一种工业电子设备的质量检测方法、装置及设备与流程

本发明涉及工业电子设备，还涉及一种工业电子设备的质量检测方法、装置及设备。

背景技术：

1、在电子制造领域，产品质量检测的指标一般包括电气参数测试（电阻、电容、电感）、功能测试、耐压测试、光学测试、热测试等等。采用最多的质量判定标准是设置一个特定的性能或质量标准（即“阈值”），将实际检测到的产品性能或质量参数与这一标准进行比较，以判断产品是否满足性能或质量标准。这种产品质量检测方法一般会在产品生产结束后，对成型的产品进行质量检测，一旦中间的生产工序发生问题，则无法通过该种检测方法及时发现和解决，对生产线的生产造成损失。另外，工厂为了提高客户满意度、降低客户投诉，会制定比客户要求更加严格的检测指标范围，这会对产品良率造成损失。

技术实现思路

1、本发明要解决的技术问题是提供一种工业电子设备的质量检测方法、装置及设备，以提高工业电子设备质量检测的准确性和生产安全性。

2、为解决上述技术问题，本发明的技术方案如下：

3、本发明的第一个方面，提供了一种工业电子设备的质量检测方法，包括：

4、获取工业电子设备的生产工艺中至少一个检测工序的多个设备的多个检测指标数据；其中，每个设备均对应多个检测指标数据；所述多个检测指标数据为连续数值型数据；

5、根据所述每个设备的多个检测指标数据，确定每个设备的各检测指标对应的标准正态分布特征；

6、根据每个设备的所述各检测指标对应的标准正态分布特征和所述各检测指标对应的阈值范围，确定设备的离散风险度；

7、根据所述设备的离散风险度和预设离散风险度阈值，得到设备质量检测结果。

8、可选的，根据所述每个设备的多个检测指标数据，确定每个设备的各检测指标对应的标准正态分布特征，包括：

9、根据所述每个设备的多个检测指标数据，得到各检测指标的初始均值和初始标准差；

10、根据所述各检测指标的初始均值和初始标准差，对所述多个设备的多个检测指标数据进行筛选，得到筛选后的检测指标数据；

11、根据所述筛选后的检测指标数据，得到各检测指标对应的目标均值和目标标准差；

12、根据所述各检测指标对应的目标均值和目标标准差，确定每个设备的各检测指标对应的标准正态分布特征。

13、可选的，根据每个设备的所述各检测指标对应的标准正态分布特征和所述各检测指标对应的阈值范围，确定设备的离散风险度，包括：

14、根据每个设备的所述各检测指标对应的标准正态分布特征和所述各检测指标对应的阈值范围，得到设备的各检测指标的离散风险度；

15、根据所述设备的各检测指标的离散风险度，得到设备的离散风险度。

16、可选的，根据每个设备的所述各检测指标对应的标准正态分布特征和所述各检测指标对应的阈值范围，得到设备的各检测指标的离散风险度，包括：

17、通过得到设备的各检测指标的离散风险度；

18、其中，为第m个设备第i个检测指标的离散风险度，为第m个设备的第i个检测指标数据，为第i个检测指标的目标均值，为第i个检测指标的目标标准差，为第i个检测指标的阈值范围的上限，为第i个检测指标的阈值范围的下限。

19、可选的，根据所述设备的各检测指标的离散风险度，得到设备的离散风险度，包括：

20、通过得到设备的离散风险度；

21、其中，为第m个设备的离散风险度，n为检测指标的个数，为第i个检测指标超出第i个检测指标的阈值范围的设备比例，为第m个设备第i个检测指标的离散风险度。

22、可选的，根据所述设备的离散风险度和预设离散风险度阈值，得到设备质量检测结果，包括：

23、获取预设单向检测指标的离散风险度阈值；

24、根据所述预设单向检测指标的离散风险度阈值，确定预设离散风险度阈值；

25、若所述设备的离散风险度大于所述预设离散风险度阈值，则所述设备的设备质量检测结果为不合格。

26、可选的，所述方法还包括：

27、根据所述设备质量检测结果，输出设备质量检测报告。

28、本发明的第二个方面，提供了一种工业电子设备的质量检测装置，包括：

29、获取模块，用于获取工业电子设备的生产工艺中至少一个检测工序的多个设备的多个检测指标数据；其中，每个设备均对应多个检测指标数据；所述多个检测指标数据为连续数值型数据；

30、第一处理模块，用于根据所述每个设备的多个检测指标数据，确定每个设备的各检测指标对应的标准正态分布特征；

31、第二处理模块，用于根据每个设备的所述各检测指标对应的标准正态分布特征和所述各检测指标对应的阈值范围，确定设备的离散风险度；

32、检测模块，用于根据所述设备的离散风险度和预设离散风险度阈值，得到设备质量检测结果。

33、本发明的第三个方面，提供了一种计算设备，包括：处理器、存储有计算机程序的存储器，所述计算机程序被处理器运行时，执行如第一个方面所述的方法。

34、本发明的第四个方面，提供了一种计算机可读存储介质，存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行如第一个方面所述的方法。

35、本发明的上述方案至少包括以下有益效果：

36、本发明的上述方案，通过获取工业电子设备的生产工艺中至少一个检测工序的多个设备的多个检测指标数据，确定每个设备的各检测指标对应的标准正态分布特征，并根据各检测指标对应的阈值范围，确定设备的离散风险度，从而实现对设备的质量检测，不仅提高了设备质量检测的准确性，还能有效节约生产成本。

技术特征：

1.一种工业电子设备的质量检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的工业电子设备的质量检测方法，其特征在于，根据所述每个设备的多个检测指标数据，确定每个设备的各检测指标对应的标准正态分布特征，包括：

3.根据权利要求1所述的工业电子设备的质量检测方法，其特征在于，根据每个设备的所述各检测指标对应的标准正态分布特征和所述各检测指标对应的阈值范围，确定设备的离散风险度，包括：

4.根据权利要求3所述的工业电子设备的质量检测方法，其特征在于，根据每个设备的所述各检测指标对应的标准正态分布特征和所述各检测指标对应的阈值范围，得到设备的各检测指标的离散风险度，包括：

5.根据权利要求4所述的工业电子设备的质量检测方法，其特征在于，根据所述设备的各检测指标的离散风险度，得到设备的离散风险度，包括：

6.根据权利要求1所述的工业电子设备的质量检测方法，其特征在于，根据所述设备的离散风险度和预设离散风险度阈值，得到设备质量检测结果，包括：

7.根据权利要求1所述的工业电子设备的质量检测方法，其特征在于，还包括：

8.一种工业电子设备的质量检测装置，其特征在于，包括：

9.一种计算设备，其特征在于，包括：处理器、存储有计算机程序的存储器，所述计算机程序被处理器运行时，执行如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行如权利要求1至7任一项所述的方法。

技术总结本发明提供一种工业电子设备的质量检测方法、装置及设备。所述方法包括：获取工业电子设备的生产工艺中至少一个检测工序的多个设备的多个检测指标数据；其中，每个设备均对应多个检测指标数据；所述多个检测指标数据为连续数值型数据；根据所述每个设备的多个检测指标数据，确定每个设备的各检测指标对应的标准正态分布特征；根据每个设备的所述各检测指标对应的标准正态分布特征和所述各检测指标对应的阈值范围，确定设备的离散风险度；根据所述设备的离散风险度和预设离散风险度阈值，得到设备质量检测结果。本发明通过获取的多个检测指标数据确定设备的离散风险度，从而对设备进行质量检测，提高了设备检测的准确性，降低了生产成本。技术研发人员：史建成,解光耀,李彤,徐地,田春华受保护的技术使用者：北京工业大数据创新中心有限公司技术研发日：技术公布日：2024/8/20