按键触摸测试方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本公开涉及膜片测试，尤其涉及一种按键触摸测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、对于膜片上包含多个按键的电子产品，在对这类电子产品进行触摸测试时，为了避免同时触摸多个按键导致的触摸误判，需要采用手指逐个点击按键区域的方法来测试，导致这类电子产品的触摸测试效率低。

技术实现思路

1、为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本公开实施例提供了一种按键触摸测试方法、装置、电子设备及存储介质。

2、根据本公开的一方面，提供了一种按键触摸测试方法，包括：

3、获取被测产品的膜片的多个按键对应的电容值变化量，其中，每个按键对应一个按键标识，所述电容值变化量与所述按键标识关联；

4、根据所述按键标识关联的电容值变化量及预设的触摸门限范围，确定所述按键标识对应的按键的触摸状态；

5、根据所述多个按键中每个按键的触摸状态，确定所述每个按键对应的按键测试结果；

6、在预设的触摸测试界面中展示所述每个按键对应的按键测试结果。

7、根据本公开的另一方面，提供了一种按键触摸测试装置，包括：

8、数据获取模块，用于获取被测产品的膜片的多个按键对应的电容值变化量，其中，每个按键对应一个按键标识，所述电容值变化量与所述按键标识关联；

9、状态确定模块，用于根据所述按键标识关联的电容值变化量及预设的触摸门限范围，确定所述按键标识对应的按键的触摸状态；

10、结果确定模块，用于根据所述多个按键中每个按键的触摸状态，确定所述每个按键对应的按键测试结果；

11、结果展示模块，用于在预设的触摸测试界面中展示所述每个按键对应的按键测试结果。

12、根据本公开的另一方面，提供了一种电子设备，包括：

13、处理器；以及

14、存储程序的存储器，

15、其中，所述程序包括指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述处理器执行根据前述一方面所述的按键触摸测试方法。

16、根据本公开的另一方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行根据前述一方面所述的按键触摸测试方法。

17、根据本公开的另一方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，其中，所述计算机程序在被处理器执行时实现前述一方面所述的按键触摸测试方法。

18、本公开实施例中提供的一个或多个技术方案，通过获取被测产品的膜片的多个按键对应的电容值变化量，其中，每个按键对应一个按键标识，电容值变化量与按键标识关联，根据按键标识关联的电容值变化量及预设的触摸门限范围，确定按键标识对应的按键的触摸状态，进而根据多个按键中每个按键的触摸状态，确定每个按键对应的按键测试结果，在预设的触摸测试界面中展示每个按键的按键测试结果。采用本公开的方案，通过为膜片的每个按键设置唯一对应的按键标识，获取的电容值变化量与按键标识关联，进而根据按键标识关联的电容值变化量确定按键标识对应的按键的触摸状态，避免了按键之间的电容值串扰，从而能够同时对膜片的多个按键进行触摸测试，提高了测试效率。

技术特征：

1.一种按键触摸测试方法，其中，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的按键触摸测试方法，其中，所述触摸测试界面中包括多个按键图标，一个按键图标对应一个按键，所述按键图标上标注有对应按键的按键标识；

3.如权利要求2所述的按键触摸测试方法，其中，所述触摸测试界面中还包括测试结论图标，所述测试结论图标用于指示被测产品是否通过触摸测试；

4.如权利要求1所述的按键触摸测试方法，其中，所述根据所述按键标识关联的所述电容值变化量及预设的触摸门限范围，确定所述按键标识对应的按键的触摸状态，包括：

5.如权利要求1-4任一项所述的按键触摸测试方法，其中，所述膜片的每个按键通过单独的导线引出并集中在膜片顶部的导电触片上，其中，一个按键对应一个导电触片；

6.如权利要求1-4任一项所述的按键触摸测试方法，其中，所述被测产品置于测试治具上进行测试，所述测试治具包括治具上压头以及与所述测试产品大小相同的底座，所述治具上压头上设置有与所述被测产品的按键位置对应且数量相等的测试信号源；

7.如权利要求6所述的按键触摸测试方法，其中，所述测试信号源为与所述按键的截面面积相等的金属柱或导电硅胶，所述测试信号源接地。

8.一种按键触摸测试装置，其中，所述装置包括：

9.一种电子设备，包括：

10.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机执行根据权利要求1-7中任一项所述的按键触摸测试方法。

技术总结本公开提供一种按键触摸测试方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：获取被测产品的膜片的多个按键对应的电容值变化量，其中，每个按键对应一个按键标识，电容值变化量与按键标识关联；根据按键标识关联的电容值变化量及预设的触摸门限范围，确定按键标识对应的按键的触摸状态；根据多个按键中每个按键的触摸状态，确定所述每个按键对应的按键测试结果；在预设的触摸测试界面中展示每个按键对应的按键测试结果。本方案通过为膜片的每个按键设置唯一对应的按键标识，获取的电容值变化量与按键标识关联，避免了按键之间的电容值串扰，从而能够同时对膜片的多个按键进行触摸测试，提高了测试效率。技术研发人员：李松海受保护的技术使用者：深圳市星桐科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/8/1