一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托的制作方法

本技术涉及化工冶金，具体涉及一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托。

背景技术：

1、随着智能化技术的广泛运用，钢铁行业的分析领域也逐步走向智能化，目前主要采用自动化荧光分析仪来分析铁样及炉渣样。

2、例如现有中国专利申请cn215866016u公开了一种金属和非金属样品的全自动制备分析系统，该公开专利全自动制备分析系统既适于金属样品，也适于非金属样品；但由于现有的自动化荧光分析仪仪器配置的自动推进装置只能设定固定值，即只能保证同口径的样品推进到正确的中心位置，因而存在以下问题：

3、由于铁样与炉渣样样品直径不一致，故仪器分析铁样与渣样不能同时满足要求，造成部分样品不能完全覆盖样盒口径，影响荧光检测分析，而配置两台仪器分别对应分析铁样和渣样，其成本代价较高，企业投资大；

4、对于压制成型的渣样，在仪器的推进装置推进过程中无保护装置易造成样品损坏，从而影响分析节奏以及抽真空步骤，易造成设备故障，进而维护成本较高。

技术实现思路

1、本实用新型提供一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：

3、一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托，包括一体成型的保护托和定位托，所述定位托连接于保护托的底部，所述保护托与定位托同轴设置，且所述保护托顶部开设有用于放置炉渣样的渣样腔，所述定位托的底端贯穿开设有与渣样腔相通的铁样腔，所述铁样腔内用于放置铁渣样，且所述保护托的外直径值大于定位托的外直径值，所述保护托的高度值小于定位托的高度值，所述渣样腔的内直径值大于铁样腔的内直径值。

4、优选的，所述保护托的外直径值为48mm，所述保护托的高度值为4mm。

5、优选的，所述定位托的外直径值为34mm，所述定位托的高度值为10mm。

6、优选的，所述渣样腔与铁样腔同轴设置，且所述渣样腔的内直径值为45mm，所述铁样腔的内直径值为30mm。

7、优选的，所述渣样腔的顶端边设有第一倒角。

8、优选的，所述渣样腔与铁样腔的相通处设置有第二倒角。

9、优选的，所述保护托和定位托均为铝合金材料。

10、通过采用上述技术方案，本实用新型所取得的有益效果为：

11、本实用新型中，通过渣样可放置在渣样腔内或铁样放置在铁样腔内，使得仪器配置的推进装置自动推进试样托本体时，试样托本体带动渣样或铁样移动后，其试样托本体可移动至荧光仪样盒入口处的指定圆心位置，促使试样托本体可完全覆盖样盒口径，利于铁样及渣样在同一设定的仪器上进行荧光检测分析，满足仪器分析要求，无需配置多台仪器，减少企业一定的投资成本。

12、本实用新型中，通过一体成型的试样托本体设计，使得渣样或铁样的推进过程中，由于通过试样托本体的保护，使其渣样不易破碎，更好地满足分析要求，保证分析节奏，避免了设备出现故障的问题。

技术特征：

1.一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托，其特征在于，包括一体成型的保护托（1）和定位托（2），所述定位托（2）连接于保护托（1）的底部，所述保护托（1）与定位托（2）同轴设置，且所述保护托（1）顶部开设有用于放置炉渣样的渣样腔（3），所述定位托（2）的底端贯穿开设有与渣样腔（3）相通的铁样腔（4），所述铁样腔（4）内用于放置铁渣样，且所述保护托（1）的外直径值大于定位托（2）的外直径值，所述保护托（1）的高度值小于定位托（2）的高度值，所述渣样腔（3）的内直径值大于铁样腔（4）的内直径值。

2.根据权利要求1所述的一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托，其特征在于，所述保护托（1）的外直径值为48mm，所述保护托（1）的高度值为4mm。

3.根据权利要求1所述的一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托，其特征在于，所述定位托（2）的外直径值为34mm，所述定位托（2）的高度值为10mm。

4.根据权利要求1所述的一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托，其特征在于，所述渣样腔（3）与铁样腔（4）同轴设置，且所述渣样腔（3）的内直径值为45mm，所述铁样腔（4）的内直径值为30mm。

5.根据权利要求1所述的一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托，其特征在于，所述渣样腔（3）的顶端边设有第一倒角（5）。

6.根据权利要求1所述的一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托，其特征在于，所述渣样腔（3）与铁样腔（4）的相通处设置有第二倒角（6）。

7.根据权利要求1所述的一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托，其特征在于，所述保护托（1）和定位托（2）均为铝合金材料。

技术总结本技术涉及化工冶金技术领域，具体为一种用于智能x荧光仪分析渣、铁两用的专用试样托，包括一体成型的保护托和定位托，所述定位托连接于保护托的底部，所述保护托与定位托同轴设置，且保护托顶部开设有用于放置炉渣样的渣样腔，定位托的底端贯穿开设有与渣样腔相通的铁样腔。本技术通过渣样可放置在渣样腔内或铁样放置在铁样腔内，使得仪器配置的推进装置自动推进试样托本体时，试样托本体带动渣样或铁样移动后，其试样托本体可移动至荧光仪样盒入口处的指定圆心位置，促使试样托本体可完全覆盖样盒口径，利于铁样及渣样在同一设定的仪器上进行荧光检测分析，满足仪器分析要求，无需配置多台仪器，减少企业一定的投资成本。技术研发人员：黎克川,张军巧受保护的技术使用者：江苏沙钢钢铁有限公司技术研发日：20240412技术公布日：2024/12/23