EFUSE纠错方法、装置、存储介质及电子设备与流程

本申请涉及存储，具体涉及一种efuse纠错方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术：

1、efuse是一种一次性编程存储器，存储值的改变主要是通过强电流使熔丝产生电子迁移(em)，从而将熔丝熔断的方式实现。但随着时间的流逝，编程期间产生的“熔丝碎屑”会反向生长，导致断开的熔丝会再次连接，从而改变原本所存储的编程值，该现象称为efuse的老化失效。特别是对于大容量efuse，其efuse出现老化失效的概率更高。

2、efuse通常在芯片的启动过程中，为芯片提供重要的配置信息，保证芯片的正常运行。而efuse一旦失效，会影响芯片的正常功能，甚至使得芯片无法上电成功。大容量efuse通常对应昂贵芯片以及昂贵的终端产品，一旦efuse失效，经济损失较大。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种efuse纠错方法、装置、存储介质及电子设备，可以提高efuse的使用寿命。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种efuse纠错方法，包括：

3、在efuse上电启动后，读取所述efuse的原始数据，所述原始数据包括数据字段和多个纠错字段；

4、逐一对多个所述纠错字段进行合法性验证，以确定合法纠错字段；

5、利用所述合法纠错字段对所述数据字段中的异常比特进行纠错处理；

6、对纠错处理后的所述数据字段进行ecc校验，得到校验结果；

7、当所述校验结果为第一校验结果时，对所述数据字段进行ecc纠错，并将ecc校验所确定的异常比特的位置信息及其奇偶校验位烧写至未被使用的纠错字段中。

8、在本申请实施例提供的efuse纠错方法中，所述逐一对多个所述纠错字段进行合法性验证，以确定合法纠错字段，包括：

9、逐一判断多个所述纠错字段是否被使用；

10、将多个所述纠错字段中被使用的纠错字段作为备选纠错字段；

11、判断所述备选纠错字段是否有错；

12、将无错的所述备选纠错字段作为合法纠错字段。

13、在本申请实施例提供的efuse纠错方法中，所述判断所述备选纠错字段是否有错，包括：

14、对所述备选纠错字段进行奇偶校验；

15、若校验成功，则确定所述备选纠错字段无错；

16、若校验失败，则确定所述备选纠错字段有错。

17、在本申请实施例提供的efuse纠错方法中，所述利用所述合法纠错字段对所述数据字段中的异常比特进行纠错处理，包括：

18、根据所述合法纠错字段中存储的异常位置，确定所述合法纠错字段所对应的异常比特；

19、对所述异常比特的值进行翻转，以实现纠错处理。

20、在本申请实施例提供的efuse纠错方法中，在所述当所述校验结果为第一校验结果时，对所述数据字段进行ecc纠错之后，还包括：

21、对所述ecc纠错后产生的异常位置进行奇偶校验，生成奇偶校验位；

22、按照预设策略将所述位置信息和所述奇偶校验位烧写至未使用的所述纠错字段中。

23、在本申请实施例提供的efuse纠错方法中，还包括：

24、当多个所述纠错字段均未被使用时，对所述数据字段进行ecc校验。

25、在本申请实施例提供的efuse纠错方法中，还包括：

26、当所述校验结果为第二校验结果时，确定所述数据字段可正常使用；

27、当所述校验结果为第三校验结果时，确定无法对所述数据字段进行纠错，产生中断，并生成错误报告进行上报。

28、第二方面，本申请实施例提供了一种efuse纠错装置，包括：

29、接口模块，所述接口模块与efuse连接；

30、烧写控制器，所述烧写控制器与所述接口模块连接；

31、读控制器，所述读控制器与所述接口模块连接；

32、第一纠错模块，所述第一纠错模块与所述读控制器连接；

33、第二纠错模块，所述第二纠错模块分别与所述第一纠错模块及所述烧写控制器连接；

34、主控制器，所述主控制器分别与所述烧写控制器、所述读控制器、所述第一纠错模块及所述第二纠错模块连接，所述主控制器用于对所述烧写控制器、所述读控制器、所述第一纠错模块及所述第二纠错模块进行控制，以执行上述任一项所述的efuse纠错方法。

35、第三方面，本申请提供了一种存储介质，所述存储介质存储有多条指令，所述指令适于处理器进行加载，以执行上述任一项所述的efuse纠错方法。

36、第四方面，本申请提供了一种电子设备，包括存储器，处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述的efuse纠错方法。

37、综上所述，本申请实施例提供的efuse纠错方法通过在efuse上电启动后，读取所述efuse的原始数据，所述原始数据包括数据字段和多个纠错字段；逐一对多个所述纠错字段进行合法性验证，以确定合法纠错字段；利用所述合法纠错字段对所述数据字段中的异常比特进行纠错处理；对纠错处理后的所述数据字段进行ecc校验，得到校验结果；当所述校验结果为第一校验结果时，对所述数据字段进行ecc纠错，并将ecc校验所确定的异常比特的位置信息及其奇偶校验位烧写至未被使用的纠错字段中。本方案通过将efuse的原始数据划分为数据字段和多个纠错字段，然后利用纠错字段对数据字段进行纠错处理，同时利用ecc进行检错和纠错，并将ecc所纠错的异常比特的位置信息及其奇偶校验位烧写至未被使用的纠错字段中。如此，在efuse下次上电启动时，此次ecc所纠错的异常比特将由纠错字段进行纠错，此时，ecc被释放出来，可以对新出现的异常比特进行纠错。避免出现由于失效的位数超过ecc所能纠错的范围，无法进行纠错，导致efuse老化失效的问题，进而提高efuse的使用寿命。

技术特征：

1.一种efuse纠错方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的efuse纠错方法，其特征在于，所述逐一对多个所述纠错字段进行合法性验证，以确定合法纠错字段，包括：

3.如权利要求2所述的efuse纠错方法，其特征在于，所述判断所述备选纠错字段是否有错，包括：

4.如权利要求1所述的efuse纠错方法，其特征在于，所述利用所述合法纠错字段对所述数据字段中的异常比特进行纠错处理，包括：

5.如权利要求1所述的efuse纠错方法，其特征在于，在所述当所述校验结果为第一校验结果时，对所述数据字段进行ecc纠错之后，还包括：

6.如权利要求2所述的efuse纠错方法，其特征在于，还包括：

7.如权利要求1所述的efuse纠错方法，其特征在于，还包括：

8.一种efuse纠错装置，其特征在于，包括：

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有多条指令，所述指令适于处理器进行加载，以执行权利要求1-7任一项所述的efuse纠错方法。

10.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任一项所述的efuse纠错方法。

技术总结本申请公开了一种EFUSE纠错方法、装置、存储介质及电子设备，其中，该EFUSE纠错方法包括在EFUSE上电启动后，读取EFUSE的原始数据，原始数据包括数据字段和多个纠错字段；逐一对多个纠错字段进行合法性验证，以确定合法纠错字段；利用合法纠错字段对数据字段中的异常比特进行纠错处理；对纠错处理后的数据字段进行ECC校验，得到校验结果；当校验结果为第一校验结果时，对数据字段进行ECC纠错，并将ECC校验所确定的异常比特的位置信息及其奇偶校验位烧写至未被使用的纠错字段中。本方案可以提高EFUSE的使用寿命。技术研发人员：朱洪宇,杜锐锋,鲁宏涛,张庆,邹建发受保护的技术使用者：珠海正和微芯科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/29