存储器测试装置的制作方法

本发明涉及存储器测试装置。

背景技术：

1、当存储器装置安装在主板或存储器板上时，安装测试可对存储器装置执行一个或多个测试。然而，存储器装置上的一些操作模式可导致存储器装置的故障。此外，这些操作模式在存储器装置之间可能不同。如果可避免这些模式，则可提高存储器装置的可靠性。然而，目前难以确定这些模式。

技术实现思路

1、本发明的至少一个实施例提供具有提高的存储器测试可靠性的存储器测试装置。

2、根据本发明构思的实施例，提供了一种存储器测试装置，包括命令特征向量提取器和地址特征向量提取器。命令特征向量提取器基于在多个存储器单元之中的存储器单元上执行的命令来提取命令特征向量。地址特征向量提取器基于指示执行所述命令的存储器单元的位置的地址相关信息来提取地址特征向量。可使用命令特征向量和地址特征向量来确定存储器装置上的可导致故障或者缺陷的操作模式。

3、根据本发明构思的实施例，提供了一种存储器测试装置，包括：类别检测器，基于从多个存储器单元的工作负载序列生成的特征向量来将多个存储器单元的工作负载划分为已知工作负载和未知工作负载。工作负载序列包括在所述多个存储器单元之中的存储器单元上执行的命令以及指示执行所述命令的存储器单元的位置的地址相关信息。

4、根据本发明构思的实施例，提供了一种存储器测试装置，包括特征向量提取器和类别检测器，其中，特征向量提取器包括命令特征向量提取器和地址特征向量提取器，命令特征向量提取器被配置为基于由多个存储器单元之中的存储器单元执行的命令来提取命令特征向量，地址特征向量提取器被配置为基于由所述命令访问的存储器单元的地址相关信息来提取地址特征向量，类别检测器基于包括命令特征向量和地址特征向量的特征向量将存储器单元的工作负载分类为已知工作负载和未知工作负载。

技术特征：

1.一种存储器测试装置，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器测试装置，

3.根据权利要求2所述的存储器测试装置，

4.根据权利要求2所述的存储器测试装置，

5.根据权利要求4所述的存储器测试装置，

6.根据权利要求1至5中的任何一项所述的存储器测试装置，

7.根据权利要求6所述的存储器测试装置，

8.根据权利要求7所述的存储器测试装置，

9.根据权利要求6所述的存储器测试装置，

10.根据权利要求9所述的存储器测试装置，

11.一种存储器测试装置，包括：

12.根据权利要求11所述的存储器测试装置，

13.根据权利要求12所述的存储器测试装置，

14.根据权利要求11所述的存储器测试装置，

15.根据权利要求14所述的存储器测试装置，

16.根据权利要求15所述的存储器测试装置，

17.根据权利要求15所述的存储器测试装置，

18.一种存储器测试装置，包括：

19.根据权利要求18所述的存储器测试装置，

20.根据权利要求19所述的存储器测试装置，

技术总结提供了一种存储器测试装置，包括命令特征向量提取器和地址特征向量提取器。命令特征向量提取器基于多个存储器单元之中的存储器单元上执行的命令提取命令特征向量。地址特征向量提取器基于指示执行所述命令的存储器单元的位置的地址相关信息提取地址特征向量。技术研发人员：姜釉,蔡秀炫,朴钟闵,章峻琪,李芝庸,沈秀姸,埃盖·弗拉基米尔·弗拉基米罗维奇受保护的技术使用者：三星电子株式会社技术研发日：技术公布日：2024/1/15