固态电解质晶体结构测试装置及测试方法与流程

本发明涉及晶体结构测试，尤其涉及一种固态电解质晶体结构测试装置及测试方法。

背景技术：

1、在全固态电池循环过程中，电池可能会失效，失效状态下会对正负极材料及固态电解质做具体的分析，包括电池材料的晶体结构的测试。

2、xrd（x射线衍射）测试是一种用于表征固态电解质材料结构的重要技术。通过xrd测试，可以获得固态电解质的晶体结构、晶格参数以及相组成等信息，这些信息对于理解和优化固态电解质的性能至关重要。然而，硫化物固态电解质对空气敏感，在空气中很容易反应而变质，现有的晶体结构测试装置在进行测试时，硫化物固态电解质易与空气发生接触，导致测试精度较低。

技术实现思路

1、本发明提供一种固态电解质晶体结构测试装置及测试方法，用以解决现有晶体结构测试装置测试精度较低的缺陷，显著提升了测试精度。

2、本发明一方面提供一种固态电解质晶体结构测试装置，包括第一载样板、载料装置、第二载样板和盖样板。

3、所述第一载样板上设有用于x射线穿过的第一开口；所述载料装置内形成有用于盛放待测电解质物料的储料空间，所述载料装置的底面形成有用于x射线穿过的透射层，所述透射层设于所述第一开口，所述载料装置的顶端设有透射口；所述第二载样板上设有与所述透射口对应的第二开口，所述第二载样板与所述第一载样板密封配合；所述盖样板对应所述透射口的位置设有背底，所述盖样板与所述第二载样板密封配合。

4、根据本发明提供的固态电解质晶体结构测试装置，所述第一载样板面向所述第二载样板的一侧设有第一沉槽，所述第一沉槽位于所述第一开口的外围，所述第二载样板面向所述第一载样板的一侧设有第二沉槽，所述第二沉槽位于所述第二开口的外围；所述第一沉槽和所述第二沉槽相对设置，所述载料装置设于所述第一沉槽和所述第二沉槽之间，所述载料装置的外侧壁与所述第一沉槽和所述第二沉槽的内侧壁之间形成第一密封槽，所述第一密封槽内设有第一密封圈。

5、根据本发明提供的固态电解质晶体结构测试装置，所述第一沉槽与所述第二沉槽的深度之和等于所述载料装置的高度。

6、根据本发明提供的固态电解质晶体结构测试装置，所述第二载样板面向所述盖样板的一侧设有第一环槽，所述第一环槽位于所述第二开口的外围，所述盖样板面向所述第二载样板的一侧设有第二环槽，所述第一环槽和所述第二环槽相对设置并形成第二密封槽，所述第二密封槽内设有第二密封圈。

7、根据本发明提供的固态电解质晶体结构测试装置，所述背底为硅材料层。

8、根据本发明提供的固态电解质晶体结构测试装置，所述载料装置的材质为铍。

9、根据本发明提供的固态电解质晶体结构测试装置，所述第一载样板、所述第二载样板和所述盖样板的材质均为铝合金。

10、根据本发明提供的固态电解质晶体结构测试装置，所述载料装置与所述第一载样板一体设置。

11、根据本发明提供的固态电解质晶体结构测试装置，还包括多个紧固螺栓和多个紧固螺母，多个所述紧固螺栓穿设于所述第一载样板、所述第二载样板和所述盖样板的设定位置并与所述紧固螺母螺纹连接。

12、本发明另一方面提供一种基于如上任一项所述的固态电解质晶体结构测试装置的固态电解质晶体结构测试方法，包括如下步骤。

13、将待测电解质材料置于所述储料空间。

14、将设有待测电解质材料的固态电解质晶体结构测试装置放入xrd仪器的样品槽内，使所述第一开口对齐xrd仪器的x射线出射口。

15、本发明提供的固态电解质晶体结构测试装置，通过设置第一载样板、载料装置、第二载样板和盖样板，测试时，将待测电解质材料置入储料空间内，由于第二载样板与第一载样板密封配合，盖样板与第二载样板密封配合，位于储料空间内的待测电解质材料不会与外界空气接触，保证了其测试过程中的稳定性，且盖样板对应透射口的位置设有背底，能够使得测试结果将不会出现背底的衍射峰，从而显著提升了测试结果的准确性。本发明提供的固态电解质晶体结构测试装置及测试方法，解决了现有晶体结构测试装置测试精度较低的缺陷，显著提升了测试精度。

16、本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

技术特征：

1.一种固态电解质晶体结构测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的固态电解质晶体结构测试装置，其特征在于，所述第一载样板面向所述第二载样板的一侧设有第一沉槽，所述第一沉槽位于所述第一开口的外围，所述第二载样板面向所述第一载样板的一侧设有第二沉槽，所述第二沉槽位于所述第二开口的外围；

3.根据权利要求2所述的固态电解质晶体结构测试装置，其特征在于，所述第一沉槽与所述第二沉槽的深度之和等于所述载料装置的高度。

4.根据权利要求1所述的固态电解质晶体结构测试装置，其特征在于，所述第二载样板面向所述盖样板的一侧设有第一环槽，所述第一环槽位于所述第二开口的外围，所述盖样板面向所述第二载样板的一侧设有第二环槽，所述第一环槽和所述第二环槽相对设置并形成第二密封槽，所述第二密封槽内设有第二密封圈。

5.根据权利要求1至4任一项所述的固态电解质晶体结构测试装置，其特征在于，所述背底为硅材料层。

6.根据权利要求1至4任一项所述的固态电解质晶体结构测试装置，其特征在于，所述载料装置的材质为铍。

7.根据权利要求1至4任一项所述的固态电解质晶体结构测试装置，其特征在于，所述第一载样板、所述第二载样板和所述盖样板的材质均为铝合金。

8.根据权利要求1至4任一项所述的固态电解质晶体结构测试装置，其特征在于，所述载料装置与所述第一载样板一体设置。

9.根据权利要求1至4任一项所述的固态电解质晶体结构测试装置，其特征在于，还包括多个紧固螺栓和多个紧固螺母，多个所述紧固螺栓穿设于所述第一载样板、所述第二载样板和所述盖样板的设定位置并与所述紧固螺母螺纹连接。

10.一种基于如权利要求1至8任一项所述的固态电解质晶体结构测试装置的固态电解质晶体结构测试方法，其特征在于，包括：

技术总结本发明涉及晶体结构测试技术领域，尤其涉及一种固态电解质晶体结构测试装置及测试方法。固态电解质晶体结构测试装置，包括第一载样板、载料装置、第二载样板和盖样板。所述第一载样板上设有用于X射线穿过的第一开口；所述载料装置内形成有用于盛放待测电解质物料的储料空间，所述载料装置的底面形成有用于X射线穿过的透射层，所述透射层设于所述第一开口，所述载料装置的顶端设有透射口；所述第二载样板上设有与所述透射口对应的第二开口，所述第二载样板与所述第一载样板密封配合；所述盖样板对应所述透射口的位置设有背底，所述盖样板与所述第二载样板密封配合。本发明解决了现有晶体结构测试装置测试精度较低的缺陷，显著提升了测试精度。技术研发人员：李晓兵,沈雪玲,赵倩,袁敏娟,方彦彦,刘美,王泽,肖佳旭受保护的技术使用者：国联汽车动力电池研究院有限责任公司技术研发日：技术公布日：2024/11/14