数据输入校验方法及数据输入校验结构与流程
- 国知局
- 2024-07-31 19:32:16
本公开涉及半导体电路设计领域,特别涉及一种数据输入校验方法及数据输入校验结构。
背景技术:
1、存储器的信道的时域响应存在拖尾现象,而拖尾现象会影响到下一个码元数据的输入/输出,也就是常说的码间干扰(inter symbol interference,isi);另外,实际应用场景下,信道的时域响应还存在非理想情况下的串扰和反射等现象,会进一步增大信道的时域响应误差。
2、如何测试存储器的接收器性能,以避免时域响应误差对存储器输入数据的干扰,是当下亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本公开实施例提供一种数据输入校验方法及数据输入校验结构,通过设计一种简单的校验方式,以测试存储器中的接收器的性能,以较低的成本测试接收器的性能,从而避免时域响应误差对存储器数据输入的影响。
2、本公开一实施例提供了一种数据输入校验方法,包括:生成随机组合的输入字符串;基于输入字符串和模拟码间干扰值生成输入至存储器的接收器的测试输入信号,模拟码间干扰值为自存储控制器的输出端传输至接收器的码间干扰的预估值;生成的测试输入信号中,连续且非首次的字符“1”为预设正摆幅,非连续的字符“1”为干扰正摆幅,连续且非首次的字符“0”为预设负摆幅,非连续的字符“0”为干扰负摆幅,预设正摆幅的幅值大于干扰正摆幅的幅值,预设负摆幅的幅值小于干扰负摆幅的幅值;将测试输入信号输入至接收器中,并获取接收器的输出信号;判断输出信号所表征的字符串与输入字符串是否相等,并生成输出信号的眼图。
3、通过输入字符串结合模拟码间干扰值生成测试输入信号,模拟接收器接收被码间干扰影响后的输入数据,以模拟接收器的实际工作状态,通过获取接收器的输出数据转换后的字符串,以获取接收器基于码间干扰影响后的输入数据产生的输出信号,结合输入字符串判断接收器的工作状态,以测试存储器中的接收器的性能,实现以较低的成本测试接收器的性能,从而避免时域响应误差对存储器数据输入的影响。
4、另外,判断输出信号所表征的字符串与输入字符串是否相等,包括:基于存储器可识别的高电平幅值范围和低电平幅值范围,将输出信号转换为输出字符串;判断输出字符串与输入字符串是否相同。
5、另外,干扰正摆幅=预设正摆幅-第一码间干扰摆幅;干扰负摆幅的绝对值=预设幅摆幅的绝对值-第二码间干扰摆幅。
6、另外,在生成输入信号之前,还包括:基于模拟码间干扰值调整并设置第一码间干扰摆幅和第二码间干扰摆幅。通过第一码间干扰摆幅和第二码间干扰摆幅生成的干扰正摆幅和干扰负摆幅,更符合接收器实际接收的输入信号的电平,以提高对接收器校验的准确性。
7、另外,基于输入字符串生成测试输入信号,包括:基于第一变化时间、第二变化时间、第三变化时间、第四变化时间、第五变化时间和第六变化时间生成测试输入信号;第一变化时间为:信号由邻接的前一低电平输入信号上升至高电平拐点的时间,低电平输入信号的幅值为干扰负摆幅或预设负摆幅;第二变化时间为:信号由高电平拐点变化至干扰正摆幅的时间;第三变化时间为:信号由邻接的前一高电平输入信号下降至低电平拐点的时间,高电平输入信号的幅值为干扰正摆幅或预设正摆幅;第四变化时间为:信号由低电平拐点变化至干扰负摆幅的时间;第五变化时间为:信号由干扰正摆幅变化至预设正摆幅的时间;第六变化时间为:信号由干扰负摆幅变化至预设负摆幅的时间。通过第一变化时间、第二变化时间、第三变化时间、第四变化时间、第五变化时间和第六变化时间调节测试输入信号,以进一步调节生成测试输入信号,使得接收器接收的测试输入信号更符合实际情况,提高对接收器校验的准确性;另外,通过微调生成测试输入信号,以使得接收器输出的输出信号满足jedec规定的眼图标准。
8、另外,在生成输入信号之前,还包括:设置并调整第一变化时间、第二变化时间、第三变化时间、第四变化时间、第五变化时间和第六变化时间。
9、另外,在将测试输入信号输入至接收器中之后,且获取接收器的输出信号之前,还包括:基于控制信号选择接收器中判决反馈均衡器的开启或关闭。通过控制信号开启或关闭判决反馈均衡器的开启或关闭,以分别测试开启判决反馈均衡器后接收器的输出状态,以及关闭判决反馈均衡器后接收器的输出状态,以进一步测试存储器中接收器的工作状态是否正常。
10、另外,若判决反馈均衡器开启,则还基于调节信号调节判决反馈均衡器的反馈调节权重。通过调节判决反馈均衡器的反馈调节权重,即调节判决反馈均衡器对接收器接收的输入信号的幅值调整幅度,以进一步测试存储器中接收器在不同反馈调节而权重的判决反馈均衡器的影响下,接收器的工作状态是否正常。
11、本公开另一实施例还提供了一种数据输入校验结构,采用上述实施例提供的数据输入校验方法进行输入校验,包括:数据生成模块,被配置为,生成随机组合的输入字符串,基于输入字符串和模拟码间干扰值生成输入至存储器的接收器的测试输入信号,模拟码间干扰值为自存储控制器的输出端传输至接收器的码间干扰的预估值;接收器用于接收测试输入信号,并根据测试输入信号产生输出信号;判断模块,连接数据生成模块并接收输出信号,被配置为,判断输出信号所表征的字符串与输入字符串是否相等,并生成输出信号的眼图。
12、另外,数据生成模块,包括:字符生成单元,被配置为,生成随机组合的输入字符串;摆幅设置单元,用于存储预设正摆幅、预设负摆幅、第一码间干扰摆幅和第二码间干扰摆幅,预设正摆幅和第一码间干扰摆幅用于生成干扰正摆幅,预设负摆幅和第一码间干扰摆幅用于生成干扰负摆幅;信号生成单元,连接字符生成单元和摆幅设置单元,被配置为,基于预设正摆幅、干扰正摆幅、预设负摆幅、干扰负摆幅和输入字符串生成测试输入信号。
13、另外,摆幅设置单元还被配置为,调节第一码间干扰摆幅的幅值和第二码间干扰摆幅的幅值,或者,调节第一码间干扰幅值与预设正摆幅的比值以及第二码间干扰幅值与预设负摆幅的绝对值的比值。
14、另外,数据输入校验结构,还包括:时间设置单元,用于存储第一变化时间、第二变化时间、第三变化时间、第四变化时间、第五变化时间和第六变化时间;信号生成单元被配置为,基于第一变化时间、第二变化时间、第三变化时间、第四变化时间、第五变化时间和第六变化时间生成测试输入信号。
15、另外,时间设置单元还被配置为,调节第一变化时间、第二变化时间、第三变化时间、第四变化时间、第五变化时间内及第六变化时间。
16、另外,接收器,包括:判决反馈均衡器,用于上拉非连续的字符“1”对应子信号的摆幅,并下拉非连续的字符“0”对应子信号的摆幅;控制模块,被配置为,基于外部指令生成控制信号和调节信号;控制信号用于控制判决反馈均衡器的开启或关闭,调节信号用于调节判决反馈均衡器的反馈调节权重。
技术特征:1.一种数据输入校验方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的数据输入校验方法,其特征在于,所述判断所述输出信号所表征的字符串与所述输入字符串是否相等,包括:
3.根据权利要求1所述的数据输入校验方法,其特征在于,包括:
4.根据权利要求3所述的数据输入校验方法,其特征在于,在生成所述输入信号之前,还包括:基于所述模拟码间干扰值调整并设置所述第一码间干扰摆幅和所述第二码间干扰摆幅。
5.根据权利要求1所述的数据输入校验方法,其特征在于,所述基于所述输入字符串生成所述测试输入信号,包括:基于第一变化时间、第二变化时间、第三变化时间、第四变化时间、第五变化时间和第六变化时间生成所述测试输入信号;
6.根据权利要求5所述的数据输入校验方法,其特征在于,在生成所述输入信号之前,还包括:设置并调整所述第一变化时间、所述第二变化时间、所述第三变化时间、所述第四变化时间、所述第五变化时间和所述第六变化时间。
7.根据权利要求1所述的数据输入校验方法,其特征在于,在将所述测试输入信号输入至所述接收器中之后,且获取所述接收器的输出信号之前,还包括:基于控制信号选择所述接收器中判决反馈均衡器的开启或关闭。
8.根据权利要求7所述的数据输入校验方法,其特征在于,若所述判决反馈均衡器开启,则还基于调节信号调节所述判决反馈均衡器的反馈调节权重。
9.一种数据输入校验结构,采用权利要求1~8任一项所述的数据输入校验方法进行输入校验,其特征在于,包括:
10.根据权利要求9所述的数据输入校验结构,其特征在于,所述数据生成模块,包括:
11.根据权利要求10所述的数据输入校验结构,其特征在于,所述摆幅设置单元还被配置为,调节所述第一码间干扰摆幅的幅值和所述第二码间干扰摆幅的幅值,或者,调节所述第一码间干扰幅值与所述预设正摆幅的比值以及所述第二码间干扰幅值与所述预设负摆幅的绝对值的比值。
12.根据权利要求10所述的数据输入校验结构,其特征在于,还包括:
13.根据权利要求11所述的数据输入校验结构,其特征在于,所述时间设置单元还被配置为,调节所述第一变化时间、所述第二变化时间、所述第三变化时间、所述第四变化时间、所述第五变化时间内及所述第六变化时间。
14.根据权利要求9所述的数据输入校验结构,其特征在于,所述接收器,包括:
技术总结本公开实施例涉及半导体电路设计领域,特别涉及一种数据输入校验方法及数据输入校验结构,包括:生成随机组合的输入字符串;基于输入字符串和模拟码间干扰值生成输入至存储器的接收器的测试输入信号;生成的测试输入信号中,连续且非首次的字符“1”为预设正摆幅,非连续的字符“1”为干扰正摆幅,连续且非首次的字符“0”为预设负摆幅,非连续的字符“0”为干扰负摆幅,预设正摆幅的幅值大于干扰正摆幅的幅值,预设负摆幅的幅值小于干扰负摆幅的幅值;将测试输入信号输入至接收器中,并获取接收器的输出信号;判断输出信号所表征的字符串与输入字符串是否相等。本公开能够通过模拟码间干扰生成的测试输入信号对接收器进行有效验证。技术研发人员:林峰受保护的技术使用者:长鑫存储技术有限公司技术研发日:技术公布日:2024/1/15本文地址:https://www.jishuxx.com/zhuanli/20240731/182975.html
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