刷新时间测试方法、电子设备及存储介质与流程

本申请涉及内存的，更具体地涉及一种刷新时间测试方法、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、服务器、个人计算机等电子设备中设置有动态存储装置，用以为系统获其他程序运行提供临时数据存储媒介。动态存储装置可以是动态随机存取存储器(dynamic randomaccess memory，dram)，动态存储装置的包括多个基础存储单元(cell单元)，多个电容和多个二极管连接形成多个基础存储单元。动态随机存取存储器存储信息时，需要对多个电容进行周期性刷新，即进行周期性的充电，以维持电容内的电平状态，维持基础存储单元中信息的准确存储。

2、目前，动态存储装置的刷新时间普遍采用一标准间隔时间，标准间隔时间是在相关领域内通用的、公知的且符合行业标准的刷新间隔时间。当动态存储装置生产时采用数据保持能力高于相关行业标准的电子元件时，当动态存储装置在常态温度下工作时，动态存储装置在维持对信息的准确存储的前提下所必须的刷新间隔时间大于标准间隔时间。当动态存储装置以标准间隔时间作为刷新间隔时间时，由于对动态存储装置不必要的刷新，会产生更多的性能损耗和功耗浪费。

技术实现思路

1、鉴于以上内容，有必要提供一种刷新时间测试方法、电子设备及存储介质，可以测试动态存储装置在不同温度下所不适用的刷新间隔时间和适用的刷新间隔时间，动态存储装置的刷新间隔时间可以根据测试结果调整，可以减少对动态存储装置不必要的、频繁的刷新，可以减少对动态存储装置刷新产生的性能损耗及功耗浪费。

2、第一方面，本申请的实施例提供一种刷新时间测试方法，用于测试动态存储装置的刷新间隔时间，所述刷新时间测试方法包括：确定待定间隔时间是否满足设备运行条件；当所述待定间隔时间满足所述设备运行条件时，将所述待定间隔时间的数值赋值给结果间隔时间；根据增量规则增大所述待定间隔时间的数值，并再确定所述待定间隔时间是否满足所述设备运行条件；当所述待定间隔时间不满足所述设备运行条件时，确定当前温度是否满足第一温度条件；当所述当前温度满足所述第一温度条件时，修改所述待定间隔时间的数值为初始值；再次确定所述待定间隔时间是否满足所述设备运行条件。

3、可选地，所述刷新时间测试方法还包括：所述刷新时间测试方法还包括：确定所述当前温度是否满足第二温度条件；当所述当前温度满足所述第二温度条件时，根据选值规则在多个所述结果间隔时间中获取目标间隔时间。

4、可选地，所述刷新时间测试方法还包括：当所述待定间隔时间不满足所述设备运行条件时，确定所述结果间隔时间是否为初始值；当所述结果间隔时间不为初始值时，确定所述当前温度是否满足所述第一温度条件。

5、可选地，所述刷新时间测试方法还包括：当所述结果间隔时间不为初始值时，输出提醒信息。

6、可选地，所述确定当前温度是否满足第一温度条件包括：确定所述当前温度是否达到温度序列中的目标温度；当所述当前温度达到所述目标温度时，所述当前温度满足所述第一温度条件。

7、可选地，所述刷新时间测试方法还包括：获取所述当前温度；当所述待定间隔时间不满足所述设备运行条件时，在所述温度序列中获取一大于所述当前温度，且与所述当前温度的差值小于所述温度序列中其他温度与所述当前温度的差值的目标温度。

8、可选地，所述确定所述当前温度是否满足第二温度条件包括：确定所述当前温度是否达到温度序列中的最大温度；当所述当前温度达到所述最大温度时，所述当前温度满足所述第二温度条件。

9、可选地，所述刷新时间测试方法还包括：当所述待定间隔时间不满足所述设备运行条件时，记录所述待定间隔时间为所述当前温度的错误间隔时间。

10、第二方面，本申请的实施例提供一种电子设备，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述存储器存储的所述计算机程序，当所述计算机程序被执行时，所述处理器用于执行如上述任一项所述的刷新时间测试方法。

11、第三方面，本申请的实施例提供一种存储介质，所述存储介质包括计算机程序，当所述计算机程序在电子设备上运行时，使得所述电子设备执行如上述任一项所述的刷新时间测试方法。

12、本申请实现方式提供的刷新时间测试方法、电子设备及存储介质，可以测试动态存储装置在不同温度下所不适用的刷新间隔时间和适用的刷新间隔时间，还可以得到一目标间隔时间作为动态存储装置初始的刷新及间隔时间。可以减少对动态存储装置不必要的、频繁的刷新，可以减少对动态存储装置刷新产生的性能损耗及功耗浪费。

技术特征：

1.一种刷新时间测试方法，用于测试动态存储装置的刷新间隔时间，其特征在于，所述刷新时间测试方法包括：

2.如权利要求1所述的刷新时间测试方法，其特征在于，所述刷新时间测试方法还包括：

3.如权利要求1所述的刷新时间测试方法，其特征在于，所述刷新时间测试方法还包括：

4.如权利要求3所述的刷新时间测试方法，其特征在于，所述刷新时间测试方法还包括：

5.如权利要求1所述的刷新时间测试方法，其特征在于，所述确定当前温度是否满足第一温度条件包括：

6.如权利要求5所述的刷新时间测试方法，其特征在于，所述刷新时间测试方法还包括：

7.如权利要求2所述的刷新时间测试方法，其特征在于，所述确定所述当前温度是否满足第二温度条件包括：

8.如权利要求1所述的刷新时间测试方法，其特征在于，所述刷新时间测试方法还包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括计算机程序，当所述计算机程序在电子设备上运行时，使得所述电子设备执行如权利要求1至8中任一项所述的刷新时间测试方法。

技术总结本申请提供一种刷新时间测试方法、电子设备及存储介质，用于测试动态存储装置的刷新间隔时间，刷新时间测试方法包括：确定待定间隔时间是否满足设备运行条件；当待定间隔时间满足设备运行条件时，将待定间隔时间的数值赋值给结果间隔时间；根据增量规则增大待定间隔时间的数值，并再确定待定间隔时间是否满足设备运行条件；当待定间隔时间不满足设备运行条件时，确定当前温度是否满足第一温度条件；当当前温度满足第一温度条件时，修改待定间隔时间的数值为初始值；再次确定待定间隔时间是否满足设备运行条件。采用本申请的实施例，动态存储装置的刷新间隔时间可以根据测试结果调整，可以减少对动态存储装置刷新产生的性能损耗及功耗浪费。技术研发人员：陈海涛受保护的技术使用者：中山市江波龙电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/2/19