存储芯片测试方法及存储芯片测试装置、存储介质与流程

本申请涉及存储芯片测试，具体涉及一种存储芯片测试方法及存储芯片测试装置、存储介质。

背景技术：

1、在芯片的整个生产周期中，芯片测试是测试芯片实际性能及确保产品合格的重要环节之一。为了记录完整的测试状态，一般会给测试过程增加很多打印信息，甚至需要输出整个测试系统的所有运行日志。

2、现有技术通常是将测试板的测试数据缓存至闪存中，然后再从闪存中下载缓存的测试数据。但是，这会增加硬件设计的成本和复杂性，且数据传输较慢，测试数据的查看也没有很好的实时性，另外，闪存有擦除寿命，长期大量频繁的测试会影响闪存的擦除寿命，容易导致测试数据的缓存不稳定。

技术实现思路

1、鉴于此，本申请提供一种存储芯片测试方法及存储芯片测试装置、存储介质，可以改善测试所需硬件的成本和复杂性较高、查看测试数据的实时性较差、以及测试数据的缓存不稳定的问题。

2、本申请提供的一种存储芯片测试方法，包括：

3、通讯板通过至少一串口扩展芯片连接若干测试板，所述串口扩展芯片设置有多个串口且每一所述串口连接一所述测试板，以及所述通讯板通过第一端口与上位机建立第一连接并通过第二端口与上位机建立第二连接；

4、所述通讯板接收各个测试板产生的缓存数据，并从所述缓存数据中识别出日志数据或指令数据，其中所述缓存数据由各个串口对应的测试板产生；

5、所述通讯板将接收到的所述日志数据加入各个测试板对应的日志队列，将接收到的所述指令数据加入各个测试板对应的指令队列；

6、所述通讯板将所述日志队列中的日志数据通过所述第一连接和将所述指令队列中的指令数据通过所述第二连接并行传输给所述上位机。

7、可选的，所述从所述缓存数据中识别出日志数据或指令数据，包括：

8、获取缓存数据中的数据；

9、当从所述缓存数据中识别到头字节时，设置标记，并继续识别；

10、当从所述缓存数据中识别到尾字节时，根据所述头字节及所述尾字节筛选出指令数据，并将未识别到所述头字节及所述尾字节的数据作为日志数据。

11、可选的，所述存储芯片测试方法还包括：

12、当未识别到所述头字节时，根据缓存数据的长度继续读取缓存数据，并判断是否从所述缓存数据中识别到指令数据的头字节，以及，

13、若从所述缓存数据中识别到指令数据的头字节，则设置所述标记，以及在等待第一预设时长后，再读取缓存数据并解析，根据解析的数据筛选出所述尾字节，并得到指令数据，将指令数据发送至指令队列；

14、若未从所述缓存数据中识别到指令数据的头字节，则将所述缓存数据作为日志数据。

15、可选的，所述存储芯片测试方法还包括：

16、判断是否从缓存数据中识别到所述指令数据的长度字节；

17、若是，则从串口读取达到所述长度字节的缓存数据，并从所述缓存数据中解析，根据解析的数据筛选出所述尾字节，得到指令数据，并将指令数据发送至指令队列；

18、若否，则根据缓存数据的长度继续读取缓存数据，并判断是否从所述缓存数据中识别到指令数据的头字节，以及，

19、若从所述缓存数据中识别到指令数据的头字节，则读取所述指令数据的长度字节并解析，根据解析的数据筛选出所述尾字节，得到指令数据；

20、若未从所述缓存数据中识别到指令数据的头字节，则将所述缓存数据作为日志数据。

21、可选的，所述从所述缓存数据中识别出日志数据或指令数据，包括：

22、判断所述缓存数据中封装包的头字节是否为ascii编码字符之外的编码字符；

23、若是，则确定未识别到指令数据；

24、若否，则检测是否为用于标识指令数据的自定义头字节，以及，

25、若是所述自定义头字节，则确定识别到指令数据；

26、若不是所述自定义头字节，则确定未识别到指令数据。

27、可选的，所述芯片测试方法还包括：

28、所述通讯板判断所述第一连接是否建立；

29、若否，则所述通讯板循环缓存最近的第二预设时长的日志数据，并直至所述第一连接建立时将缓存的第二预设时长的日志数据传输给所述上位机；

30、若是，则所述通讯板将所述日志队列中的日志数据通过所述第一连接传输给所述上位机。

31、可选的，所述第二预设时长为500毫秒。

32、可选的，所述日志数据表现为封装包，所述封装包包括日志数据头、数据类型、数据源编号、数据长度以及数据内容，所述数据源编号表示所述日志数据所来自的串口。

33、本申请提供的一种存储芯片测试装置，包括上位机和通讯板，所述通讯板包括至少一串口扩展芯片，所述串口扩展芯片设置有多个串口，所述通讯板还设置有第一端口和第二端口，所述通讯板、所述上位机和测试板之间通过如上任一项所述的芯片测试方法执行芯片测试。

34、可选的，串口为spi(serial peripheral interface，串行外围设备接口)，第一端口为tcp(transmission control protocol，为传输控制协议)端口，第二端口为udp(userdatagram protocol，为用户数据报协议)端口。

35、可选的，所述通讯板设置有缓存空间，以允许缓存第一预设字节长度的数据，和/或，单个所述串口可缓存第二预设字节长度的数据，所述第二预设字节长度小于所述第一预设字节长度。

36、本申请提供的一种存储介质，存储有程序，所述程序被处理器执行时实现如上任一项所述的存储芯片测试方法。

37、如上所述，本申请通过通讯板建立上位机和若干测试板之间的连接，测试数据(包括日志数据和指令数据)可以经由通讯板在上位机和各个测试板之间传输，相比较于增加cpla或者fpga高速处理芯片的现有技术，通讯板成本和设计较为简单，从而可以降低测试所需硬件的成本和复杂性，并且测试数据无需缓存至外接的闪存中，测试数据的缓存较为稳定，另外，指令数据和日志数据可以同时传输至上位机，可以实时查看测试数据。

技术特征：

1.一种存储芯片测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片测试方法，其特征在于，所述从所述缓存数据中识别出日志数据或指令数据，包括：

3.根据权利要求2所述的存储芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法还包括：

4.根据权利要求2所述的存储芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法还包括：

5.根据权利要求1至4中任一项所述的存储芯片测试方法，其特征在于，所述从所述缓存数据中识别出日志数据或指令数据，包括：

6.根据权利要求1所述的存储芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法还包括：

7.根据权利要求1所述的存储芯片测试方法，其特征在于，所述日志数据表现为封装包，所述封装包包括日志数据头、数据类型、数据源编号、数据长度以及数据内容，所述数据源编号表示所述日志数据所来自的串口。

8.一种存储芯片测试装置，其特征在于，包括上位机和通讯板，所述通讯板包括至少一串口扩展芯片，所述串口扩展芯片设置有多个串口，所述通讯板还设置有第一端口和第二端口，所述通讯板、所述上位机和测试板之间通过如权利要求1至7中任一项所述的芯片测试方法执行芯片测试。

9.根据权利要求8所述的存储芯片测试装置，其特征在于，所述串口为spi，所述第一端口为tcp端口，所述第二端口为udp端口。

10.一种存储介质，其特征在于，存储有程序，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的存储芯片测试方法。

技术总结本申请提出一种存储芯片测试方法及存储芯片测试装置、存储介质。通讯板通过至少一串口扩展芯片连接若干测试板，串口扩展芯片的每一串口连接一测试板，通讯板通过第一端口和第二端口与上位机分别建立第一连接和第二连接；通讯板接收各个测试板产生的缓存数据，并识别出日志数据或指令数据；通讯板将接收到的日志数据加入对应的日志队列、指令数据加入对应的指令队列，以及将日志队列中的日志数据和指令队列中的指令数据分别通过第一连接和第二连接并列传输给上位机。本申请可以降低测试所需硬件的成本和复杂性，测试数据的缓存较为稳定，并且指令数据和日志数据可同时传输至上位机，可以实时查看测试数据。技术研发人员：刘众,李文俊,肖浩,黄慧敏受保护的技术使用者：深圳宏芯宇存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/9