压接装置的制作方法

本申请涉及电子元件测试，特别是涉及一种压接装置。

背景技术：

1、在电子元器件、芯片、数码产品等领域中，产品封装之前需要对产品进行测试，以检测测试产品的功能是否正常。如对芯片进行测试时，需要利用压头模组将芯片压接于测试机上，以使芯片与测试机电性连接，进而对芯片进行通电与信号测试。

2、目前，在芯片的压接测试过程中，将芯片放置于测试平台，压头模组下压并施加压接力于芯片表面，对芯片进行压接测试。由于部分芯片的压接位置分布于芯片相对的两个侧面，在对此类芯片进行压接测试的过程中，需先对芯片的其中一面进行压接测试，待芯片的其中一面压接测试完成之后，再对芯片的另外一面进行压接测试，以完成对于芯片的双面压接测试，但是此种芯片的测试作业动作较为繁琐，严重影响芯片的压接测试效率。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对现有芯片的双面压接效率过低的问题，提供一种压接装置。

2、一种压接装置，用于待测产品的压接测试，所述待测产品具有第一测试部与至少一个第二测试部，所述压接装置包括：

3、测试组件，所述测试组件包括第一探针组与至少一个第二探针组，且具有承载待测产品的承载腔，当所述待测产品位于所述承载腔内时，所述第一探针组位于所述待测产品靠近所述第一测试部的一侧，所述第二探针组位于所述待测产品靠近所述第二测试部的一侧；

4、压头组件，所述压头组件包括缓冲压头及设置于所述缓冲压头的第三探针组，所述缓冲压头与所述测试组件间隔设置，且能够朝向靠近或远离所述承载腔的方向运动，当所述缓冲压头抵接于所述待测产品时，所述第一探针组与所述第三探针组分别电性配合于所述第一测试部相对的两侧，所述第二探针组电性配合于所述第二测试部。

5、在其中一个实施例中，所述测试组件还包括基座与至少一个测试模组，所述测试模组具有所述第一探针组与至少一个所述第二探针组，所述测试模组可拆卸地连接于所述基座，且相对所述基座能够运动，以调整所述第一探针组与所述第一测试部的配合位置，及所述第二探针组与所述第二测试部的配合位置。

6、在其中一个实施例中，所述测试组件还包括转接件，所述转接件与所述第三探针组通信连接，用于导出所述待测产品的测试信号。

7、在其中一个实施例中，所述转接件包括信号导入件与信号导出件，所述信号导入件设置于所述缓冲压头，所述信号导出件设置于所述测试模组，当所述缓冲压头抵接于所述待测产品时，所述信号导入件电性配合于所述信号导出件。

8、在其中一个实施例中，所述测试组件还包括承载板，所述承载板可拆卸地设置于所述基座，所述承载板具有所述承载腔，所述承载板开设有与所述承载腔连通的至少一个气孔，用于使所述待测产品悬浮于所述承载腔。

9、在其中一个实施例中，所述压接装置还包括摄像模组，所述摄像模组与所述测试组件间隔设置，用于获取所述测试模组的位置信息。

10、在其中一个实施例中，所述测试模组开设有视野窗口，所述视野窗口贯通所述测试模组，且形成所述视野窗口的侧壁凸出设置有基准凸起，所述摄像模组对应间隔设置于所述视野窗口；

11、当所述待测产品位于所述承载腔内时，所述待测产品的导电部容置于所述视野窗口，所述摄像模组用于获取所述基准凸起与所述待测产品的导电部的相对位置。

12、在其中一个实施例中，所述缓冲压头包括座体及设置于所述座体的吸附组件，所述座体与所述测试组件间隔设置，所述吸附组件能够朝向靠近或远离所述承载腔的方向运动，所述吸附组件用于吸附所述待测产品。

13、在其中一个实施例中，当所述待测产品位于所述承载腔内时，所述待测产品始终吸附于所述吸附组件；或，

14、当所述待测产品位于所述承载腔内时，所述待测产品与所述吸附组件分离。

15、在其中一个实施例中，所述缓冲压头还包括壳体、弹性垫与柔性压头，所述壳体具有供气体充入的空腔，所述弹性垫设置于所述壳体，且至少部分位于所述空腔内部，所述柔性压头活动设置于所述壳体；其中，

16、当所述空腔内的气体压力改变时，所述弹性垫发生形变且能够推动所述柔性压头朝向抵接所述吸附组件一侧的方向运动，以使所述吸附组件抵接于所述待测产品。

17、上述压接装置，将待测产品（如芯片模组等）放置于承载腔内，缓冲压头朝向靠近承载腔的方向运动并抵接于待测产品，此时，第一探针组与第三探针组分别配合于第一测试部相对的两侧，以对待测产品的第一测试部进行双面压接测试，第二探针组配合于第二测试部，以对待测产品的第二测试部进行单面压接测试，且通过测试组件可将第一测试部与第二测试部的测试信号导出。本申请提供的压接装置，当缓冲压头抵接于待测产品时，缓冲压头可对施加于待测产品的压接力进行缓冲，防止缓冲压头施加于待测产品的瞬时作用力过大而撞击损伤待测产品，且压接装置可同时对待测产品进行单面与双面压接测试，实现待测产品的多点压接测试，尤其在对待测产品进行双面压接测试的过程中，无需频繁调整待测产品的位置，提高待测产品的压接测试效率。

技术特征：

1.一种压接装置，用于待测产品的压接测试，所述待测产品具有第一测试部与至少一个第二测试部，其特征在于，所述压接装置包括：

2.根据权利要求1所述的压接装置，其特征在于，所述测试组件还包括基座与至少一个测试模组，所述测试模组具有所述第一探针组与至少一个所述第二探针组，所述测试模组可拆卸地连接于所述基座，且相对所述基座能够运动，以调整所述第一探针组与所述第一测试部的配合位置，及所述第二探针组与所述第二测试部的配合位置。

3.根据权利要求2所述的压接装置，其特征在于，所述测试组件还包括转接件，所述转接件与所述第三探针组通信连接，用于导出所述待测产品的测试信号。

4.根据权利要求3所述的压接装置，其特征在于，所述转接件包括信号导入件与信号导出件，所述信号导入件设置于所述缓冲压头，所述信号导出件设置于所述测试模组，当所述缓冲压头抵接于所述待测产品时，所述信号导入件电性配合于所述信号导出件。

5.根据权利要求2所述的压接装置，其特征在于，所述测试组件还包括承载板，所述承载板可拆卸地设置于所述基座，所述承载板具有所述承载腔，所述承载板开设有与所述承载腔连通的至少一个气孔，用于使所述待测产品悬浮于所述承载腔。

6.根据权利要求2所述的压接装置，其特征在于，所述压接装置还包括摄像模组，所述摄像模组与所述测试组件间隔设置，用于获取所述待测产品的位置信息。

7.根据权利要求6所述的压接装置，其特征在于，所述测试模组开设有视野窗口，所述视野窗口贯通所述测试模组，且形成所述视野窗口的侧壁凸出设置有基准凸起，所述摄像模组对应间隔设置于所述视野窗口；

8.根据权利要求1所述的压接装置，其特征在于，所述缓冲压头包括座体及设置于所述座体的吸附组件，所述座体与所述测试组件间隔设置，所述吸附组件能够朝向靠近或远离所述承载腔的方向运动，所述吸附组件用于吸附所述待测产品。

9.根据权利要求8所述的压接装置，其特征在于，当所述待测产品位于所述承载腔内时，所述待测产品始终吸附于所述吸附组件；或，

10.根据权利要求8所述的压接装置，其特征在于，所述缓冲压头还包括壳体、弹性垫与柔性压头，所述壳体具有供气体充入的空腔，所述弹性垫设置于所述壳体，且至少部分位于所述空腔内部，所述柔性压头活动设置于所述壳体；其中，

技术总结本申请涉及一种压接装置，压接装置包括测试组件与压头组件，其中，测试组件包括第一探针组与至少一个第二探针组，且具有承载待测产品的承载腔，当待测产品位于承载腔内时，第一探针组位于待测产品靠近第一测试部的一侧，第二探针组位于待测产品靠近第二测试部的一侧；压头组件包括缓冲压头与第三探针组，缓冲压头与测试组件间隔设置，且能够朝向靠近或远离承载腔的方向运动，当缓冲压头抵接于待测产品时，第一探针组与第三探针组分别电性配合于第一测试部相对的两侧，第二探针组电性配合于第二测试部。本申请提供的压接装置，可同时对待测产品进行单面与双面压接测试，实现待测产品的多点压接测试，且能够提高待测产品的压接测试效率。技术研发人员：袁文续受保护的技术使用者：苏州华兴源创科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/29