干扰来波方向测试装置及方法与流程

本说明书实施例涉及测试，尤其涉及一种干扰来波方向测试装置及方法。

背景技术：

1、随着通信技术的快速发展，天线系统被应用至各种电子产品中。在同一时段内，当多个天线系统同时工作时，不同电子产品的天线系统之间可能会产生干扰，进而影响电子产品的使用。

2、目前，通常会采用增强天线系统的接收和发射性能，或者采用屏蔽措施，以降低干扰。然而，在实际使用过程中，不同方向上的干扰可能不同，且部分方向可能不存在干扰。在此背景下，如何提供技术方案，以确定干扰来波方向，成为了本领域技术人员亟需解决的技术问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本说明书实施例提供了一种干扰来波方向测试装置及方法，能够确定干扰来波方向。

2、本说明书实施例提供一种干扰来波方向测试装置，适于确定待测样品的干扰来波方向，所述干扰来波方向测试装置包括：

3、至少一个测试天线，沿所述待测样品的周向设置，用于模拟所述待测样品来自于不同方向上的射频信号发射过程；

4、测试设备，与至少一个所述测试天线电连接，被配置为通过至少一个所述测试天线，向所述待测样品发射所述射频信号，其中，所述射频信号为所述测试设备预先获取的所述待测样品处于至少一种工作场景时，来自于多个不同方向的射频信号；

5、处理设备，与所述待测样品电连接，被配置为根据所述待测样品在所述射频信号的工作状态，确定所述待测样品的干扰来波方向。

6、可选地，至少一个测试天线为多个所述测试天线，所述测试设备具有多个测试通道，且一个所述测试通道对应一个所述测试天线，以通过一个所述测试天线向所述待测样品发射自于一个方向上的所述射频信号。

7、可选地，多个所述测试天线沿所述待测样品的周向均匀分布，且所述测试天线的数量与所述测试天线的波束宽的乘积为360°。

8、可选地，至少一个测试天线为一个测试天线，所述测试设备具有多个测试通道，且在不同测试进程中，所述测试天线电连接不同的测试通道，且与所述待测样品具有不同的相对位置。

9、可选地，所述干扰来波方向测试装置还包括：多个信号放大器，设置于各个所述测试通道上，且一个测试通道对应一个信号放大器，用于放大测试通道输出至测试天线的所述射频信号。

10、可选地，所述处理设备被配置为将所述待测样品处于异常状态时，所述测试天线所在的方向作为所述干扰来波方向。

11、可选地，所述干扰来波方向测试装置还包括：用于容置至少一个所述测试天线和所述待测样品的测试室。

12、本说明书实施例还提供一种干扰来波方向测试方法，适用于前述任一示例所述的干扰来波方向测试装置，用于确定待测样品的干扰来波方向，所述干扰来波方向测试方法包括：

13、在所述待测样品的周向设置至少一个测试天线，至少一个所述测试天线用于模拟所述待测样品来自于不同方向上的射频信号发射过程；

14、通过至少一个所述测试天线，向所述待测样品发射所述射频信号，其中，所述射频信号为所述测试设备预先获取的所述待测样品处于至少一种工作场景时，来自于多个不同方向的射频信号；

15、根据所述待测样品在所述射频信号的工作状态，确定所述待测样品的干扰来波方向。

16、可选地，至少一个测试天线为多个所述测试天线，所述测试设备具有多个测试通道，且一个所述测试通道对应一个所述测试天线；

17、所述通过至少一个所述测试天线，向所述待测样品发射所述射频信号，包括：

18、在所述待测样品处于正常工作状态下，选通其中一个所述测试天线与一个所述测试通道之间的连接通路，以通过一个所述测试天线向所述待测样品发射自于一个方向上的所述射频信号，直至通过所述测试天线发送完所有方向上的射频信号；

19、或者

20、至少一个测试天线为一个测试天线，测试设备具有多个测试通道；

21、所述通过至少一个所述测试天线，向所述待测样品发射所述射频信号，包括：

22、在不同的测试进程中，改变与所述测试天线电连接的所述测试通道，以及所述测试天线与所述待测样品之间的相对位置，以通过一个所述测试天线向所述待测样品发送来自于其中一个方向的射频信号，通过一个所述测试天线发送完所有方向上的射频信号。

23、可选地，所述通过至少一个所述测试天线，向所述待测样品发射所述射频信号之前，所述干扰来波方向测试方法还包括：

24、将所述待测样品和至少一个所述测试天线放置于测试室内。

25、采用本说明书实施例提供的干扰来波方向测试装置，测试天线可以沿待测样品的周向设置，即测试天线可以位于待测样品的不同方向上，这样可以模拟待测样品来自于不同方向上的射频信号发射过程；进而通过至少一个测试天线，测试设备能够向待测样品发射射频信号，由于射频信号为测试设备预先获取的待测样品处于至少一种工作场景时，来自于多个不同方向的射频信号，因而处理设备可以根据所述待测样品在所述射频信号的工作状态，确定待测样品的干扰来波方向，这样可以有效针对干扰来波方向，调整待测样品的采样天线参数信息，提高待测样品的抗干扰性能。

技术特征：

1.一种干扰来波方向测试装置，适于确定待测样品的干扰来波方向，其特征在于，所述干扰来波方向测试装置包括：

2.根据权利要求1所述的干扰来波方向测试装置，其特征在于，至少一个测试天线为多个所述测试天线，所述测试设备具有多个测试通道，且一个所述测试通道对应一个所述测试天线，以通过一个所述测试天线向所述待测样品发射自于一个方向上的所述射频信号。

3.根据权利要求2所述的干扰来波方向测试装置，其特征在于，多个所述测试天线沿所述待测样品的周向均匀分布，且所述测试天线的数量与所述测试天线的波束宽的乘积为360°。

4.根据权利要求1所述的干扰来波方向测试装置，其特征在于，至少一个测试天线为一个测试天线，所述测试设备具有多个测试通道，且在不同测试进程中，所述测试天线电连接不同的测试通道，且与所述待测样品具有不同的相对位置。

5.根据权利要求2或4所述的干扰来波方向测试装置，其特征在于，还包括：多个信号放大器，设置于各个所述测试通道上，且一个测试通道对应一个信号放大器，用于放大测试通道输出至测试天线的所述射频信号。

6.根据权利要求1所述的干扰来波方向测试装置，其特征在于，所述处理设备被配置为将所述待测样品处于异常状态时，所述测试天线所在的方向作为所述干扰来波方向。

7.根据权利要求1所述的干扰来波方向测试装置，其特征在于，还包括：

8.一种干扰来波方向测试方法，其特征在于，适用于权利要求1至7任一项所述的干扰来波方向测试装置，用于确定待测样品的干扰来波方向，所述干扰来波方向测试方法包括：

9.根据权利要求8所述的干扰来波方向测试方法，其特征在于，至少一个测试天线为多个所述测试天线，所述测试设备具有多个测试通道，且一个所述测试通道对应一个所述测试天线；

10.根据权利要求8所述的干扰来波方向测试方法，其特征在于，所述通过至少一个所述测试天线，向所述待测样品发射所述射频信号之前，所述干扰来波方向测试方法还包括：

技术总结本说明书实施例提供一种干扰来波方向测试装置及方法，其中，干扰来波方向测试装置适于确定待测样品的干扰来波方向，测试装置包括：至少一个测试天线，沿所述待测样品的周向设置，用于模拟所述待测样品来自于不同方向上的射频信号发射过程；测试设备，与至少一个所述测试天线电连接，被配置为通过至少一个所述测试天线，向所述待测样品发射所述射频信号，其中，所述射频信号为所述测试设备预先获取的所述待测样品处于至少一种工作场景时，来自于多个不同方向的射频信号；处理设备，与所述待测样品电连接，被配置为根据所述待测样品在所述射频信号的工作状态，确定所述待测样品的干扰来波方向。采用上述技术方案，能够确定干扰来波方向。技术研发人员：杨红波,刘垒,陈俊飞,熊麟彪,廖斌受保护的技术使用者：扬芯科技（深圳）有限公司技术研发日：技术公布日：2024/12/2