分选机测试手臂校正方法、装置、设备及存储介质与流程

本发明涉及一种分选机测试手臂校正，尤其涉及一种分选机测试手臂校正方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、为了满足生产需求，集成电路分选机(ic handler)通常需要长时间运行，测试手臂(index arm)多次往复地将吸取的芯片(ic)下压至与测试座(socket)接触以进行测试时，机械手臂的测试端难免会出现水平偏差，当水平偏差过大时会导致吸取的芯片与测试座接触不良的情况，从而影响测试良率，因此需要定期或出现接触不良导致测试良率低时，对测试手臂的水平度进行校正。

2、现有的校正方法是将校正块放在测试手臂的下方，然后释放分选机的测试手臂的马达，并通过手动控制测试手臂下压至校正块，利用塞规测量测试手臂的测试端与校正块之间的间隙，如果水平偏差过大，那么则需要控制测试手臂抬起并取出校正块，根据测量对测试手臂的机械结构的水平度进行调整，但上述校正方式存在如下缺点：

3、控制分选机释放测试手臂的马达时，需要使用指令，容易出现因使用指令输入错误而导致测试手臂损坏的风险，释放马达后需要手动控制测试手臂下压接触校正块，此过程无法确定测试手臂和校正块是过压接触还是欠压接触，那么则会导致使用塞规测量间隙不准的情况；

4、当判断需要对测试手臂的机械结构的水平度进行调整时，需要先控制测试手臂抬起并将校正块取出，然后才能进行调整，而操作人员手动调整时无任何参照，需要反复地进行测量和调整的操作才能调整至实际需求的水平度，严重影响生产的效率，并且校正数据还无法通过系统进行前后比对及存档，后续无需进行相关问题的追溯和排查。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种分选机测试手臂校正方法、装置、设备及存储介质，有利于简化测试手臂的校正步骤，同时减少每次校正测试手臂的时间，有效地提升测试手臂的校正精度和校正效率。

2、为了实现上述目的，本发明公开了一种分选机测试手臂校正方法，其包括：

3、读取测距传感器测得的多个距离数据，所述距离数据为所述测距传感器与测试手臂的多个测试点位之间的距离值；

4、根据数值筛选出所有的所述距离数据中的最大距离数据和最小距离数据，并计算所述最大距离数据和所述最小距离数据的平均值，以得到平均距离数据；

5、将所有的所述距离数据逐一与所述平均距离数据进行比较，以统计大于所述平均距离数据的距离数据的个数和小于所述平均距离数据的距离数据的个数，并分别定义为第一个数和第二个数；

6、将所述第一个数和所述第二个数进行比较，若所述第一个数大于或大于等于所述第二个数，那么以所述最大距离数据作为校正基准值，否则以所述最小距离数据作为校正基准值。

7、进一步地，所述“将所述第一个数和所述第二个数进行比较，若所述第一个数大于或大于等于所述第二个数，那么以所述最大距离数据作为校正基准值，否则以所述最小距离数据作为校正基准值”之后，还包括：

8、根据得到的所述校正基准值计算所有的所述距离数据的补偿值。

9、进一步地，所述“根据得到的所述校正基准值计算所有的所述距离数据的补偿值”之后，还包括：

10、逐一判断所有的所述距离数据的补偿值是否处于非补偿范围，若处于非补偿范围，则以第一方式提示当前判断的距离数据的补偿值，若不处于非补偿范围，则以第二方式提示当前判断的距离数据的补偿值。

11、进一步地,所述“读取测距传感器测得的多个距离数据”之后，包括：

12、将读取的多个所述距离数据保存至数据库；和/或

13、所述“根据得到的所述校正基准值计算所有的所述距离数据的补偿值”之后，包括：

14、判断是否接收到测试指令，若接收到所述测试指令，则控制所述测距传感器再次测量，并再次读取所述测距传感器再次测量后的多个距离数据；

15、将再次测得的多个所述距离数据保存至数据库。

16、进一步地，所述“读取测距传感器测得的多个距离数据”之后，还包括：

17、将读取得到的距离数据的个数与设定个数进行比较，若二者不相等，则输出提示信号。

18、进一步地，所述测试手臂包括靠近所述测距传感器的测试端，所述测试端的端面呈矩形，所述测试手臂设置有两个，每一所述测试端的端面的四个对角处分别设置有所述测试点位，所述测距传感器通过测距可得到八个距离数据。

19、进一步地，所述测试手臂包括靠近所述测距传感器的测试端，所述测试端的端面呈圆形，所述测试手臂设置有两个，每一所述测试端的端面分别沿上下两侧和左右两侧对称设置有所述测试点位，所述测距传感器通过测距可得到八个距离数据。

20、为了实现上述目的，本发明公开了一种分选机测试手臂校正装置，其包括：

21、读取模块，用于供读取测距传感器测得的多个距离数据；

22、筛选和计算模块，用于根据数值筛选出所有的所述距离数据中的最大距离数据和最小距离数据，并计算所述最大距离数据和所述最小距离数据的平均值，以得到平均距离数据；

23、第一比较模块，用于将所有的所述距离数据逐一与所述平均距离数据进行比较，以统计大于所述平均距离数据的距离数据的个数和小于所述平均距离数据的距离数据的个数，并分别定义为第一个数和第二个数；

24、第二比较模块，用于将所述第一个数和所述第二个数进行比较，若所述第一个数大于或大于等于所述第二个数，那么以所述最大距离数据作为校正基准值，否则以所述最小距离数据作为校正基准值。

25、为了实现上述目的，本发明公开了一种电子设备，其包括：

26、一个或多个处理器；

27、一个或多个存储器，用于存储一个或多个程序，当一个或多个所述程序被所述处理器执行，使得所述处理器实现如前述的分选机测试手臂校正方法。

28、为了实现上述目的，本发明公开了一种计算机可读存储介质，其上存储有程序，所述程序被处理器执行时实现如前述的分选机测试手臂校正方法。

29、在本申请中，通过对测距传感器测得的多个距离数据进行计算分析以得到校正基准值，先根据数值筛选出最大距离数据和最小距离数据，并计算二者的平均值得到平均距离数据，再通过比较得到大于平均距离数据的距离数据的个数和小于平均距离数据的距离数据的个数以得到第一个数和第二个数，再根据二者的比较结果来确定最佳的校正基准值，有利于简化测试手臂的校正步骤，同时减少每次校正测试手臂的时间，有效地提升测试手臂的校正精度和校正效率。

技术特征：

1.一种分选机测试手臂校正方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的分选机测试手臂校正方法，其特征在于，所述“将所述第一个数和所述第二个数进行比较，若所述第一个数大于或大于等于所述第二个数，那么以所述最大距离数据作为校正基准值，否则以所述最小距离数据作为校正基准值”之后，还包括：

3.根据权利要求2所述的分选机测试手臂校正方法，其特征在于，所述“根据得到的所述校正基准值计算所有的所述距离数据的补偿值”之后，还包括：

4.根据权利要求2所述的分选机测试手臂校正方法，其特征在于，所述“读取测距传感器测得的多个距离数据”之后，包括：

5.根据权利要求1所述的分选机测试手臂校正方法，其特征在于，所述“读取测距传感器测得的多个距离数据”之后，还包括：

6.根据权利要求1或5所述的分选机测试手臂校正方法，其特征在于，所述测试手臂包括靠近所述测距传感器的测试端，所述测试端的端面呈矩形，所述测试手臂设置有两个，每一所述测试端的端面的四个对角处分别设置有所述测试点位，所述测距传感器通过测距可得到八个距离数据。

7.根据权利要求1或5所述的分选机测试手臂校正方法，其特征在于，所述测试手臂包括靠近所述测距传感器的测试端，所述测试端的端面呈圆形，所述测试手臂设置有两个，每一所述测试端的端面分别沿上下两侧和左右两侧对称设置有所述测试点位，所述测距传感器通过测距可得到八个距离数据。

8.一种分选机测试手臂校正装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的分选机测试手臂校正方法。

技术总结本发明公开了一种分选机测试手臂校正方法、装置、设备及存储介质，其中分选机测试手臂校正方法包括：先根据数值筛选出最大距离数据和最小距离数据，并计算二者的平均值得到平均距离数据，再通过比较得到大于平均距离数据的距离数据的个数和小于平均距离数据的距离数据的个数以得到第一个数和第二个数，再根据二者的比较结果来确定最佳的校正基准值，本发明分选机测试手臂校正方法有利于简化测试手臂的校正步骤，同时减少每次校正测试手臂的时间，有效地提升测试手臂的校正精度和校正效率。技术研发人员：李双成,周茂,马海龙,方琪,孙孝辉,范传敏,李文波受保护的技术使用者：广东利扬芯片测试股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/2