存储器装置及其测试方法与流程

本公开关于一种存储器装置及其测试方法，尤其涉及一种存储器装置及用于测试源极线以及位线之间短路状态的测试方法。

背景技术：

1、随着电子科技的进步，存储器装置的储存密度也随之增加。在现今的存储单元阵列中，常具有大量的区域位线以及区域源极线。这些区域位线以及区域源极线通常以交错的方式来进行布局，并可能发生彼此之间的短路状态。

2、在存储器装置中，区域位线以及区域源极线之间的短路状态，可发生在相同的存储单元群组中，也可能发生在相邻的存储单元群组之间。在现有的测试技术中，当测试出区域位线以及区域源极线之间有发生短路现象时，常无法辨识出这个短路是发生在相同的存储单元群组中，或是发生在相邻的存储单元群组之间。也因此无法执行正确的修复动作。

技术实现思路

1、本公开提供一种存储器装置及其测试方法，可有效测试出相邻群组之间区域位线以及区域源极线之间的短路现象。

2、本公开的存储器装置，例如为三维叠层式与式闪存，包括存储单元阵列、第一共用位线、第二共用位线以及开关元件。存储单元阵列区分为第一存储单元群组以及第二存储单元群组，第一存储单元群组具有多条第一区域位线以及多条第一区域源极线，第二存储单元群组具有多条第二区域位线以及多条第二区域源极线。第一共用位线以及一第二共用位线分别耦接至第一感测放大器以及第二感测放大器。第一共用位线耦接至第一区域位线。第二共用位线耦接至第二区域位线。开关元件耦接在第一区域源极线、第二区域源极线以及共用源极线之间。开关元件用于在不同的多个测试模式中，使第一区域源极线耦接至共用源极线，或使第二区域源极线耦接至共用源极线。

3、本公开的测试方法包括：区分存储单元阵列为第一存储单元群组以及第二存储单元群组，其中第一存储单元群组具有多条第一区域位线以及多条第一区域源极线，第二存储单元群组具有多条第二区域位线以及多条第二区域源极线；使第一共用位线以及第二共用位线分别耦接至第一感测放大器以及第二感测放大器，其中第一共用位线耦接至第一区域位线，第二共用位线耦接至第二区域位线；设置开关元件在第一区域源极线、第二区域源极线以及共用源极线之间；以及，在不同的多个测试模式中，使第一区域源极线耦接至共用源极线，或使第二区域源极线耦接至共用源极线。

4、基于上述，本公开的存储器装置通过开关元件，使第一区域源极线或第二区域源极线耦接至共用源极线，来分别测试相同存储单元群组中的区域位线以及区域源极线之间的短路现象，并测试相邻存储单元群组之间，区域位线以及区域源极线之间的短路现象。如此一来，存储单元阵列中，区域位线以及区域源极线之间的短路现象可有效的完成测试，并可维持存储器装置的正常运作。

技术特征：

1.一种存储器装置，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中在一第一测试模式中，该开关元件使所述多个第一区域源极线耦接至该共用源极线，并切断所述多个第二区域源极线与该共用源极线的耦接关系。

3.根据权利要求2所述的存储器装置，其中在该第一测试模式中，该第一感测放大器测试各该第一区域源极线与各该第一区域位线之间有无发生短路。

4.根据权利要求2所述的存储器装置，其中在一第二测试模式中，该开关元件使所述多个第二区域源极线耦接至该共用源极线，并切断所述多个第一区域源极线与该共用源极线的耦接关系。

5.根据权利要求4所述的存储器装置，其中在该第二测试模式中，该第二感测放大器测试各该第二区域源极线与各该第二区域位线之间有无发生短路。

6.根据权利要求4所述的存储器装置，其中在一第三测试模式中，该开关元件使所述多个第二区域源极线耦接至该共用源极线，并切断所述多个第一区域源极线与该共用源极线的耦接关系，该第二感测放大器测试各该第一区域源极线与各该第二区域位线之间有无发生短路。

7.根据权利要求1所述的存储器装置，其中该开关元件包括：

8.根据权利要求1所述的存储器装置，还包括：

9.根据权利要求8所述的存储器装置，还包括：

10.根据权利要求1所述的存储器装置，还包括：

11.根据权利要求1所述的存储器装置，其中在所述多个测试模式下，该第一存储单元群组以及该第二存储单元群组中的多个存储单元均为禁止存取的状态。

12.一种存储器装置的测试方法，包括：

13.根据权利要求12所述的测试方法，包括：

14.根据权利要求13所述的测试方法，还包括：

15.根据权利要求13所述的测试方法，还包括：

16.根据权利要求15所述的测试方法，还包括：

17.根据权利要求15所述的测试方法，还包括：

18.根据权利要求12所述的测试方法，还包括：

技术总结本公开提供了一种存储器装置及其测试方法，该存储器装置例如为三维叠层式与式闪存，包括存储单元阵列、第一共用位线、第二共用位线以及开关元件。存储单元阵列区分为第一存储单元群组以及第二存储单元群组，第一存储单元群组具有多条第一区域位线以及多条第一区域源极线，第二存储单元群组具有多条第二区域位线以及多条第二区域源极线。开关元件用于在不同的多个测试模式中，使第一区域源极线耦接至共用源极线，或使第二区域源极线耦接至共用源极线。技术研发人员：胡志玮,叶腾豪,吕函庭受保护的技术使用者：旺宏电子股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/9