一种针对测试机的综合测试系统的制作方法

本申请涉及设备测试，尤其是涉及一种针对测试机的综合测试系统。

背景技术：

1、随着信息技术的飞速发展与广泛应用，芯片作为电子设备的核心部件，其重要性不言而喻。随着各行业对数据处理能力、运行速度及能效比要求的不断提升，对芯片的需求不仅体现在数量上的激增，更在性能、稳定性、安全性及定制化等方面提出了前所未有的高标准。这一趋势驱动了芯片测试需求的迅猛增长，以确保每一枚芯片在出厂前都能达到严格的质量标准，满足复杂多变的应用场景需求。

2、面对庞大的测试需求，芯片测试设备作为保障芯片质量的关键工具，其重要性愈发凸显。为了满足日益严苛的测试要求，测试设备不仅需要具备高精度的测量能力、高效率的数据处理能力，还必须拥有更长的使用寿命和更加稳定可靠的性能。这就要求设备制造商在设计时充分考虑耐用性、易维护性及可扩展性，确保设备能在高强度、连续性的工作环境中稳定运行。

3、为了保障测试设备始终处于最佳工作状态，日常维护和校准工作成为了不可或缺的一环。这包括定期对设备进行清洁、检查各部件磨损情况、更换老化或损坏的零部件、调整设备参数以确保测量精度等。此外，随着技术的进步，还需不断引入新的测试方法和标准，以适应芯片测试技术的快速发展。通过科学规范的维护流程和严格的测试标准，可以有效延长设备的使用寿命，提升测试效率和准确性，为芯片质量的稳定提升提供有力支撑。因此，加强芯片测试设备的日常维护与校准工作，不仅是保障测试质量、提升生产效率的必要手段，更是推动整个芯片行业持续健康发展的关键所在。

4、目前针对测试设备的测试系统对设备输出信号的校准需要使用示波器，通常会对每个通道进行单独测试，记录下测试参数，如内阻大小、信号通道的上升下降时间、通道间的连接性等，并将这些参数采集整理，与测试指标比较，自动判断测试机每一个通道的性能参数是否合格。

5、然而，采用现有的测试系统需要花费大量的时间进行测试并收集整理数据，且需要根据收集整理的数据重新拟合并再次测试，加大了设备的维护成本，并且降低了测试效率。

技术实现思路

1、为了有助于解决现有的测试系统需要花费大量的时间进行测试并收集整理数据，且需要根据收集整理的数据重新拟合并再次测试，加大了设备的维护成本，并且降低了测试效率的问题，本申请提供一种针对测试机的综合测试系统，采用如下的技术方案：所述系统包括：控制单元、信号测试单元、电源测试单元和可靠性测试单元；

2、所述控制单元用于向所述信号测试单元、所述电源测试单元和所述可靠性测试单元发出控制指令；

3、所述信号测试单元连接于所述控制单元，用于接收所述控制指令并测试待测试设备输出的信号质量，所述待测试设备为用于测试芯片的待测试设备；

4、所述电源测试单元连接于所述控制单元，用于接收所述控制指令并测试待测试设备输出的电源信号，所述待测试设备为用于测试芯片的待测试设备；

5、所述可靠性测试单元连接于所述控制单元和所述信号测试单元，用于对所述待测试设备的可靠性进行测试。

6、在一个具体的可实施方案中，所述控制单元为mcu控制芯片。

7、在一个具体的可实施方案中，所述mcu控制芯片的型号为zynq7000。

8、在一个具体的可实施方案中，所述信号测试单元包括若干并联的继电器，继电器一端分别连接不同的信号测试通道，继电器的另一端连接至示波器；所述示波器的另一端连接至上位机；

9、其中，若干所述继电器分别控制对应的信号测试通道，所述信号测试通道为所述待测试设备的信号输出通道。

10、在一个具体的可实施方案中，所述信号测试通道包括256路信号测试通道。

11、在一个具体的可实施方案中，所述电源测试单元包括若干并联的继电器，继电器一端分别连接不同的电源输出通道，继电器的另一端连接至电源测试设备；所述电源测试设备的另一端连接至上位机；

12、其中，若干所述继电器分别控制对应的电源输出通道，所述电源输出通道为所述待测试设备的电源输出通道。

13、在一个具体的可实施方案中，所述电源测试设备包括并联连接的万用表和电子负载。

14、在一个具体的可实施方案中，所述电源输出通道包括16路电源输出通道。

15、在一个具体的可实施方案中，所述可靠性测试单元包括若干并联的继电器，继电器一端分别连接不同的信号测试通道，继电器的另一端连接至反向电源；所述反向电源的另一端连接至所述控制单元；

16、其中，若干所述继电器分别控制对应的信号测试通道，所述信号测试通道为所述待测试设备的信号输出通道。

17、在一个具体的可实施方案中，所述待测试设备通过金手指板卡连接至所述针对测试机的综合测试系统；

18、其中，所述金手指板卡包括256路信号接口。

19、综上所述，本申请具有以下有益技术效果：

20、整合了测试机的电源测试和信号测试方案，可以在同一系统中同时进行电源测试和信号测试，以提高测试效率。其次，将多路信号输出通道、电源输出通道通过继电器并联后连接到对应的测试设备上，通过mcu芯片的控制信号来控制继电器的通断，在对设备进行维护时，就不需要人工频繁修改仪器和设备的接线，在提升效率的同时，也可以尽可能避免人工出错，提高测试结果的精准性。此外，增加对测试设备的可靠性测试，在测试前先通过可靠性测试通常可以避免一些重复性的或是无意义的测试，从而可以提高测试效率。

技术特征：

1.一种针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述系统包括：控制单元、信号测试单元、电源测试单元和可靠性测试单元；

2.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述控制单元为mcu控制芯片。

3.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述mcu控制芯片的型号为zynq7000。

4.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述信号测试单元包括若干并联的继电器，继电器一端分别连接不同的信号测试通道，继电器的另一端连接至示波器；所述示波器的另一端连接至上位机；

5.根据权利要求4所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述信号测试通道包括256路信号测试通道。

6.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述电源测试单元包括若干并联的继电器，继电器一端分别连接不同的电源输出通道，继电器的另一端连接至电源测试设备；所述电源测试设备的另一端连接至上位机；

7.根据权利要求6所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述电源测试设备包括并联连接的万用表和电子负载。

8.根据权利要求6所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述电源输出通道包括16路电源输出通道。

9.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述可靠性测试单元包括若干并联的继电器，继电器一端分别连接不同的信号测试通道，继电器的另一端连接至反向电源；所述反向电源的另一端连接至所述控制单元；

10.根据权利要求1所述的针对测试机的综合测试系统，其特征在于：所述待测试设备通过金手指板卡连接至所述针对测试机的综合测试系统；

技术总结本申请涉及一种针对测试机的综合测试系统，应用在设备测试技术领域，包括控制单元、信号测试单元、电源测试单元和可靠性测试单元；控制单元用于向信号测试单元、电源测试单元和可靠性测试单元发出控制指令；信号测试单元连接于控制单元，用于接收控制指令并测试待测试设备输出的信号质量，待测试设备为用于测试芯片的待测试设备；电源测试单元连接于控制单元，用于接收控制指令并测试待测试设备输出的电源信号，待测试设备为用于测试芯片的待测试设备；可靠性测试单元连接于控制单元和信号测试单元，用于对待测试设备的可靠性进行测试。本申请具有的技术效果是：提高测试结果的精准性，提高测试效率。技术研发人员：李岩,谢斌,吴成磊,凌慢慢受保护的技术使用者：长三角集成电路工业应用技术创新中心技术研发日：技术公布日：2025/1/6