FPGA中具备ECC功能的块存储器的测试系统及方法与流程

本文涉及集成电路领域技术，尤指一种fpga中具备ecc功能的块存储器的测试系统及方法。

背景技术：

1、错误检查和纠正(error correcting code，ecc)是一种数据纠错技术，利用冗余的信息位保护数据，在存储单元上增加ecc功能可以提高存储器的可靠性，但是，ecc本身也是逻辑电路，在制造过程中可能出现故障，所以需要一种方法来测试ecc功能是否正确。

2、现有技术往往需要分别一个一个测试具有ecc功能的块存储器，因此在块存储器数量众多时，需要大量的测试激励以及与上位机端口进行频繁交互，因此测试效率十分低下。

技术实现思路

1、本申请提供了一种fpga中具备ecc功能的块存储器的测试系统及方法，根据可编程阵列逻辑(field programmable gate array，fpga)的内部逻辑并利用块存储器中预置的数据就可实现对具有ecc功能的块存储器的测试，因此极大程度地减少了所需要的测试激励量以及与上位机端口的交互，从而极大程度地提高了测试效率。

2、一方面，本申请提供了一种fpga中具备ecc功能的块存储器的测试系统，设置在fpga上，包括：控制模块、至少两个具有错误检查和纠正ecc功能的块存储器、与每个所述块存储器一一对应设置的校验值对比模块，至少两个所述块存储器依次顺序连接形成环形连接结构，每个所述校验值对比模块分别与自身对应的所述块存储器以及相邻的下一个块存储器相连；

3、其中，所述控制模块，用于向每个所述块存储器发送数据读写测试指令；

4、每个所述块存储器，用于根据所述数据读写测试指令依次顺序读取自身中每个存储地址中预置的测试数据，每当读取到一个存储地址中的测试数据，将读取的测试数据写入与所述块存储器自身相邻的下一个块存储器的相应存储地址中，并将读取测试数据时产生的第一校验值发送至与所述块存储器自身对应的所述校验值对比模块；

5、每个所述校验值对比模块，用于获取来自与自身对应的块存储器读取测试数据时产生的第一校验值，以及相邻的下一个块存储器写入测试数据时产生的第二校验值，并比较所述第一校验值与所述第二校验值是否相同。

6、另一方面，本申请提供了一种fpga中具备ecc功能的块存储器的测试方法，应用于前述的fpga中具备ecc功能的块存储器的测试系统，包括：

7、控制模块向每个所述块存储器发送数据读写测试指令；

8、每个所述块存储器，根据所述数据读写测试指令依次顺序读取自身中每个存储地址中预置的测试数据，每当读取到一个存储地址中的测试数据，将读取的测试数据写入与所述块存储器自身相邻的下一个块存储器的相应存储地址中，并将读取测试数据时产生的第一校验值发送至与所述块存储器自身对应的所述校验值对比模块；

9、每个所述校验值对比模块，用于获取来自与自身对应的块存储器读取测试数据时产生的第一校验值，以及相邻的下一个块存储器写入测试数据时产生的第二校验值，并比较所述第一校验值与所述第二校验值是否相同

10、与相关技术相比，本申请包括依次顺序读取自身中每个存储地址中预置的测试数据，每当读取到一个存储地址中的测试数据，将读取的测试数据写入与所述块存储器自身相邻的下一个块存储器的相应存储地址中，并将读取测试数据时产生的第一校验值发送至与所述块存储器自身对应的所述校验值对比模块，以使每个所述校验值对比模块获取来自与自身对应的块存储器读取测试数据时产生的第一校验值，以及相邻的下一个块存储器写入测试数据时产生的第二校验值，并进行比较，因此无需借助外部存储设备，直接利用块存储器中预置的数据就可实现具有ecc功能的块存储器的读写功能的测试，从而极大程度地简化了测试过程。

11、本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。

技术特征：

1.一种fpga中具备ecc功能的块存储器的测试系统，设置在可编程阵列逻辑fpga上，其特征在于，包括：控制模块、至少两个具有错误检查和纠正ecc功能的块存储器、与每个所述块存储器一一对应设置的校验值对比模块，至少两个所述块存储器依次顺序连接形成环形连接结构，每个所述校验值对比模块分别与自身对应的所述块存储器以及相邻的下一个块存储器相连；

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：伪随机序列产生模块；

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，还包括：数据输出对比模块，所述数据输出对比模块分别与伪随机序列产生模块以及至少两个所述块存储器中的最后一个所述块存储器相连；

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，每个所述块存储器根据所述数据读写测试指令依次顺序读取自身中每个存储地址中预置的测试数据，包括：

5.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，还包括：错误比特收集模块，所述错误比特收集模块分别与每个所述块存储器相连；

6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，还包括：校验值对比结果收集模块，所述校验值对比结果收集模块分别与每个所述校验值对比模块相连；

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，

9.根据权利要求3或6所述的系统，其特征在于，所述比较结果包括：通过比较产生的是否一致的标识信息。

10.一种fpga中具备ecc功能的块存储器的测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-9任一项所述的fpga中具备ecc功能的块存储器的测试系统，包括：

技术总结一种FPGA中具备ECC功能的块存储器的测试系统及方法，包括：控制模块、至少两个具有ECC功能且顺序连接成环形的块存储器、与每个块存储器一一对应设置的校验值对比模块，每个校验值对比模块分别与自身对应的块存储器以及相邻的下一个块存储器相连；控制模块，用于向每个块存储器发送数据读写测试指令；每个块存储器，用于顺序读取测试数据，每当读取到一个测试数据，将其写入相邻的下一个块存储器中，并将读取时产生的第一校验值发送至对应的校验值对比模块；每个校验值对比模块，用于对比第一校验值和第二校验值，第二校验值是测试数据写入时产生的。本公开实施例减少了所需要的测试激励量以及与上位机端口的交互，提升了测试效率。技术研发人员：王靖翔,韩月,王政,樊芸婕,王添平,李牛,周奇受保护的技术使用者：上海先基半导体科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15