一种测试治具及测试系统的制作方法

本公开涉及半导体测试，尤其涉及一种测试治具及测试系统。

背景技术：

1、在电路模组，例如内存条的产品开发阶段和后续运维阶段，需要对内存条等电路模组进行测试。然而，现有的测试设备存在着测试信号不准确、影响测试准确性的问题。

技术实现思路

1、以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

2、本公开第一方面提供一种测试治具，所述测试治具用于与插槽连接器配合，所述插槽连接器包括用于与电路模组插接的插槽、设置于所述插槽两侧的卡槽以及设置于所述卡槽内的端子，所述端子用于与所述插槽内的电路模组抵接，所述测试治具包括至少一个治具单元，所述治具单元包括：

3、信号传输部；

4、插入部，与所述信号传输部连接，所述插入部用于插入所述卡槽中；

5、检测部，设置于所述插入部上，用于与所述卡槽内的端子抵接，以将所述端子上的信号经所述插入部传输至所述信号传输部。

6、根据本公开的一些实施例，所述信号传输部包括电路基板以及设置于所述电路基板内的信号传输电路，所述插入部设置于所述电路基板的一侧并与所述信号传输电路电连接。

7、根据本公开的一些实施例，所述插入部呈条形结构，所述插入部包括直段和倾斜段，所述直段的延伸方向与所述电路基板相平行，所述直段的一端与所述信号传输电路电连接，所述直段的另一端与所述倾斜段的一端相连，所述检测部设置于所述倾斜段的另一端，沿远离所述直段的方向，所述倾斜段向靠近所述端子的方向倾斜。

8、根据本公开的一些实施例，所述倾斜段的宽度小于所述直段的宽度；和/或，

9、所述倾斜段的厚度小于所述直段的厚度。

10、根据本公开的一些实施例，所述检测部与所述倾斜段的另一端的外端点之间的间距小于0.3mm。

11、根据本公开的一些实施例，所述插入部的长度小于4mm。

12、根据本公开的一些实施例，所述检测部包括与所述插入部相连的第一柱状结构以及可弹性伸缩地设置于所述第一柱状结构中的第二柱状结构，所述第二柱状结构用于与所述端子抵接。

13、根据本公开的一些实施例，自由状态下，所述检测部的总长度的范围为0.6至0.9mm；和/或，

14、所述第一柱状结构的直径小于0.4mm。

15、根据本公开的一些实施例，所述端子包括弯曲部，第二柱状结构的端头呈与所述弯曲部适配的曲面，所述第二柱状结构的端头与所述弯曲部相卡合。

16、根据本公开的一些实施例，所述信号传输部沿所述插槽的长度方向延伸，所述插入部设置有多个，多个所述插入部沿所述信号传输部的延伸方向间隔排布，每个所述插入部均对应设置一个所述检测部。

17、根据本公开的一些实施例，装配状态下，所述信号传输部的背离所述插入部的一端高于所述电路模组设置，所述信号传输部的高于所述电路模组的区域内设置有外接结构。

18、根据本公开的一些实施例，所述测试治具包括至少一个治具单元组，每个治具单元组包括两个所述治具单元，两个所述治具单元分别与所述插槽两侧的卡槽配合；

19、位于同一所述治具单元组的两个所述治具单元通过连接部连接，以使得两个所述治具单元的检测部对两侧的所述端子形成夹持。

20、根据本公开的一些实施例，所述连接部包括呈n形的弹片，所述弹片的两端分别连接同一所述治具单元组的两个所述治具单元。

21、根据本公开的一些实施例，所述信号传输部的背离所述插入部的一端与所述电路模组之间的距离大于或等于2mm。

22、本公开第二方面提供一种测试系统，所述测试系统包括测试设备以及上述的测试治具，所述测试设备与所述信号传输部电连接，以通过所述信号传输部接收所述信号。

23、本公开实施例所提供的测试治具，检测部是与插槽连接器的端子直接接触获取测试信号的，因此在测试过程中电路模组直接与插槽连接器的端子相接触，不改变待测试的电路模组的正常工作架构，测试场景能够更加准确反映电路模组在正常工作状态下的信号传输情况，从而提高了测试信号的准确性。

24、在阅读并理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。

技术特征：

1.一种测试治具，其特征在于，所述测试治具用于与插槽连接器配合，所述插槽连接器包括用于与电路模组插接的插槽、设置于所述插槽两侧的卡槽以及设置于所述卡槽内的端子，所述端子用于与所述插槽内的电路模组抵接，所述测试治具包括至少一个治具单元，所述治具单元包括：

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述信号传输部包括电路基板以及设置于所述电路基板内的信号传输电路，所述插入部设置于所述电路基板的一侧并与所述信号传输电路电连接。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述插入部呈条形结构，所述插入部包括直段和倾斜段，所述直段的延伸方向与所述电路基板相平行，所述直段的一端与所述信号传输电路电连接，所述直段的另一端与所述倾斜段的一端相连，所述检测部设置于所述倾斜段的另一端，沿远离所述直段的方向，所述倾斜段向靠近所述端子的方向倾斜。

4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述倾斜段的宽度小于所述直段的宽度；和/或，

5.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述检测部与所述倾斜段的另一端的外端点之间的间距小于0.3mm。

6.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述插入部的长度小于4mm。

7.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述检测部包括与所述插入部相连的第一柱状结构以及可弹性伸缩地设置于所述第一柱状结构中的第二柱状结构，所述第二柱状结构用于与所述端子抵接。

8.根据权利要求7所述的测试治具，其特征在于，自由状态下，所述检测部的总长度的范围为0.6至0.9mm；和/或，

9.根据权利要求7所述的测试治具，其特征在于，所述端子包括弯曲部，第二柱状结构的端头呈与所述弯曲部适配的曲面，所述第二柱状结构的端头与所述弯曲部相卡合。

10.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述信号传输部沿所述插槽的长度方向延伸，所述插入部设置有多个，多个所述插入部沿所述信号传输部的延伸方向间隔排布，每个所述插入部均对应设置一个所述检测部。

11.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，装配状态下，所述信号传输部的背离所述插入部的一端高于所述电路模组设置，所述信号传输部的高于所述电路模组的区域内设置有外接结构。

12.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具包括至少一个治具单元组，每个治具单元组包括两个所述治具单元，两个所述治具单元分别与所述插槽两侧的卡槽配合；

13.根据权利要求12所述的测试治具，其特征在于，所述连接部包括呈n形的弹片，所述弹片的两端分别连接同一所述治具单元组的两个所述治具单元。

14.根据权利要求12所述的测试治具，其特征在于，所述信号传输部的背离所述插入部的一端与所述电路模组之间的距离大于或等于2mm。

15.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括测试设备以及如权利要求1至14任一项所述的测试治具，所述测试设备与所述信号传输部电连接，以通过所述信号传输部接收所述信号。

技术总结本公开提供一种测试治具及测试系统，测试治具包括至少一个治具单元，治具单元包括信号传输部、插入部和检测部；插入部与信号传输部连接，插入部用于插入卡槽中；检测部设置于插入部上，用于与卡槽内的端子抵接，以将端子上的信号经插入部传输至信号传输部。本公开中的测试治具，检测部是与插槽连接器的端子直接接触获取测试信号的，因此在测试过程中电路模组直接与插槽连接器的端子相接触，不改变待测试的电路模组的正常工作架构，测试场景能够更加准确反映电路模组在正常工作状态下的信号传输情况，从而提高了测试信号的准确性。技术研发人员：张彪受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/16