多工位三角棱镜胶胶载台的制作方法

本技术涉及手机治具载台，特别涉及多工位三角棱镜胶胶载台。

背景技术：

1、随着手机市场应用越来越大，中高配以上手机均配置有三棱镜，实现自动调焦、大广角视野，该类产品的加工流程也较长，主要流程为：毛坯料精磨、双抛、清洗、分切长条、检验、胶胶、上盘、铣磨、抛光、翻盘、铣磨、抛光、下盘、倒棱、清洗和检验；胶胶是该制程工艺中最为关键的一步，胶胶质量的好坏直接严重影响其三角棱镜的理高、角度、面形等良率；决定其良率除了必要的检测设备外，好的治具、载台设计也至关重要，现有的棱镜载台支撑点位单一，无法同时放置多组棱镜，影响了制程的加工效率，同时治具中胶条的位置无法调节，影响了胶胶工装的平行度，降低了加工后的棱镜质量，因此设计多工位三角棱镜胶胶载台同时支撑多组棱镜，并提高胶胶膜具安装的平行度是很有必要的。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是提供多工位三角棱镜胶胶载台，用以解决现有的棱镜载台支撑点位单一，无法同时放置多组棱镜，影响了制程的加工效率，同时治具中胶条的位置无法调节，影响了胶胶工装的平行度，降低了加工后的棱镜质量。

2、为了解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：多工位三角棱镜胶胶载台，包括台板、定位条、定位面、斜台块、放置斜面、平齐面、长胶条、第一圆孔、第二圆孔和三角条，所述台板的顶部均匀设置有定位条，定位条的一侧开设有定位面，台板的顶部均匀设置有斜台块，斜台块的一侧为放置斜面，斜台块的顶部对称设置有长胶条，台板的底部一侧设置有三角条。

3、优选的，所述斜台块的一侧为平齐面，且平齐面与长胶条的端面平齐。

4、优选的，所述台板、定位条、斜台块和三角条均为玻璃材质，且台板的表面粗糙度ra≤0.012μm，台板顶面与底面之间的平行度误差≤1μm。

5、优选的，所述放置斜面与定位面之间的夹角为90°±1′。

6、优选的，所述定位面与放置斜面的表面粗糙度ra≤0.012μm。

7、优选的，所述长胶条的顶部一侧开设有第一圆孔。

8、优选的，所述长胶条的顶部另一侧开设有第二圆孔。

9、本实用新型提供的多工位三角棱镜胶胶载台，其优点在于：通过将胶胶治具放置在定位面与放置斜面之间的定位处上，进行预定位，定位面与放置斜面之间的夹角为90°±1′，且定位面与放置斜面的表面粗糙度ra≤0.012μm，保障了治具的稳定支撑，点上uv胶线后压入棱镜长条，通过微调长胶条在斜台块的位置来调节胶胶工装的平行度，保障了胶胶加工后的棱镜质量，同时通过均匀布置在台板上的定位条和斜台块，可以同时对多组棱镜进行支撑，提高了制程的加工效率。

技术特征：

1.多工位三角棱镜胶胶载台，包括台板(1)、定位条(2)、定位面(3)、斜台块(4)、放置斜面(5)、平齐面(6)、长胶条(7)、第一圆孔(8)、第二圆孔(9)和三角条(10)，其特征在于：所述台板(1)的顶部均匀设置有定位条(2)，定位条(2)的一侧开设有定位面(3)，台板(1)的顶部均匀设置有斜台块(4)，斜台块(4)的一侧为放置斜面(5)，斜台块(4)的顶部对称设置有长胶条(7)，台板(1)的底部一侧设置有三角条(10)。

2.根据权利要求1所述的多工位三角棱镜胶胶载台，其特征在于：所述斜台块(4)的一侧为平齐面(6)，且平齐面(6)与长胶条(7)的端面平齐。

3.根据权利要求1所述的多工位三角棱镜胶胶载台，其特征在于：所述台板(1)、定位条(2)、斜台块(4)和三角条(10)均为玻璃材质，且台板(1)的表面粗糙度ra≤0.012μm，台板(1)顶面与底面之间的平行度误差≤1μm。

4.根据权利要求1所述的多工位三角棱镜胶胶载台，其特征在于：所述放置斜面(5)与定位面(3)之间的夹角为90°±1′。

5.根据权利要求4所述的多工位三角棱镜胶胶载台，其特征在于：所述定位面(3)与放置斜面(5)的表面粗糙度ra≤0.012μm。

6.根据权利要求1所述的多工位三角棱镜胶胶载台，其特征在于：所述长胶条(7)的顶部一侧开设有第一圆孔(8)。

7.根据权利要求6所述的多工位三角棱镜胶胶载台，其特征在于：所述长胶条(7)的顶部另一侧开设有第二圆孔(9)。

技术总结本技术公开了多工位三角棱镜胶胶载台，包括定位条、定位面、斜台块和放置斜面，所述台板的顶部均匀设置有定位条，定位条的一侧开设有定位面，台板的顶部均匀设置有斜台块，斜台块的一侧为放置斜面，斜台块的顶部对称设置有长胶条，它通过将胶胶治具放置在定位面与放置斜面之间的定位处上进行预定位，其中定位面与放置斜面之间的夹角为90°±1′，且定位面与放置斜面的表面粗糙度Ra≤0.012μm，保障了治具的稳定支撑，点上UV胶线后压入棱镜长条，通过微调长胶条在斜台块的位置来调节胶胶工装的平行度，保障了胶胶加工后的棱镜质量，同时通过均匀布置在台板上的定位条和斜台块，可以同时对多组棱镜进行支撑，提高了制程的加工效率。技术研发人员：王峰受保护的技术使用者：武汉正源高理光学有限公司技术研发日：20231017技术公布日：2024/5/29