具有动态自我优化能力的待测组件测试系统及方法与流程

本发明涉及测试领域，更为具体的，涉及一种具有动态自我优化能力的待测组件测试系统及方法。

背景技术：

1、目前现行的检测存储芯片方式，大多是利用多个检测装置，逐一地对各个存储芯片，逐一进行预定的各种检测，如此检测的方式，需要耗费大量的时间。另外，现有存储芯片检测的设备，大多是以人工的方式，进行存储芯片的插接及卸除。因此，需要大量的人力并耗费大量的时间，才可完成大量的存储芯片的检测作业。

技术实现思路

1、本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种具有动态自我优化能力的待测组件测试系统及方法，提升整体检测的效能。

2、本发明的目的是通过以下方案实现的：

3、一种具有动态自我优化能力的待测组件测试系统，包括：多个检测装置、控制装置及移载装置；

4、各个检测装置用于设置存储芯片，各个检测装置能对设置于其上的存储芯片进行n个检测作业，并产生检测结果信息；各个检测装置对设置于其上的存储芯片完成n个检测作业时，对应产生完成信号；其中，当存储芯片未通过相对应的检测装置所执行的第m个检测作业时，表示第m个检测作业执行失败；其中，n、m为大于1的正整数，且m<n；

5、控制装置电性连接多个检测装置，控制装置能控制各个检测装置依据一初始顺序对设置于其上的存储芯片进行n个检测作业；其中，控制装置依据多个检测结果信息，统计哪一个检测作业执行失败的次数最多，据以提升执行失败的次数最多的检测作业，于初始顺序中的顺位，以产生优化顺序；

6、移载装置电性连接控制装置，移载装置在控制装置控制下将多个存储芯片安装于多个检测装置上，或将安装于各个检测装置上的存储芯片卸除；其中，控制装置控制移载装置，将设置于各个检测装置上已完成n个检测作业的存储芯片卸除，并将未被检测的存储芯片安装于多个检测装置后，控制装置将控制各个检测装置依据优化顺序，对设置于其上的存储芯片进行n个检测作业。

7、进一步地，还包括：参数储存装置，参数储存装置储存有多个检测作业参数，且参数储存装置电性连接控制装置，控制装置能读取参数储存装置中的至少一个检测作业参数。

8、进一步地，还包括：输入设备及显示设备，输入设备及显示设备电性连接控制装置；输入设备用于提供使用者操作，而对应产生输入信号，控制装置则依据输入信号，读取参数储存装置所储存的r个检测作业参数中的n个，以形成一检测信息；而后，控制装置向各个检测装置传递所述检测信息，据以使各个检测装置，能依据所述检测信息中所对应包含的n个检测作业参数，以一初始顺序对设置于其上的存储芯片c进行n个检测作业；控制装置能控制显示设备显示参数储存装置所储存的多个检测作业参数。

9、进一步地，所述各个检测装置中还设置有侦测模块，侦测模块用于侦测相对应的检测装置上是否设置有存储芯片；控制装置在控制各个检测装置对设置于其上的存储芯片进行检测作业前，控制装置先传送测试信号至各个检测装置，各个检测装置接收到所述测试信号时，各个检测装置的侦测模块，将据以侦测检测装置上是否正确设置有存储芯片，并据以传递一准备完成信号或一准备失败信号至控制装置；

10、当控制装置接收检测装置所传递的准备完成信号时，控制装置则对应控制相对应的检测装置对设置于其上的存储芯片进行n个检测作业；相对地，当控制装置接收检测装置所传递的准备失败信号时，代表检测装置上的存储芯片可能未正确地安装，此时，控制装置则传递一重新安装信号至移载装置，以控制移载装置重新安装设置于相对应的检测装置上的存储芯片，而后，控制装置将再次传递测试信号至检测装置，以确认存储芯片是否已正确地被安装于检测装置上。

11、进一步地，所述控制装置还包括通讯模块，所述通讯模块与远程数据储存装置通讯连接，控制装置通过通讯模块，将多个检测结果信息传递至远程数据储存装置，使多个检测结果信息储存于远程数据储存装置。

12、进一步地，还包括：承载装置，所述控制装置电性连接承载装置，承载装置用于承载待检测的多个存储芯片，且承载装置具有侦测模块，侦测模块用于侦测承载装置是否设置有存储芯片，并据以产生一侦测结果信息；

13、当控制装置接收任一个检测装置所传递的完成信号时，控制装置能传递一确认信号至承载装置，以控制侦测模块侦测承载装置是否设置有存储芯片；而后，控制装置则能依据侦测结果信息，以在承载装置设置有存储芯片的情况下，控制移载装置先卸除相对应的检测装置上已完成n个检测作业的存储芯片，再将设置于承载装置上的其中一个存储芯片移载至相对应的检测装置上。

14、一种具有动态自我优化能力的待测组件测试方法，包括：

15、检测步骤s1：利用控制装置控制多个检测装置，以使各个检测装置依据初始顺序，对设置于其上的待测组件进行n个检测作业；其中，当待测组件未通过相对应的检测装置所执行的第m个检测作业时，表示第m个检测作业执行失败；其中，n、m为大于1的正整数，且m<n；

16、记录步骤s2：利用控制装置，将各个检测装置执行各个检测作业的结果，对应储存为检测结果信息；

17、顺序调整步骤s3：利用控制装置，依据多个检测结果信息，统计特征指标用于决定检测作业在初始顺序中的顺位，从而产生优化顺序。

18、进一步地，所述统计特征指标用于决定检测作业在初始顺序中的顺位，具体包括：统计在哪一个检测作业执行失败的次数最多，用于提升执行失败的次数最多的检测作业在初始顺序中的顺位，从而产生优化顺序；其中，关于调整多个检测作业的顺位，不局限于仅参考检测作业执行失败的次数，在不同的应用中，根据相应场景选择不同的特征指标，以决定检测作业于优化顺序中的顺位，所述特征指标包括作业时长。

19、进一步地，在记录步骤s2及顺序调整步骤s3之间，还包括以下步骤：

20、移载步骤s21：利用控制装置控制一移载装置，依据多个检测结果信息，将各个检测装置上的待测组件，移载至一不良品位置或一良品位置；

21、安装步骤s22：利用控制装置控制移载装置，将未被检测的待测组件安装于多个检测装置；

22、总量分析步骤s23：利用控制装置，判断各个检测装置执行n个检测作业的累积次数是否大于一预定总量；其中，当控制装置判断各个检测装置执行n个检测作业的次数大于所述预定总量时，则先执行顺序调整步骤后，再执行检测步骤；当控制装置判断各个检测装置执行n个检测作业的次数，小于预定总量时，则跳过顺序调整步骤，而直接执行检测步骤。

23、进一步地，在总量分析步骤s23及顺序调整步骤s3之间，还包括以下步骤：

24、比列分析步骤s24：利用控制装置，判断任一个检测作业执行失败的累积次数是否大于一预定次数；其中，当任一个检测作业执行失败的次数大于预定次数时，则先执行顺序调整步骤，以提升大于预定次数的检测作业于初始顺序的顺位，并据以形成优化顺序后，再执行检测步骤；当各个检测作业执行失败的次数，皆小于预定次数时，则跳过顺序调整步骤，而直接执行检测步骤。

25、进一步地，在移载步骤s21中，控制装置先控制各个检测装置，以切断各个检测装置与设置于其上的待测组件之间的电性连接，而后再控制移载装置，将各个检测装置上的检测组件移载至特定的位置。

26、进一步地，在执行检测步骤s1前，控制装置先传递一测试信号至各个检测装置，以确认各个检测装置的状态；当控制装置接收检测装置所回传的一回传信号时，控制装置则再控制相对应的检测装置执行检测步骤s1。

27、进一步地，步骤s1～步骤s3不限于应用在存储芯片检测作业中，能够应用于任何检测作业中。

28、本发明的有益效果包括：

29、本发明可以大幅提升检测装置找出多个待测组检中的不良品的速度，从而大幅提升整体检测的效能。