一种无源晶振检测设备的制作方法

本技术涉及晶振检测，具体为一种无源晶振检测设备。

背景技术：

1、晶振是电子电路中最常用的电子元件之一，晶振的种类繁多，例如晶振可以分为有源晶振和无源晶振，不同类型的有源晶振的工作电压不同，无源晶振依据不同的封装形式还分为贴片式无源晶振和插入式无源晶振两种。

2、目前, 对无源晶体的检测通常由人工将晶振片取出然后放入检测设备检测，但在人工检测过程可能会有跌落、重压和撞击等，造成晶振内部水晶片破裂或损坏，在检测拿取过程中，还容易造成晶振片划伤而导致晶振片无法使用，因此，针对上述问题提出一种无源晶振检测设备。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种无源晶振检测设备，以解决人工检测会导致晶振片损坏的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

3、一种无源晶振检测设备，包括支撑架和传动块，所述支撑架上端开设有废料口，所述废料口内侧固定连接有电磁铁，所述支撑架下端固定连接有收集箱，所述支撑架上端固定连接有检测块，所述检测块外侧固定连接有检测头，所述支撑架上端固定连接有电机，所述电机左端固定连接有转动辊，所述转动辊左端转动连接有固定块，所述转动辊外侧转动连接有皮带，所述皮带上端固定连接有传动块，所述传动块内侧开设有卡槽，所述卡槽内部滑动连接有卡块，所述传动块上端固定连接有弹簧，所述弹簧上端固定连接有卡杆，所述卡杆中端固定连接有压杆，所述压杆下端设有无源晶振。

4、优选的，所述弹簧内侧与卡杆外侧螺旋接触，所述卡杆下端与卡块紧贴。

5、优选的所述卡槽内部左端固定连接有弹簧，所述弹簧内侧与卡块外侧螺旋接触。

6、优选的，所述转动辊的数为4个，所述转动辊两端均转动连接在固定块内部。

7、优选的，所述压杆下端与无源晶振紧贴，所述压杆的形状为“l”形。

8、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

9、本实用新型中，通过设置的皮带、传动块、卡槽、卡块、卡杆、电磁铁和检测块，检测时将无源晶振推进卡槽里，通过卡块和卡杆固定住晶振，在检测的过程中避免晶振的跌落、重压和撞击等会对晶振造成损害的行为，防止在人工检测拿取过程中，对晶振片造成划伤而导致晶振片无法使用的情况。

技术特征：

1.一种无源晶振检测设备，包括支撑架（1）和传动块（11），其特征在于，所述支撑架（1）上端开设有废料口（2），所述废料口（2）内侧固定连接有电磁铁（3），所述支撑架（1）下端固定连接有收集箱（4），所述支撑架（1）上端固定连接有检测块（5），所述检测块（5）外侧固定连接有检测头（6），所述支撑架（1）上端固定连接有电机（7），所述电机（7）左端固定连接有转动辊（8），所述转动辊（8）左端转动连接有固定块（9），所述转动辊（8）外侧转动连接有皮带（10），所述皮带（10）上端固定连接有传动块（11），所述传动块（11）内侧开设有卡槽（12），所述卡槽（12）内部滑动连接有卡块（13），所述传动块（11）上端固定连接有弹簧（14），所述弹簧（14）上端固定连接有卡杆（15），所述卡杆（15）中端固定连接有压杆（16），所述压杆（16）下端设有无源晶振（17）。

2.根据权利要求1所述的一种无源晶振检测设备，其特征在于：所述弹簧（14）内侧与卡杆（15）外侧螺旋接触，所述卡杆（15）下端与卡块（13）紧贴。

3.根据权利要求1所述的一种无源晶振检测设备，其特征在于：所述卡槽（12）内部左端固定连接有弹簧（14），所述弹簧（14）内侧与卡块（13）外侧螺旋接触。

4.根据权利要求1所述的一种无源晶振检测设备，其特征在于：所述转动辊（8）的数为4个，所述转动辊（8）两端均转动连接在固定块（9）内部。

5.根据权利要求1所述的一种无源晶振检测设备，其特征在于：所述压杆（16）下端与无源晶振（17）紧贴，所述压杆（16）的形状为“l”形。

技术总结本技术涉及晶振检测技术领域，尤其为一种无源晶振检测设备，包括支撑架和传动块，所述支撑架上端开设有废料口，所述废料口内侧固定连接有电磁铁，所述支撑架下端固定连接有收集箱，所述支撑架上端固定连接有检测块，所述检测块外侧固定连接有检测头，所述支撑架上端固定连接有电机，所述电机左端固定连接有转动辊，所述转动辊左端转动连接有固定块，所述转动辊外侧转动连接有皮带，本技术中，检测时将无源晶振推进卡槽里，通过卡块和卡杆固定住晶振，在检测的过程中避免晶振的跌落、重压和撞击等会对晶振造成损害的行为，防止在人工检测拿取过程中，对晶振片造成划伤而导致晶振片无法使用的情况。技术研发人员：敬文平受保护的技术使用者：四川川晶科技有限公司技术研发日：20231117技术公布日：2024/8/16