者：深圳市硅格半导体有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/21