存储器装置、存储器装置测试方法和测试系统与流程

本公开涉及存储器装置、用于测试存储器装置的方法和包括存储器装置的测试系统。

背景技术：

1、随着在电子装置之间发送和接收的数据的容量增大并且对高数据速率的需求增加，各种信号调制方法可被使用以增大数据吞吐量。作为各种信号调制方法之一的脉幅调制(pam)-n方法可针对单位区段发送一个符号。例如，可根据被称为不归零(nrz)方法的pam-2方法针对单位区段发送一个位，并且可根据pam-3方法针对单位区段发送两个位。

2、半导体装置测试装置测试制造的半导体装置是否具有缺陷。半导体存储器装置通过以下操作被测试：通过使用外部测试设备根据写入操作将测试模式写入半导体存储器装置的存储器单元，读取存储器单元，将读取数据与写入数据进行比较以确定读取数据和写入数据是否彼此相同，从而确定半导体存储器装置是好还是坏。半导体装置测试装置可用于测试存储器装置，因此半导体装置测试装置考虑到开发存储器装置(特别是占据存储器装置市场的大部分的dram)的状态而被设计和开发。然而，与半导体存储器装置的高速生产相比，由于诸如经济的问题，测试装置可能无法跟上半导体存储器装置的高速生产的步伐。

技术实现思路

1、实施例提供包括用于通过使用具有不同信号类型的装置来测试存储器装置的数据输入和输出电路的存储器装置。

2、本公开的实施例提供一种存储器装置，所述存储器装置包括：存储器单元阵列；时序电路，被配置为：生成第一时钟信号和第二时钟信号，第二时钟信号具有第一时钟信号的频率的i倍的频率；命令解码器，被配置为接收包括多个即时(otf)位的otf数据；接收器，被配置为接收输入数据，被配置为基于第一时钟信号对输入数据进行采样，并且被配置为基于采样的输入数据生成第一信号；解串器，被配置为基于第二时钟信号从第一信号生成第一解串行化信号；数据模式生成器，被配置为：基于第二时钟信号根据第一解串行化信号和otf数据来生成模式信号；以及解码器，被配置为将模式信号发送到存储器单元阵列，其中，i是大于或等于2的自然数。

3、第一信号可具有n位数据，并且第一解串行化信号可具有2n位数据。

4、解串器可包括：多个采样器，被配置为将第一信号的n位数据并行化并且被配置为生成第一解串行化信号。

5、数据模式生成器可包括：组合逻辑，被配置为基于otf数据生成具有2n位数据的反相数据信号；以及多个异或(xor)门，被配置为：对反相数据信号的相应位和第一解串行化信号的相应位执行xor运算，并且被配置为生成具有2n位数据的模式信号。

6、所述多个otf位中的每个可顺序地布置在反相数据信号中。

7、接收器还可被配置为：基于第一时钟信号对输入数据进行采样，以生成具有n位数据的第二信号，解串器还可被配置为：基于第二时钟信号在第二信号的n位数据之间插入新位，以生成第二解串行化信号，数据模式生成器还可被配置为：基于第二时钟信号根据第二解串行化信号生成模式信号，所述多个xor门中的至少一些可被配置为：对反相数据信号的相应位和第二解串行化信号的相应位执行xor运算，并且反相数据信号可包括第一反相数据信号和第二反相数据信号，用第一解串行化信号对第一反相数据信号执行xor运算，用第二解串行化信号对第二反相数据信号执行xor运算。

8、第一反相数据信号可等同于第二反相数据信号。

9、第一反相数据信号可不同于第二反相数据信号。

10、所述存储器装置还可包括：数据输入和输出控制器，被配置为生成用于控制解串器的第一控制信号，并且被配置为生成用于控制数据模式生成器的第二控制信号，其中，解串器还可被配置为：根据第一控制信号将第一信号并行化，以生成解串行化信号，并且数据模式生成器还可被配置为：根据第二控制信号确定所述多个otf位之中的与解串行化信号中的相应位对应的otf位，可基于对应的otf位生成新位，并且可布置解串行化信号和新位以生成模式信号。

11、数据输入和输出控制器还可被配置为：生成用于控制解码器的第三控制信号，解码器可包括解码部和延迟部，解码部用于通过对模式信号进行解码来生成解码信号，延迟部用于通过对模式信号进行延迟来生成第一延迟信号，并且解码器可被配置为根据第三控制信号将解码信号或第一延迟信号发送到存储器单元阵列。

12、所述存储器装置还可包括：编码器，包括编码部和延迟部，编码部被配置为通过对由存储器单元阵列输出的输出数据进行编码来生成编码信号，延迟部被配置为通过对输出数据进行延迟来生成第二延迟信号，其中，数据输入和输出控制器还可被配置为生成用于控制编码器的第四控制信号，并且编码器可被配置为根据第四控制信号输出编码信号或第二延迟信号作为数据信号。

13、所述存储器装置还可包括：串行器，被配置为基于数据信号生成第一串行化信号，其中，第一串行化信号可具有n位数据。

14、串行器还可被配置为基于所述多个otf位从输出数据之中选择n个位，并且可被配置为基于选择的n个位生成第一串行化信号。

15、第一信号可具有n位数据，并且第一解串行化信号可具有4n位数据。

16、命令解码器还可被配置为：通过错误端子、命令端子和地址端子中的一个接收otf数据。

17、本公开的另一实施例提供一种测试方法，所述测试方法包括：接收输入数据和包括多个即时(otf)位的otf数据；基于第一时钟信号对输入数据进行采样，以基于采样的输入数据生成第一信号；基于第二时钟信号从第一信号生成第一解串行化信号，第二时钟信号具有第一时钟信号的频率的i倍的频率；基于第二时钟信号根据第一解串行化信号和otf数据生成模式信号，并且将模式信号存储在存储器单元阵列中；以及顺序地布置由存储器单元阵列输出的输出数据中的相应位，并且基于输出数据生成第一串行化信号，其中，i是大于或等于2的自然数。

18、所述测试方法还可包括：将输入数据与第一串行化信号进行比较，并且确定存储器装置是否正常操作。

19、本公开的另一实施例提供一种测试系统，所述测试系统包括：存储器装置；以及测试装置，用于测试存储器装置，其中，测试装置被配置为将写入命令、包括多个即时(otf)位的otf数据和输入数据发送到存储器装置，被配置为将读取命令和otf数据发送到存储器装置，被配置为从存储器装置接收输出数据，并且被配置为将输入数据与输出数据进行比较，并且存储器装置被配置为接收写入命令，被配置为基于第一时钟信号对输入数据进行采样以生成第一信号，被配置为基于具有第一时钟信号的频率的i倍的频率的第二时钟信号从第一信号生成第一解串行化信号，被配置为基于第二时钟信号根据第一解串行化信号和otf数据生成模式信号，被配置为将模式信号存储在存储器单元阵列中，被配置为接收读取命令，被配置为基于otf数据选择模式信号的一些位，被配置为布置所述一些位，并且被配置为输出包括所述一些位的输出数据，其中，i是大于或等于2的自然数。

20、第一信号可具有n位数据，并且第一解串行信号可具有2n位数据。

21、第一信号可具有n位数据，并且第一解串行信号可具有4n位数据。

22、第一信号可具有n位数据，并且第一解串行信号可具有2n位数据，并且存储器装置可被配置为基于otf数据生成具有2n位数据的反相数据信号，并且可被配置为对反相数据信号的相应位和第一解串行化信号的相应位执行xor运算以生成模式信号。