自动化测试结构及ATE设备的制作方法

本发明涉及自动化测试，尤其涉及自动化测试结构及ate设备。

背景技术：

1、目前市场上的nand flash测试设备大多采用专用主控芯片来构建，设计了特定的测试板。由于主控芯片的功能是固定的，因此这些设备不具备可替换功能的能力，导致设备的功能比较单一，不能做到一机多用。

技术实现思路

1、本发明的主要目的在于提供一种自动化测试结构及ate设备，旨在解决现有技术中主控建构的ate设备功能单一，无法多用途使用的缺点的技术问题。

2、为实现上述目的，本发明提供一种自动化测试结构，所述自动化测试结构包括：中央处理器和fpga；

3、其中，所述fpga与所述中央处理器连接，所述fpga还通过待测物接口板与待测物连接；

4、所述中央处理器，用于检测所述待测物，并基于所述待测物的类型输出测试指令至所述fpga；

5、所述fpga，用于在接收到所述测试指令时，基于所述测试指令将主控代码切换至所述待测物对应的主控代码，并基于所述主控代码测试对应的待测物。

6、可选地，所述fpga包括：主控切换模块、芯片测试控制器和存储模块；

7、其中，所述主控切换模块分别与所述中央处理器、所述芯片测试控制器和所述存储模块连接，所述芯片测试控制器通过所述待测物接口板与所述待测物连接；

8、所述存储模块，用于存储不同类型待测物测试对应的主控代码；

9、所述主控切换模块，用于在接收到所述测试指令时，基于所述测试指令调用存储在所述存储模块中的主控代码；

10、所述主控切换模块，还用于基于所述主控代码重新编排所述芯片测试控制器；

11、所述芯片测试控制器，用于在编排完成后，通过所述待测物接口板测试对应的待测物。

12、可选地，所述存储模块包括：nand闪存控制器；

13、所述nand闪存控制器与所述主控切换模块连接；

14、所述nand闪存控制器，用于存储nand闪存测试所需的主控代码。

15、可选地，所述存储模块包括：emmc控制器；

16、所述emmc控制器与所述主控切换模块连接；

17、所述emmc控制器，用于存储emmc测试所需的主控代码。

18、可选地，所述存储模块包括：sd卡控制器；

19、所述sd卡控制器与所述主控切换模块连接；

20、所述sd卡控制器，用于存储sd卡测试所需的主控代码。

21、可选地，所述存储模块包括：spi存储器控制器；

22、所述spi存储器控制器与所述主控切换模块连接；

23、所述spi存储器控制器，用于存储spi存储器测试所需的主控代码。

24、可选地，所述中央处理器还用于检测所述fpga中的状态寄存器，并基于所述fpga中的状态寄存器判断所述待测物对应的主控代码的切换是否完成。

25、此外，为实现上述目的，本发明还提供一种ate设备，所述ate设备包括上述任一项所述的自动化测试结构。

26、本发明公开了一种自动化测试结构，所述结构包括：中央处理器和fpga；其中，所述fpga与所述中央处理器连接，所述fpga还通过待测物接口板与待测物连接；所述中央处理器，用于检测所述待测物，并基于所述待测物的类型输出测试指令至所述fpga；所述fpga，用于在接收到所述测试指令时，基于所述测试指令将主控代码切换至所述待测物对应的主控代码，并基于所述主控代码测试对应的待测物。本发明通过fpga在接收到所述测试指令时，基于所述测试指令将主控代码切换至所述待测物对应的主控代码，并基于所述主控代码测试对应的待测物，有效地解决了传统基于特定导向芯片的测试设备功能单一、无法多用途使用的问题。

技术特征：

1.一种自动化测试结构，其特征在于，所述结构包括：中央处理器和fpga；

2.如权利要求1所述的自动化测试结构，其特征在于，所述fpga包括：主控切换模块、芯片测试控制器和存储模块；

3.如权利要求2所述的自动化测试结构，其特征在于，所述存储模块包括：nand闪存控制器；

4.如权利要求2所述的自动化测试结构，其特征在于，所述存储模块包括：emmc控制器；

5.如权利要求2所述的自动化测试结构，其特征在于，所述存储模块包括：sd卡控制器；

6.如权利要求2所述的自动化测试结构，其特征在于，所述存储模块包括：spi存储器控制器；

7.如权利要求1所述的自动化测试结构，其特征在于，所述中央处理器还用于检测所述fpga中的状态寄存器，并基于所述fpga中的状态寄存器判断所述待测物对应的主控代码的切换是否完成。

8.一种ate设备，其特征在于，所述ate设备包括权利要求1至7中任一项所述的自动化测试结构。

技术总结本发明涉及自动化测试技术领域，尤其涉及自动化测试结构及ATE设备，该结构包括：中央处理器和FPGA；其中，FPGA与中央处理器连接，FPGA还通过待测物接口板与待测物连接；中央处理器，用于检测待测物，并基于待测物的类型输出测试指令至FPGA；FPGA，用于在接收到测试指令时，基于测试指令将主控代码切换至待测物对应的主控代码，并基于主控代码测试对应的待测物。本发明通过FPGA在接收到测试指令时，基于测试指令将主控代码切换至待测物对应的主控代码，并基于主控代码测试对应的待测物，有效地解决了传统基于特定导向芯片的测试设备功能单一、无法多用途使用的问题。技术研发人员：郭寂波受保护的技术使用者：芯测通（深圳）半导体有限公司技术研发日：技术公布日：2024/4/17