存储卡测试装置的制作方法

本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种存储卡测试装置。

背景技术：

1、存储卡(memory card)是一种利用闪存(flash memory)模块所组成的储存装置。存储卡常见应用于方便携带的多种消费性电子装置中，例如数字相机、音乐播放器及笔记本电脑等。在市面上，这种存储卡又可以分成很多格式，其中较常见的有secure digital(sd)、compactflash(cf)及memory stick(ms)等。

2、为了测试包装好的存储卡是否可以正常的工作，需利用测试治具对存储卡进行多种测试，以依照存储卡的性能对存储卡进行分类。因此如何更准确更有效率地对存储卡进行测试为一重要的课题。

技术实现思路

1、本发明提供一种存储卡测试装置，可准确且有效率地对存储卡进行测试。

2、本发明的存储卡测试装置，用以测试存储卡，存储卡测试装置包括控制电路、电源管理电路、加热器、加热控制电路、第一电阻电路以及电流检测电路。电源管理电路耦接控制电路，受控于控制电路提供测试电源电压给存储卡。加热器用以加热存储卡，并感测存储卡的温度。加热控制电路耦接控制电路与加热器，受控于控制电路控制加热器对存储卡进行加热。第一电阻电路耦接控制电路，控制电路经由第一电阻电路对存储卡进行数据访问控制。电流检测电路耦接电源管理电路、第一电阻电路以及控制电路，受控于控制电路检测流经电源管理电路以及第一电阻电路的电流。

3、在本发明的一实施例中，上述的电源管理电路包括稳压电路、第二电阻电路、反馈电路以及可变电容电路。第二电阻电路耦接于稳压电路的输出端与电源管理电路的输出端之间，稳压电路经由第二电阻电路提供测试电源电压。反馈电路耦接稳压电路的输出端、反馈端以及控制电路，控制电路调整反馈电路的电阻值，以调整测试电源电压的大小。可变电容电路耦接电源管理电路的输出端以及控制电路，控制电路调整可变电容电路的电容值，以调整测试电源电压的升压速度。

4、在本发明的一实施例中，上述的第二电阻电路包括第一切换电路、待机电阻以及操作电阻。操作电阻与待机电阻并联于稳压电路与第一切换电路之间，第一切换电路受控于控制电路将待机电阻或操作电阻连接至存储卡。

5、在本发明的一实施例中，上述的待机电阻的电阻值大于操作电阻的电阻值。

6、在本发明的一实施例中，上述的控制电路包括多个第一信号传输接脚，存储卡包括多个第二信号传输接脚，第一电阻电路包括多个信号传输电阻，多个信号传输电阻分别耦接于对应的第一信号传输接脚与对应的第二信号传输接脚之间。

7、在本发明的一实施例中，上述的电流检测电路包括电流转电压电路、第二切换电路以及第三切换电路。第二切换电路耦接待机电阻、操作电阻、上述多个信号传输电阻的一端、控制电路以及电流转电压电路，第二切换电路受控于控制电路将电流转电压电路连接至待机电阻、操作电阻、上述多个信号传输电阻其中之一。第三切换电路耦接第一切换电路、上述多个信号传输电阻的另一端、控制电路以及电流转电压电路，第三切换电路受控于控制电路将电流转电压电路切换连接至第二切换电路所连接的电阻，电流转电压电路将流经电流转电压电路所连接的电阻的电流信号转换为电压信号。

8、在本发明的一实施例中，上述的电流转电压电路包括运算放大器，其正、负输入端分别耦接第二切换电路与第三切换电路，依据电流转电压电路所连接的电阻两端的电压产生电压信号。

9、在本发明的一实施例中，上述的电流转电压电路还包括模拟数字转换电路，其耦接运算放大器的输出端，将电压信号转换为数字信号。

10、在本发明的一实施例中，上述的反馈电阻电路包括第一电阻、第二电阻、多个开关以及多个第三电阻。第二电阻与第一电阻耦接于稳压电路的输出端与接地之间，第一电阻与第二电阻的共同接点耦接稳压电路的反馈端。上述多个开关耦接控制电路，上述多个开关的导通状态受控于控制电路。上述多个第三电阻与对应的开关串接于稳压电路的反馈端与接地之间。

11、在本发明的一实施例中，上述的电容电路包括第一电容、多个开关以及多个第二电容。第一电容耦接于电源管理电路的输出端与接地之间。多个开关耦接控制电路，上述多个开关的导通状态受控于控制电路。上述多个第二电容与对应的开关串接于电源管理电路的输出端与接地之间。

12、基于上述，本发明实施例的存储卡测试装置可控制电源管理电路、加热器以及电流检测电路调整存储卡的测试参数并测量对应的测试结果，通过将电源管理电路、加热器以及电流检测电路整合至存储卡测试装置中，可准确且有效率地对存储卡进行测试，提高对存储卡进行分类的效率。

13、为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

技术特征：

1.一种存储卡测试装置，用以测试存储卡，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述电源管理电路包括：

3.根据权利要求2所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述第二电阻电路包括：

4.根据权利要求3所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述待机电阻的电阻值大于所述操作电阻的电阻值。

5.根据权利要求3所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述控制电路包括多个第一信号传输接脚，所述存储卡包括多个第二信号传输接脚，所述第一电阻电路包括：

6.根据权利要求5所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述电流检测电路包括：

7.根据权利要求6所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述电流转电压电路包括：

8.根据权利要求7所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述电流转电压电路还包括：

9.根据权利要求2所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述反馈电阻电路包括：

10.根据权利要求2所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述电容电路包括：

技术总结本发明提供一种存储卡测试装置。电源管理电路受控于控制电路提供测试电源电压给存储卡。加热控制电路受控于控制电路控制加热器对存储卡进行加热。控制电路经由第一电阻电路对存储卡进行数据访问控制。电流检测电路受控于控制电路检测流经电源管理电路以及第一电阻电路的电流。技术研发人员：邱景泓受保护的技术使用者：点序科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/2/19