测试装置的制作方法

本申请涉及测试，特别是涉及一种测试装置。

背景技术：

1、传统的测试装置，根据测试流程对被测设备(deviceunder test，简称为dut)的存储性能进行测试，得到测试结果。其中，测试流程包括：测试装置获取被测设备输出的测试数据，将测试数据和预设数据比较，根据比较结果确定被测设备是否存在故障数据。

2、然而，相关技术的测试装置只能执行故障测试，不能执行故障存储，随着对故障数据的后处理需求增加，越来越需要测试装置对于全流程故障测试的支持。

3、针对相关技术中存在测试装置不支持全流程故障测试的问题，目前还没有提出有效的解决方案。

技术实现思路

1、基于此，有必要提供一种可以支持全流程故障测试的测试装置。

2、在本实施例中提供了一种测试装置，包括：转换单元、比较单元、第一处理单元、第二处理单元和存储单元，所述转换单元、所述比较单元、所述第二处理单元、所述存储单元依次连接，所述第一处理单元与所述比较单元连接；其中，

3、所述转换单元用于将第一测试数据转换成由逻辑值构成的第二测试数据；

4、所述第一处理单元用于生成预设逻辑值和被测设备的测试地址；

5、所述比较单元用于将所述第二测试数据与所述预设逻辑值进行比较，得到测试结果；

6、所述第二处理单元用于确定所述测试结果在所述存储单元的存储地址，其中，所述存储地址与所述测试地址对应；

7、所述存储单元用于存储所述测试结果。

8、在其中一个实施例中，所述转换单元包括：驱动器和模拟比较器；其中，

9、所述驱动器用于驱动所述被测设备输出所述第一测试数据；

10、所述模拟比较器用于将所述第一测试数据的电压与基准电压进行比较，并将比较得到的逻辑值作为所述第二测试数据。

11、在其中一个实施例中，所述比较单元包括：第一数据缓存器、第二数据缓存器和比较器，所述第一数据缓存器和所述第二数据缓存器分别与所述比较器连接；其中，

12、所述第一数据缓存器用于缓存所述预设逻辑值，以及缓存所述被测设备的测试地址；

13、所述第二数据缓存器用于缓存所述第二测试数据；

14、所述比较器用于将所述第二测试数据与所述预设逻辑值进行比较，得到所述测试结果。

15、在其中一个实施例中，所述第一处理单元包括：存储器、第一处理器、第二处理器和第三处理器，所述存储器与所述第一处理器、所述第二处理器连接，所述第一处理器和所述第二处理器分别与所述第三处理器连接；其中，

16、所述存储器用于存储运行参数，所述运行参数包括生成所述测试地址的参数和生成所述预设逻辑值的参数；

17、所述第一处理器用于执行第一指令，生成所述测试地址；

18、所述第二处理器用于执行第二指令，生成所述预设逻辑值；

19、所述第三处理器用于合并所述测试地址和所述预设逻辑值。

20、在其中一个实施例中，所述第二处理单元包括：第四处理器和第五处理器；其中，

21、所述第四处理器用于执行第三指令，所述第三指令携带有数据映射参数；

22、所述第五处理器用于执行第四指令，所述第四指令携带有地址映射参数。

23、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括：采样单元，所述采样单元分别与所述转换单元、所述第一处理单元、所述比较单元连接，所述采样单元用于接收并执行第五指令，采集得到所述第二测试数据。

24、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括：计数单元，所述计数单元与所述比较单元连接，所述计数单元用于对所述测试结果中的故障数据进行按位计数。

25、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括：第三处理单元，所述第三处理单元包括若干个第六处理器和第一多路选择器，各所述第六处理器的输入端分别与所述比较单元连接，各所述第六处理器的输出端分别与所述第一多路选择器连接，所述第一多路选择器的输出端与所述第二处理单元连接；其中，

26、所述若干个第六处理器中的每个处理器用于接收并执行第六指令；

27、所述第一多路选择器用于在所述若干个第六处理器中选择其中一个处理器处理后的测试结果进行输出。

28、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括：第四处理单元，所述第四处理单元包括数据通道、地址通道和第三数据缓存器；其中，

29、所述数据通道的输入端与所述比较单元连接，所述数据通道的输出端与所述第三数据缓存器的输入端连接；

30、所述地址通道的输入端与所述比较单元连接，所述地址通道的输出端与所述第三数据缓存器的输入端连接；

31、所述第三数据缓存器的输出端与所述第二处理单元连接。

32、在其中一个实施例中，所述数据通道包括第四数据缓存器、第五数据缓存器和第二多路选择器，所述第四数据缓存器、所述第五数据缓存器的输入端分别与所述比较单元连接，所述第四数据缓存器、所述第五数据缓存器的输出端分别与所述第二多路选择器的输入端连接；

33、所述地址通道包括第六数据缓存器、第七数据缓存器和第三多路选择器，所述第六数据缓存器、所述第七数据缓存器的输入端分别与所述比较单元连接，所述第六数据缓存器、所述第七数据缓存器的输出端分别与所述第三多路选择器的输入端连接；

34、所述第二多路选择器的输出端、所述第三多路选择器的输出端分别与所述第三数据缓存器的输入端连接。

35、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括：控制单元，所述控制单元与所述第一处理单元、所述第二处理单元连接；其中，

36、所述控制单元用于获取配置参数，并下发所述配置参数至所述第一处理单元和所述第二处理单元。

37、在其中一个实施例中，所述测试装置还包括：采样单元、第三处理单元和第四处理单元，其中，所述采样单元、所述第一处理单元、所述比较单元、所述第三处理单元、所述第四处理单元和所述第二处理单元依次连接，所述采样单元、所述第三处理单元和所述第四处理单元还分别与所述控制单元连接，所述控制单元还用于下发所述配置参数至所述采样单元、所述第三处理单元和所述第四处理单元。

38、上述测试装置，通过将第一测试数据进行逻辑转换后与预设逻辑值进行比较，得到测试结果，并将测试结果按照被测设备的测试地址映射存储至存储单元，覆盖了从数据捕获到数据存储的整个流程，实现了全流程故障测试。

技术特征：

1.一种测试装置，其特征在于，包括：转换单元、比较单元、第一处理单元、第二处理单元和存储单元，所述转换单元、所述比较单元、所述第二处理单元、所述存储单元依次连接，所述第一处理单元与所述比较单元连接；其中，

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述转换单元包括：驱动器和模拟比较器；其中，

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述比较单元包括：第一数据缓存器、第二数据缓存器和比较器，所述第一数据缓存器和所述第二数据缓存器分别与所述比较器连接；其中，

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一处理单元包括：存储器、第一处理器、第二处理器和第三处理器，所述存储器与所述第一处理器、所述第二处理器连接，所述第一处理器和所述第二处理器分别与所述第三处理器连接；其中，

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第二处理单元包括：第四处理器和第五处理器；其中，

6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：采样单元，所述采样单元分别与所述转换单元、所述第一处理单元、所述比较单元连接，所述采样单元用于接收并执行第五指令，采集得到所述第二测试数据。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：计数单元，所述计数单元与所述比较单元连接，所述计数单元用于对所述测试结果中的故障数据进行按位计数。

8.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：第三处理单元，所述第三处理单元包括若干个第六处理器和第一多路选择器，各所述第六处理器的输入端分别与所述比较单元连接，各所述第六处理器的输出端分别与所述第一多路选择器连接，所述第一多路选择器的输出端与所述第二处理单元连接；其中，

9.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：第四处理单元，所述第四处理单元包括数据通道、地址通道和第三数据缓存器；其中，

10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述数据通道包括第四数据缓存器、第五数据缓存器和第二多路选择器，所述第四数据缓存器、所述第五数据缓存器的输入端分别与所述比较单元连接，所述第四数据缓存器、所述第五数据缓存器的输出端分别与所述第二多路选择器的输入端连接；

11.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：控制单元，所述控制单元与所述第一处理单元、所述第二处理单元连接；其中，

12.根据权利要求11所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：采样单元、第三处理单元和第四处理单元，其中，所述采样单元、所述第一处理单元、所述比较单元、所述第三处理单元、所述第四处理单元和所述第二处理单元依次连接，所述采样单元、所述第三处理单元和所述第四处理单元还分别与所述控制单元连接，所述控制单元还用于下发所述配置参数至所述采样单元、所述第三处理单元和所述第四处理单元。

技术总结本申请涉及一种测试装置，包括：转换单元、比较单元、第一处理单元、第二处理单元和存储单元，转换单元、比较单元、第二处理单元、存储单元依次连接，第一处理单元与比较单元连接；转换单元用于将第一测试数据转换成由逻辑值构成的第二测试数据；第一处理单元用于生成预设逻辑值和被测设备的测试地址；比较单元用于将第二测试数据与预设逻辑值进行比较，得到测试结果；第二处理单元用于确定测试结果在存储单元的存储地址，存储地址与被测设备的测试地址对应；存储单元用于存储测试结果。覆盖了从数据捕获到数据存储的整个流程，实现了全流程故障测试。技术研发人员：李豪,郭美红,殷超受保护的技术使用者：杭州长川科技股份有限公司技术研发日：20230615技术公布日：2024/4/17