一种自动识别器件的方法与系统与流程

本发明涉及电子设计自动化领域，特别是涉及一种自动识别器件的方法与系统。

背景技术：

1、集成电路工艺规则验证简称drc（design rule check），是集成电路设计物理验证的一部分，当需要采用一个制造企业工艺进行电路版图设计的时候，除了需要一份完整的制造企业的工艺设计规则以外，还需要通过一份专业的技术文件进行自动化的工艺规则验证，因此drc就极为关键。

2、工艺规则分为通用规则和器件工艺规则，每一条工艺设计规则都需要设计对应的验证图形。在进行自动化的工艺规则验证时，工艺规则会被用来验证每一个验证图形，如果工艺规则无法正确识别所对应的图形就会产生误报的现象，设计人员需要根据工艺规则重新确认验证图形的正确性。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种自动识别器件的方法与系统，降低drc验证误报的发生，提高开发效率，缩短开发时间。

2、本发明提供一种自动识别器件的方法，所述方法包括：

3、将器件分为n层，每一层内包括多个器件组；

4、选定第n层内的任一器件组为待识别器件组，设定第一至第n层级内包含所述待识别器件组的所有器件组为目标器件组；设定与任一所述目标器件组类属相同父集器件组的其余所有器件组为所述目标器件组的对比器件组；

5、获取n个第一集合的并集，作为第二集合；其中，所述第一集合内的元素包括任意层内目标器件组内的共用图层；

6、对所述第二集合内的共用图层按照预设顺序进行排序后获得第三集合；

7、对所述第三集合内的所有共用图层依次作interact运算，得到组合表达式；

8、获取n个第四集合的并集，作为第五集合；其中，所述第四集合中的元素包括在任意层内，所述对比器件组的共用图层中排除所述对比器件组对应的目标器件组内所有图层后的其余共用图层；

9、将所述组合表达式与所述第五集合中的共用图层依次进行not interact运算后，得到逻辑运算表达式；

10、将所述待检验图层与所述逻辑运算表达式进行and逻辑运算，根据运算结果判断所述待检验图层能否作为所述待识别器件组的识别图层，其中，所述n为大于等于1的整数。

11、进一步的，所述方法还包括：

12、获取任意层器件组内对比器件组中的共用图层，得到第六集合；

13、获取n个第六集合；

14、列举n个第六集合内的共用图层后，形成第七集合。

15、进一步的，获取所述第三集合的方法还包括：

16、根据所述第三集合内的共用图层在所述第七集合内的出现频率，对所述第二集合内的所有共用图层进行排序后得到第三集合。

17、进一步的，将所述第二集合内的所有共用图层按照在所有所述对比器件组内共用图层中的出现频率从低到高进行排序后，得到所述第三集合。

18、进一步的，若所述第二集合内有两个或两个以上的共用图层在第七集合内出现的频率相同，则在所述第三集合内，父集目标器件组对应的共用图层排在子集目标器件组对应的共用图层的前面。

19、进一步的，在获取目标器件组和对比器件组的共用图层的过程中，若判断所述目标器件组或所述对比器件组中不存在组内所有器件均使用的共用图层，则获取目标器件组或所述对比器件组中部分器件的共用图层和其余器件的共用图层。

20、进一步的，若所述目标器件组或所述对比器件组中存在多个所述共用图层，则所述共用图层之间通过逻辑或运算组合在一起。

21、进一步的，获取所述第四集合的方法包括：

22、获得所述目标器件组内的所有图层，记为第八集合；

23、获得任意层器件组内所述第八集合和所述第六集合的交集，记为第九集合；

24、所述第六集合减去所述第九集合后，得到所述第四集合。

25、进一步的，若所述待检验图层与所述逻辑运算表达式进行and逻辑运算后的输出结果为所述待检验图层与所述第三集合内第一个共用图层的交集，则所述待检验图层能够作为识别目标器件组的识别图层。

26、本发明还公开了一种自动识别器件的系统，所述系统包括：

27、器件分级模块，用于将器件分为n层，每一层内包括多个器件组；

28、设定模块，选定第n层内的任一器件组为待识别器件组后，所述设定模块用于设定第一至第n层级内包含所述待识别器件组的所有器件组为目标器件组；设定与任一目标器件组类属相同父集器件组的其余所有器件组为所述目标器件组的对比器件组；

29、第一获取模块，用于获取n个第一集合的并集，作为第二集合；其中，所述第一集合内的元素包括任意层内目标器件组内的共用图层；

30、第一排列模块，用于对所述第二集合内的共用图层按照预设顺序进行排序后获得第三集合；

31、第一逻辑运算模块，用于对所述第三集合内的所有共用图层依次作interact运算，得到组合表达式；

32、第二获取模块，用于获取n个第四集合的并集，作为第五集合；其中，所述第四集合中的元素包括在任意层内，所述对比器件组的共用图层中排除所述对比器件组对应的目标器件组内所有图层后的其余共用图层；

33、第二逻辑运算模块，用于将所述组合表达式与集合中的共用图层依次进行notinteract运算后，得到逻辑运算表达式；

34、第三判断模块，用于将待检验图层与所述逻辑运算表达式进行and逻辑运算；

35、判断模块，根据运算结果判断所述待检验图层能否作为所述待识别器件组的识别图层。

36、相比于现有技术，本发明至少具有以下技术效果：

37、将器件进行层层分级后，用户选择待识别器件组，系统即可自动分析目标器件组和对比器件组的共用图层，并结合逻辑运算，生成用于识别图层的逻辑表达式。之后，用户只需设定待检验图层，将待检验图层与该逻辑运算表达式进行运算，即可自动判断该图层是否可用于识别待识别器件组，通过上述操作，有效降低了用户在drc验证过程中选择错误的识别图层的风险，从而减少了集成电路设计物理验证中drc误报的发生，提高了开发效率，缩短了器件的开发时间。

技术特征：

1.一种自动识别器件的方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的自动识别器件的方法，其特征在于，所述方法还包括：

3.如权利要求2所述的自动识别器件的方法，其特征在于，获取所述第三集合的方法还包括：

4.如权利要求3所述的自动识别器件的方法，其特征在于，将所述第二集合内的所有共用图层按照在所有所述对比器件组内共用图层中的出现频率从低到高进行排序后，得到所述第三集合。

5.如权利要求3所述的自动识别器件的方法，其特征在于，若所述第二集合内有两个或两个以上的共用图层在第七集合内出现的频率相同，则在所述第三集合内，父集目标器件组对应的共用图层排在子集目标器件组对应的共用图层的前面。

6.如权利要求2所述的自动识别器件的方法，其特征在于，

7.如权利要求6所述的自动识别器件的方法，其特征在于，若所述目标器件组或所述对比器件组中存在多个所述共用图层，则所述共用图层之间通过逻辑或运算组合在一起。

8.如权利要求2所述的自动识别器件的方法，其特征在于，获取所述第四集合的方法包括：

9.如权利要求1所述的自动识别器件的方法，其特征在于，若所述待检验图层与所述逻辑运算表达式进行and逻辑运算后的输出结果为所述待检验图层与所述第三集合内第一个共用图层的交集，则所述待检验图层能够作为识别目标器件组的识别图层。

10.一种自动识别器件的系统，其特征在于，所述系统包括：

技术总结本发明提供一种自动识别器件的方法与系统，用户根据实际需要对器件按照功能、种类或功能等分类方式进行层层分级，并选择待识别器件组后，系统即可自动分析目标器件组和对比器件组的共用图层，并结合逻辑运算，生成用于该器件图层的逻辑表达式。之后，用户只需设定待检验图层，将待检验图层与该逻辑运算表达式进行运算，即可自动判断该图层是否可用于识别待识别器件组，通过上述操作，有效降低了用户在DRC验证过程中选择错误的识别图层的风险，从而减少了集成电路设计物理验证中DRC误报的发生，提高了开发效率，缩短了器件的开发时间。技术研发人员：黄志群,黄志心受保护的技术使用者：宁波联方电子科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/11/21