一种电源驱动故障测试系统及方法与流程

本技术涉及测试，尤其是涉及一种电源驱动故障测试系统及方法。

背景技术：

1、随着led灯具作为绿色环保照明的代表逐渐普及，对于led驱动电源的高效稳定运行越来越被重视。然而，在实际应用过程中，led灯具长时间运行或供电不稳定，从而导致led灯具的亮度下降，寿命缩短，严重影响了led灯具的性能。

2、相关技术中，在对led电源驱动进行故障测试的过程中未从电源驱动温度、输出电压、输出电流等多个角度进行测试，存在很大的局限性，存在待改进之处。

技术实现思路

1、本发明针对现有技术的不足，本技术提供一种电源驱动故障测试系统及方法。

2、第一方面，本技术提供一种电源驱动故障测试方法，包括以下步骤：

3、获取各led灯具的发光效率信息，所述发光效率信息包括初始发光效率、实际发光效率和损耗发光效率，进而基于各led灯具的发光效率信息确认led发光异常数据集；

4、确认所述led发光异常数据集内led电路的基本信息，所述led电路的基本信息包括电子元件、电路驱动电源及电路连接关系；

5、根据led电路的基本信息确认闭合回路集，基于所述闭合回路集确认各闭合回路对应的预设数据集，所述预设数据集包括预设电压波形区、预设电流波形区和预设温度折线区，并基于所述闭合回路集确认led电路对应的多个测试节点；

6、获取处于工作状态下所述多个测试节点对应的多个目标数据集，其中，所述目标数据集包括目标电压波形图、目标电流波形图和目标温度折线图，所述目标数据集与所述测试节点一一对应；

7、根据led电路多个测试节点确认所述多个测试节点在所述闭合回路集对应的多个闭合回路，将所述多个测试节点对应多个闭合回路的预设数据集设置为参考数据集，所述参考数据集包括参考电压波形区、参考电流波形区和参考温度折线区，并将所述led电路测试节点对应的目标数据集与测试节点对应闭合回路的参考数据集进行比对，获取异常闭合回路反馈信息；

8、将所述异常闭合回路反馈信息输出至所述电路驱动电源的控制终端，所述电路驱动电源的控制终端接收所述异常闭合回路反馈信息并生成闭合电路保护参数，进而所述电路驱动电源的控制终端基于所述闭合电路保护参数对电路进行控制。

9、优选的，所述获取各led灯具的发光效率信息，具体包括：

10、获取各led灯具的基本信息，所述基本信息包括生产日期、使用日期、使用日志、led灯具类型及led灯具类型对应的实际光通量，识别各led灯具对应的灯具类型，并将各led灯具对应的灯具类型与云数据库中存储的参考灯具类型进行对比，进而提取出各led灯具对应的初始发光效率βi-初始，其中，i表示为各led灯具对应的编号，i＝1,2,3......j，βi-初始表示为编号为i的led灯具对应的初始发光效率；

11、基于所述各led灯具对应的生产日期、使用日期和使用日志确认出各led灯具的未使用时长及使用时长；

12、将各led灯具对应的未使用时长与云数据库中存储的单位自然发光效率损失系数对应的时长区间进行对比，进而确认出各led灯具对应的单位自然发光效率损失系数；

13、将各led灯具对应的使用时长与云数据库中存储的单位使用发光效率损失系数对应的时长区间进行对比，进而确认出各led灯具对应的单位使用发光效率损失系数；

14、通过计算公式计算得出各led灯具对应的损耗发光效率βi-损耗，其中，βi-损耗表示为编号为i的led灯具对应的损耗发光效率，ti-未、ti-使分别表示为编号为i的led灯具对应的未使用时长、使用时长，分别表示为编号为i的led灯具对应的单位自然发光效率损失系数、单位使用发光效率损失系数，表示为编号为i的led灯具对应损耗发光效率的修正因子；

15、基于在各led灯具内布设的监测装置提取出各led灯具对应的实际电功率值，并通过计算公式计算得出各led灯具对应的实际发光效率βi-实际，其中，βi-实际表示为编号为i的led灯具对应的实际发光效率，hi、pi分别表示为编号为i的led灯具对应的实际光通量、实际电功率值，ωi′表示为编号为i的led灯具对应实际发光效率的修正因子。

16、优选的，所述基于各led灯具的发光效率信息确认led发光异常数据集，具体包括：

17、通过公式确认出各led灯具对应的发光效率比值，若存在led灯具对应的发光效率比值未处于预设发光效率比值区间内时，则将所述led灯具存储至led发光异常数据集。

18、优选的，所述将led电路测试节点对应的目标数据集与测试节点对应闭合回路的参考数据集进行比对，具体包括：

19、通过在多个测试节点处布设的示波监测装置获取多个测试节点在测试时长内对应的目标电压波形图或目标电流波形图；

20、将多个测试节点对应的目标电压波形图或目标电流波形图与多个测试节点对应闭合回路的参考电压波形区或参考电流波形区进行对比，其中，参考电压波形区或参考电流波形区还包括第一波动区和第二异常区，若存在测试节点对应的目标电压波形图或目标电流波形图处于参考电压波形区或参考电流波形区对应的第一波动区内时，则确认多个测试节点对应的波动信息，所述波动信息包括波动次数和各次波动对应的波动时长；

21、若存在测试节点的波动次数超出预设波动次数阈值或各次波动对应的波动时长之和与测试时长的比值超出预设时长比值时，则确认所述测试节点对应的闭合回路，将所述闭合回路设置为异常闭合回路，并输出异常闭合回路反馈信息；

22、若存在测试节点对应的目标电压波形图或目标电流波形图处于参考电压波形区或参考电流波形区对应的第二异常区内时，则将所述测试节点设置为异常测试节点，并确认所述异常测试节点对应的闭合回路，将所述闭合回路设置为异常闭合回路，并输出异常闭合回路反馈信息。

23、优选的，所述将led电路测试节点对应的目标数据集与测试节点对应闭合回路的参考数据集进行比对，具体还包括：

24、通过温度监测装置获取各测试节点在测试时长内对应的目标温度值，绘制成各测试节点对应的目标温度折线图；

25、所述参考温度折线区设置为处于工作状态下且位于测试时长时，基于各测试节点对应闭合回路中的最低适应温度值及最高适应温度值围成的区域；

26、将各测试节点对应的目标温度折线图与各测试节点对应闭合回路的参考温度折线区进行对比，进而提取出各测试节点对应的连续未符合时长，并基于测试时长确认出各测试节点对应的预设连续未符合时长阈值；

27、将各测试节点对应的连续未符合时长与各测试节对应的预设连续未符合时长阈值比对，若存在测试节点对应的连续未符合时长超出各测试节对应的预设连续未符合时长阈值，则将所述测试节点设置为异常测试节点，并确认所述异常测试节点对应的闭合回路，将所述闭合回路设置为异常闭合回路，并输出异常闭合回路反馈信息。

28、优选的，所述电路驱动电源的控制终端接收所述异常闭合回路反馈信息并生成闭合电路保护参数，进而所述电路驱动电源的控制终端基于所述闭合电路保护参数对电路进行控制，具体包括：

29、对所述各异常闭合回路进行识别判断，进而确认各异常闭合回路间的连接关系，所述连接关系包括串联连接和并联连接；

30、根据各异常闭合回路间的连接关系对所述各异常闭合回路进行分类划分为不同的异常闭合回路类型，所述异常闭合回路类型包括串联异常闭合回路和并联异常闭合回路；

31、若所述异常闭合回路类型为串联异常闭合回路时，则优先判断串联异常闭合回路内电子元件信息，所述电子元件信息包括电子元件类型及电子元件数量，若所述电子元件数量为1时，则基于所述电子元件类型生成调节指令，进而基于所述调节指令控制电路驱动电源对所述串联异常闭合回路进行供电调节；

32、若所述电子元件数量大于1时，则确认串联异常闭合回路对应的多个子测试节点，所述子测试节点与电子元件一一对应，并对各电子元件进行测试，进而确认出异常电子元件，并对所述异常电子元件进行调节。

33、优选的，所述并联异常闭合回路，还包括：

34、若所述异常闭合回路类型为并联异常闭合回路时，则判断并联异常闭合回路内电子元件信息，并基于电子元件信息生成供电调节参数，进而基于所述供电调节参数控制电路驱动电源对所述并联异常闭合回路进行供电调节。

35、第二方面，本技术提供一种电源驱动故障测试系统，包括：

36、led灯具发光异常识别模块，用于获取各led灯具的发光效率信息，所述发光效率信息包括初始发光效率、实际发光效率和损耗发光效率，进而基于各led灯具的发光效率信息确认led发光异常数据集；

37、led电路基本信息确认模块，用于确认所述led发光异常数据集内led电路的基本信息，所述led电路的基本信息包括电子元件、电路驱动电源及电路连接关系；

38、测试节点确认模块，用于根据led电路的基本信息确认闭合回路集，基于所述闭合回路集确认各闭合回路对应的预设数据集，所述预设数据集包括预设电压波形区、预设电流波形区和预设温度折线区，并基于所述闭合回路集确认led电路对应的多个测试节点；

39、目标数据集获取模块，用于获取处于工作状态下所述多个测试节点对应的多个目标数据集，其中，所述目标数据集包括目标电压波形图、目标电流波形图和目标温度折线图，所述目标数据集与所述测试节点一一对应；

40、异常闭合回路分析模块，用于根据led电路多个测试节点确认所述多个测试节点在所述闭合回路集对应的多个闭合回路，将所述多个测试节点对应多个闭合回路的预设数据集设置为参考数据集，所述参考数据集包括参考电压波形区、参考电流波形区和参考温度折线区，并将所述led电路测试节点对应的目标数据集与测试节点对应闭合回路的参考数据集进行比对，获取异常闭合回路反馈信息；

41、电路驱动电源控制调节模块，用于将所述异常闭合回路反馈信息输出至所述电路驱动电源的控制终端，所述电路驱动电源的控制终端接收所述异常闭合回路反馈信息并生成闭合电路保护参数，进而所述电路驱动电源的控制终端基于所述闭合电路保护参数对电路进行控制。

42、第三方面，本技术提供一种计算机可读存储介质，储存有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行上述任意一项所述的一种电源驱动故障测试方法。

43、综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：

44、1.本发明提供了一种电源驱动故障测试方法，通过led灯具的发光效率信息确认出led发光异常数据集，进而确认led发光异常数据集内led电路的基本信息，并确认led电路对应的多个测试节点，通过对多个测试节点的目标电压波形图、目标电流波形图和目标温度折线图进行多角度的比较分析，进而分析出异常闭合回路反馈信息，从而电路驱动电源的控制终端生成闭合电路保护参数，进而电路驱动电源的控制终端基于闭合电路保护参数对电路进行控制，从而有效的提高了电源驱动故障测试的准确性；

45、2.通过对参考电压波形区或参考电流波形区设置第一波动区和第二异常区，进一步确认多个测试节点对应目标电压波形图或目标电流波形图的波动信息及异常测试节点，进一步提高了数据来源的准确性，从而有效的有效的提高了电源驱动故障测试的准确性；

46、3.通过对串联异常闭合回路设置多个子测试节点，进而对各电子元件进行测试，筛选出异常电子元件，从而有效的提高led电路的安全性及稳定性。