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存储器装置和存储器装置的测试方法与流程

  • 国知局
  • 2024-07-31 19:28:38

发明构思涉及存储器装置,更具体地,涉及在测试模式下具有提高的操作稳定性的存储器装置和测试存储器装置的方法。

背景技术:

1、存储器装置可在大量生产的各种工艺中被测试,并且作为示例,当测试逻辑电路被包括在存储器装置中时,测试操作所必需的各种操作可由测试逻辑电路执行。

2、存储器装置可包括单元阵列和外围电路,并且各种类型的电源电压可被提供给存储器装置中的组件以操作单元阵列、外围电路和测试逻辑电路。在这种情况下,在测试模式下,与单元阵列和外围电路不同,在测试逻辑电路中,电源电压对噪声的灵敏度必须降低以确保测试操作的准确性。

技术实现思路

1、发明构思提供能够基于电源电压在存储器装置中通过其被发送的电力路径的分离来提高测试操作的准确性的储器装置和存储器装置的测试方法。

2、根据发明构思的一些实施例,提供了一种存储器装置,包括:单元阵列,包括多个存储器单元;外围电路,被配置为控制所述多个存储器单元的存储器操作;测试逻辑电路,被配置为在测试模式下操作并且被配置为对所述多个存储器单元执行测试操作;第一调节器,被配置为调节通过第一垫接收的第一电源电压并且将第一电源电压提供给单元阵列和外围电路中的至少一个;以及电源管理器,在第一垫与第一调节器的输入端子之间,并且在第一垫与测试逻辑电路之间,并且被配置为将通过第一电源电压的电力处理操作生成的测试电源电压提供给测试逻辑电路,其中,在测试模式下,当第一调节器的第一目标电压电平波动时,电源管理器的第二目标电压电平维持恒定。

3、根据发明构思的一些实施例,提供一种存储器装置,包括:单元阵列,包括多个存储器单元;外围电路,被配置为控制所述多个存储器单元的存储器操作;测试逻辑电路,在测试模式下操作并且被配置为对所述多个存储器单元执行测试逻辑;第一垫,被配置为从所述存储器装置的外部接收第一电源电压;第二垫,被配置为从所述存储器装置的外部接收具有与第一电源电压不同的电平的第二电源电压;以及电源管理器,被配置为接收第一电源电压或第二电源电压,并且被配置为生成提供给测试逻辑电路的测试电源电压,其中,在测试模式下,测试逻辑电路被配置为通过包括电源管理器的第一电力路径来接收测试电源电压,单元阵列被配置为通过不包括电源管理器的第二电力路径来接收第一电源电压,并且外围电路通过不包括电源管理器的第三电力路径来接收第二电源电压。

4、根据发明构思的一些实施例,提供一种存储器装置的测试方法,所述测试方法包括:通过包括第一调节器的第一电力路径将从存储器装置的外部接收到的第一电源电压提供给单元阵列或外围电路;将第一电源电压提供给在测试模式下启用的电源管理器;以及通过与第一电力路径不同并且包括电源管理器的第二电力路径,将由电源管理器生成的测试电源电压提供给测试逻辑电路,其中,在测试模式下,当第一调节器的第一目标电压电平波动时,电源管理器的第二目标电压电平维持恒定。

技术特征:

1.一种存储器装置,包括:

2.根据权利要求1所述的存储器装置,其中,电源管理器包括:

3.根据权利要求2所述的存储器装置,其中,电压电平调整器包括开关模式电源,并且第二调节器包括低压差调节器。

4.根据权利要求1所述的存储器装置,还包括:

5.根据权利要求4所述的存储器装置,

6.根据权利要求4所述的存储器装置,

7.根据权利要求6所述的存储器装置,其中,电源管理器升高第一电源电压的电压电平,并且然后执行所述调节操作以生成具有与第二目标电压电平对应的电压电平的测试电源电压。

8.根据权利要求1所述的存储器装置,

9.根据权利要求8所述的存储器装置,其中,外围电路还在第一裸片中,并且第一电源电压通过第一调节器被提供给第一裸片中的外围电路。

10.根据权利要求1所述的存储器件,其中,测试逻辑电路包括内置自测试电路,并且内置自测试电路包括用于生成提供给单元阵列的测试模式的模式生成器。

11.根据权利要求1至10中的任何一项所述的存储器装置,

12.根据权利要求1至10中的任何一项所述的存储器装置,

13.一种存储器装置,包括:

14.根据权利要求13所述的存储器装置,

15.根据权利要求13所述的存储器装置,

16.根据权利要求13所述的存储器装置,还包括:

17.根据权利要求16所述的存储器装置,其中,在测试模式下,当调节器的第一目标电压电平波动时,电源管理器的第二目标电压电平维持恒定。

18.一种存储器装置的测试方法,所述测试方法包括:

19.根据权利要求18所述的测试方法,还包括:

20.根据权利要求19所述的测试方法,

技术总结提供存储器装置和存储器装置的测试方法。所述存储器装置包括:单元阵列,包括多个存储器单元;外围电路,被配置为控制所述多个存储器单元的存储器操作;测试逻辑电路,被配置为在测试模式下操作并且被配置为对所述多个存储器单元执行测试操作;第一调节器,被配置为调节通过第一垫接收的第一电源电压并且将第一电源电压提供给单元阵列和外围电路中的至少一个;以及电源管理器,在第一垫与第一调节器的输入端子之间,并且在第一垫与测试逻辑电路之间,并且被配置为将测试电源电压提供给测试逻辑电路。在测试模式下,当第一调节器的第一目标电压电平波动时,电源管理器的第二目标电压电平维持恒定。技术研发人员:朴哉垣,李硕汉受保护的技术使用者:三星电子株式会社技术研发日:技术公布日:2024/1/15

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