测试装置的制作方法

本申请涉及存储设备领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术：

1、pci-express(peripheral component interconnect express，以下简称pcie)技术属于高速串行点对点双通道高带宽传输，信号传输速率快。pcie存储设备在出厂前需要进行测试，常规的测试方式是直接将pcie存储设备批量插接在pc主板上进行测试。

2、目前，由于pc主板上的卡槽数量少，且卡槽的位置固定，导致取放产品操作不方便，不利于批量测试。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种测试装置，可便于存储设备进行批量测试。

2、本申请公开了一种测试装置，所述测试装置用于测试存储设备，所述测试装置包括转接板、测试线组和至少一个测试组件，所述转接板的输入端与pc主板上的卡槽连接，所述转接板的输出端与所述测试组件通过所述测试线组连接，所述测试组件包括测试板和设置在所述测试板上的至少一个测试口，所述测试口与所述测试线组中的测试线一一对应连通，所述测试口用于安装待测存储设备；其中，所述测试线组为柔性件，所述测试组件通过所述测试线组可与所述转接板相对移动。

3、可选的，所述测试线组为柔性线路板，所述柔性线路板包括多条测试线和柔性基底，多条所述测试线并列设置在柔性基底上。

4、可选的，所述测试线组包括多条并列的测试线，多条所述测试线之间彼此独立设置。

5、可选的，所述测试线的两端分别设有连接头，所述测试线通过连接头分别与所述转接板和所述测试组件插接。

6、可选的，所述测试装置包括多个测试组件，多个所述测试组件上下堆叠设置，且相邻所述测试组件通过一支撑件隔开。

7、可选的，所述测试装置只包括一个测试组件，所述测试装置中的所有所述测试口都设置在一个所述测试板上。

8、可选的，所述测试组件还包括至少一个驱动芯片，所述驱动芯片设置在所述测试板上，与所述测试线一一对应设置，所述驱动芯片用于增加所述经过所述测试线的检测信号。

9、可选的，所述转接板上设有多个输入端和多个输出端，多个所述输入端与所述pc主板上的卡槽一一对应连接，多个所述输出端与所述测试线组中的测试线一一对应连接；所述输出端的数量大于所述输入端的数量。

10、可选的，所述测试组件中相邻所述测试口之间的间距，大于相邻所述输出端之间的间距。

11、可选的，所述pc主板上的卡槽为pcie卡槽，所述待测存储设备为pcie固态硬盘。

12、相对于目前直接将存储设备插接到pc主板上进行测试的方案来说，本申请通过增设转接板、测试线组和测试组件，且测试线组为柔性件，测试组件可通过所述测试线组移动，从而不限定测试组件的摆放，使得测试组件不受空间限制，取放存储设备操作方便，方便进行测试，提高测试效率。

技术特征：

1.一种测试装置，用于测试存储设备，其特征在于，所述测试装置包括转接板、测试线组和至少一个测试组件，所述转接板的输入端与pc主板上的卡槽连接，所述转接板的输出端与所述测试组件通过所述测试线组连接，所述测试组件包括测试板和设置在所述测试板上的至少一个测试口，所述测试口与所述测试线组中的测试线一一对应连通，所述测试口用于安装待测存储设备；

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试线组为柔性线路板，所述柔性线路板包括多条测试线和柔性基底，多条所述测试线并列设置在柔性基底上。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试线组包括多条并列的测试线，多条所述测试线之间彼此独立设置。

4.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测试线的两端分别设有连接头，所述测试线通过连接头分别与所述转接板和所述测试组件插接。

5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括多个测试组件，多个所述测试组件上下堆叠设置，且相邻所述测试组件通过一支撑件隔开。

6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置只包括一个测试组件，所述测试装置中的所有所述测试口都设置在一个所述测试板上。

7.如权利要求5或6所述的测试装置，其特征在于，所述测试组件还包括至少一个驱动芯片，所述驱动芯片设置在所述测试板上，与所述测试线一一对应设置，所述驱动芯片用于增加经过所述测试线的检测信号。

8.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述转接板上设有多个输入端和多个输出端，多个所述输入端与所述pc主板上的卡槽一一对应连接，多个所述输出端与所述测试线组中的测试线一一对应连接；所述输出端的数量大于所述输入端的数量。

9.如权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述测试组件中相邻所述测试口之间的间距，大于相邻所述输出端之间的间距。

10.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述pc主板上的卡槽为pcie卡槽，所述待测存储设备为pcie固态硬盘。

技术总结本申请公开了一种测试装置，涉及存储设备领域，所述测试装置用于测试存储设备，所述测试装置包括转接板、测试线组和至少一个测试组件，所述转接板的输入端与PC主板上的卡槽连接，所述转接板的输出端与所述测试组件通过所述测试线组连接，所述测试组件包括测试板和设置在所述测试板上的至少一个测试口，所述测试口与所述测试线组中的测试线一一对应连通，所述测试口用于安装待测存储设备；其中，所述测试线组为柔性件，所述测试组件通过所述测试线组可与所述转接板相对移动。通过上述设计，测试组件可通过所述测试线组移动，从而不限定测试组件的摆放，使得测试组件不受空间限制，取放存储设备操作方便，方便进行测试，提高测试效率。技术研发人员：李华星,俞文全,贺杨鑫受保护的技术使用者：深圳市时创意电子有限公司技术研发日：20230427技术公布日：2024/1/15