一种存储器测试治具的制作方法

本技术涉及存储器设备测试，更具体地说，涉及一种存储器测试治具。

背景技术：

1、存储器单元实际上是时序逻辑电路的一种。按存储器的使用类型可分为只读存储器(rom)和随机存取存储器(ram)，两者的功能有较大的区别，因此在描述上也有所不同。

2、现在常用的便携式的存储器的规格较小，在投入实际使用时，需要对存储器的使用功能进行存储。

3、基于上述，本发明人发现：

4、在针对便携式存储器进行实际测试时，常用的测试方式为对存储器的所有触点进行统一测试，当检测结果为存储器正常时，则存储器可正常使用，当检测结果为存储器非正常使用时，则难以快速检测出为便携式存储器中哪个触点出现问题，进而需要使用其他设备进行进一步检测，降低了便携式存储器的检测效率。

5、于是，有鉴于此，针对现有的结构予以研究改良，提供一种存储器测试治具，以期达到更具有更加实用价值性的目的。

技术实现思路

1、1.要解决的技术问题

2、针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种存储器测试治具，它可以实现对便携式存储器的触点问题的快速检测，避免使用其他设备进行进一步检测，提高了存储器的检测效率。

3、2.技术方案

4、为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。

5、一种存储器测试治具，包括检测主箱，所述检测主箱的一端固定设置有接入端口箱，所述接入端口箱的顶端开设有存储器接入卡件，所述检测主箱的顶端一侧设置有若干个点位螺纹柱，所述检测主箱的内底部固定设置有点位接触板，所述检测主箱的内中部固定设置有若干个点位检测片，所述点位检测片的底端固定设置有电位板，并通过电位板接入检测电路。

6、进一步的，所述检测主箱的中部为空心结构，且所述检测主箱的外侧卡接有透明玻璃板。

7、进一步的，所述接入端口箱的顶端开设有对位卡口，所述存储器接入卡件的底端固定设置有对位卡片，所述对位卡口与对位卡片形成卡接。

8、进一步的，所述存储器接入卡件的顶端开设有一号对接卡口位和二号对接卡口位。

9、进一步的，所述点位螺纹柱、点位接触板和点位检测片的数量均为九个。

10、进一步的，若干所述点位螺纹柱呈波浪形态分布；

11、若干所述点位接触板呈波浪形态分布；

12、若干所述点位检测片呈波浪形态分布。

13、进一步的，所述点位螺纹柱包括绝缘质把手、绝缘质带螺纹柱体、金属质柱体和锥形推进头，所述绝缘质把手、绝缘质带螺纹柱体、金属质柱体和锥形推进头为一体化结构；

14、所述金属质柱体、锥形推进头、点位接触板和点位检测片的材质相同。

15、3.有益效果

16、相比于现有技术，本实用新型的优点在于：

17、本方案，在进行存储器检测时，根据存储器接入口的不同，选择是否使用存储器接入卡件，以便适应存储器接口，当存储器接入到检测主箱时，便携式存储器的点位即可与接入端口箱中的点位一一对应，然后接入端口箱中的点位传递到点位接触板，在点位螺纹柱旋入，并同时与点位接触板和点位检测片接触，然后通过电位板实现对应点位与检测电路的连接，这样即可实现对存储器的连接，当存储器检测结果为异常时，调节点位螺纹柱的旋入深度，并进行对比检测，可判定存储器中出现异常的点位的位置，实现对便携式存储器的触点问题的快速检测，避免使用其他设备进行进一步检测，提高了存储器的检测效率。

技术特征：

1.一种存储器测试治具，包括检测主箱(1)，其特征在于：所述检测主箱(1)的一端固定设置有接入端口箱(2)，所述接入端口箱(2)的顶端开设有存储器接入卡件(3)，所述检测主箱(1)的顶端一侧设置有若干个点位螺纹柱(4)，所述检测主箱(1)的内底部固定设置有点位接触板(5)，所述检测主箱(1)的内中部固定设置有若干个点位检测片(6)，所述点位检测片(6)的底端固定设置有电位板(7)，并通过电位板(7)接入检测电路。

2.根据权利要求1所述的一种存储器测试治具，其特征在于：所述检测主箱(1)的中部为空心结构，且所述检测主箱(1)的外侧卡接有透明玻璃板(101)。

3.根据权利要求1所述的一种存储器测试治具，其特征在于：所述接入端口箱(2)的顶端开设有对位卡口(201)，所述存储器接入卡件(3)的底端固定设置有对位卡片(301)，所述对位卡口(201)与对位卡片(301)形成卡接。

4.根据权利要求1所述的一种存储器测试治具，其特征在于：所述存储器接入卡件(3)的顶端开设有一号对接卡口位(302)和二号对接卡口位(303)。

5.根据权利要求1所述的一种存储器测试治具，其特征在于：所述点位螺纹柱(4)、点位接触板(5)和点位检测片(6)的数量均为九个。

6.根据权利要求1所述的一种存储器测试治具，其特征在于：若干所述点位螺纹柱(4)呈波浪形态分布；

7.根据权利要求1所述的一种存储器测试治具，其特征在于：所述点位螺纹柱(4)包括绝缘质把手(401)、绝缘质带螺纹柱体(402)、金属质柱体(403)和锥形推进头(404)，所述绝缘质把手(401)、绝缘质带螺纹柱体(402)、金属质柱体(403)和锥形推进头(404)为一体化结构；

技术总结本技术公开了一种存储器测试治具，属于存储器设备测试技术领域，一种存储器测试治具，包括检测主箱，检测主箱的一端固定设置有接入端口箱，接入端口箱的顶端开设有存储器接入卡件，检测主箱的顶端一侧设置有若干个点位螺纹柱，检测主箱的内底部固定设置有点位接触板，检测主箱的内中部固定设置有若干个点位检测片，点位检测片的底端固定设置有电位板，并通过电位板接入检测电路。它可以实现对便携式存储器的触点问题的快速检测，避免使用其他设备进行进一步检测，提高了存储器的检测效率。技术研发人员：韩育新受保护的技术使用者：北京创新领航科技有限公司技术研发日：20231104技术公布日：2024/7/4