基于读取时间的闪存颗粒分级方法、系统、控制器及介质与流程

本发明涉及闪存颗粒分级，具体涉及一种基于读取时间的闪存颗粒分级方法、系统、控制器及介质。

背景技术：

1、在现有的闪存颗粒制造过程中，为保证出厂颗粒的质量以及性能稳定，通常会采用sorting分级方法对闪存颗粒进行分类，其中，sorting分级方法是将半导体产品按照性能参数或者其他特征进行分类的一种方法，由于ecc(error checking and correcting，错误检查和纠正)反映了产品的可靠性和稳定性，故现有sorting分级方法中，大多数还是以卡控ecc作为主要手段来进行分类；

2、然而，在实际操作过程中，如何准确获得ecc值并根据这个值进行合理的分级是一个比较复杂的问题，ecc的取值关系到分级结果的准确性，技术人员在考量进行分级的ecc值的合理性时是需要大量的实验以及实验数据支撑，假如样本数量过少，那么会导致分级结果不够精确，最终会导致芯片误宰误放的问题，最终直接影响到产品品质安全问题，而样本数量过多，对数据进行分析则需要大量的分析工作，导致现有的闪存颗粒分级结果精度不稳定，且样本需求量大、耗时长使其无法有效实施。

技术实现思路

1、本发明实施例提供一种基于读取时间的闪存颗粒分级方法、控制器及计算机存储介质，至少能保证，本发明方案基于读取时间对所述闪存颗粒的多个块和页进行标记，可以简单有效的对闪存颗粒进行分级，提高分级精度结果精度，无需对ecc进行卡控，以克服现有方案精度不稳定、样本需求量大和耗时长等问题。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种基于读取时间的闪存颗粒分级方法，所述方法包括：

3、获取闪存颗粒的码字解码时间，并根据所述码字解码时间确定页解码时间阈值；

4、根据第一写读场景读取所述闪存颗粒的多个块中的多个页，并获取多个页读取时间，以在所述页读取时间大于所述页解码时间阈值的情况下，将所述页读取时间对应的页标记为坏页；

5、将多个块中包括所述坏页的块标记为坏块；

6、根据所述坏块的数量将所述闪存颗粒确定为良品、次良品或不良品。

7、在一些实施例中，所述根据所述坏块的数量将所述闪存颗粒确定为良品、次良品或不良品，包括：

8、在所述坏块的数量为零的情况下，将所述闪存颗粒确定为良品；

9、在所述坏块的数量不为零的情况下，根据所述坏块的数量和所述闪存颗粒中块的总数量得到坏块所占比例，将所述坏块所占比例小于或者等于预设比例阈值的所述闪存颗粒确定为次良品，将所述坏块所占比例大于所述预设比例阈值的所述闪存颗粒确定为不良品。

10、在一些实施例中，所述第一写读场景为高温写高温读，所述根据所述坏块的数量将所述闪存颗粒确定为良品、次良品或不良品之后，所述方法还包括：

11、在所述闪存颗粒为良品或次良品的情况下，根据第二写读场景读取所述闪存颗粒的多个块中的多个页，并获取多个页读取时间，以在所述页读取时间大于所述页解码时间阈值的情况下，将所述页读取时间对应的页标记为坏页，其中，所述第二写读场景包括高温写低温读、低温写低温读和低温写高温读；

12、将多个块中包括所述坏页的块标记为坏块；

13、根据所述坏块的数量将良品或次良品对应的所述闪存颗粒确定为良品、次良品或不良品。

14、在一些实施例中，所述根据第一写读场景读取所述闪存颗粒的多个块中的多个页，并获取多个页读取时间，以在所述页读取时间大于所述页解码时间阈值的情况下，将所述页读取时间对应的页标记为坏页，包括：

15、在根据第一写读场景逐个读取所述闪存颗粒的多个块中的多个页，并获取读取当前目标块中当前目标页的页读取时间；

16、在所述当前目标页的页读取时间小于或者等于所述页解码时间阈值的情况下，对所述当前目标块中的下一目标页进行读取处理；

17、在所述当前目标页的页读取时间大于所述页解码时间阈值的情况下，将所述当前目标页标记为坏页，并跳过所述当前目标块中的下一目标页，对下一目标块中的多个页进行读取。

18、在一些实施例中，所述预设比例阈值为5％。

19、在一些实施例中，所述根据所述坏块的数量将所述闪存颗粒确定为良品、次良品或不良品之后，所述方法还包括：

20、存储第一写读场景分级数据，所述第一写读场景分级数据用于表征所述闪存颗粒是否为良品、次良品或不良品；

21、读取所述第一写读场景分级数据，判断所述闪存颗粒是否为良品或次良品。

22、在一些实施例中，所述闪存颗粒封装有一个或者多个芯片，一个所述芯片包括多个块，一个块包括多个页，一个页中包括八个码字，所述码字解码时间为一个码字的解码时间，所述页解码时间阈值小于所述码字解码时间的八倍。

23、第二方面，本发明实施例提供了一种基于读取时间的闪存颗粒分级系统，系统包括：

24、阈值确定模块，用于获取闪存颗粒的码字解码时间，并根据所述码字解码时间确定页解码时间阈值；

25、闪存读取模块，用于根据第一写读场景读取所述闪存颗粒的多个块中的多个页，并获取多个页读取时间，以在所述页读取时间大于所述页解码时间阈值的情况下，将所述页读取时间对应的页标记为坏页；

26、闪存分级模块，用于将多个块中包括所述坏页的块标记为坏块，并根据所述坏块的数量将所述闪存颗粒确定为良品、次良品或不良品。

27、第三方面，本发明实施例提供了一种控制器，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面中任意一项实施例所述的基于读取时间的闪存颗粒分级方法。

28、第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令用于执行如第一方面中任意一项实施例所述的基于读取时间的闪存颗粒分级方法。

29、本发明至少具有以下有益效果：本发明提出了一种基于读取时间的闪存颗粒分级方法，通过获取闪存颗粒的码字解码时间，并根据所述码字解码时间确定页解码时间阈值；根据第一写读场景读取所述闪存颗粒的多个块中的多个页，并获取多个页读取时间，以在所述页读取时间大于所述页解码时间阈值的情况下，将所述页读取时间对应的页标记为坏页；将多个块中包括所述坏页的块标记为坏块；根据所述坏块的数量将所述闪存颗粒确定为良品、次良品或不良品，其中，由于在对闪存进行数据读取的过程中，当需要解码时，解码所花费的时间和错误的码字数量有关，即当第一次解码码字不成功时，则需要对该码字第二次解码，故通过对比读取时间和解码时间可以判断单个页中的多个码字是否全部一次性解码成功，若不能全部一次性解码成功，则说明该码字错误较高，进而可以实现根据码字解码时间和页读取时间对所述闪存颗粒的多个块和页进行标记，确认出其中的坏页和坏块，然后根据坏块的数量对闪存颗粒进行分级，进而在不对ecc进行卡控的情况下，简单有效的得到高精度的分级结果，以克服现有方案精度不稳定、样本需求量大和耗时长等问题。

30、本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。